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微孔滤膜制片X射线荧光光谱法测定矿石中银
引用本文:郑厚琳,秦星临.微孔滤膜制片X射线荧光光谱法测定矿石中银[J].岩矿测试,1992,11(3):217-220.
作者姓名:郑厚琳  秦星临
作者单位:中国有色金属工业总公司北京矿产地质研究所 100012 (郑厚琳),中国有色金属工业总公司北京矿产地质研究所 100012(秦星临)
基金项目:有色总公司科研基金项目内容之一
摘    要:在氨性介质中以水合联氨还原,Au兼作载体和内标,微孔滤膜制片,XRF测定Ag的方法应用于银矿标准物质及铜矿、铅锌矿、低品位金矿样品中x~xxxμg/g含量Ag的测定。分析结果的RSD优于3%,准确度与常规方法相当。

关 键 词:矿石    X射线  荧光光谱  微孔滤膜

X-Ray Fluorescence Spectrometric Determination of Silver in Ores Following Precipitation on Microporous Film
Zheng Honlin,Qin Xinglin.X-Ray Fluorescence Spectrometric Determination of Silver in Ores Following Precipitation on Microporous Film[J].Rock and Mineral Analysis,1992,11(3):217-220.
Authors:Zheng Honlin  Qin Xinglin
Abstract:
Keywords:hydrazine hydrate  reduction  precipitate  microporous film  X-ray fluorescence spectrometry (XRF)  silver
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