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| 氯化反应在发射光谱分析上的应用—同时测定化探样品中十个痕量元素 | |
| 引用本文： | 丁宝卿.氯化反应在发射光谱分析上的应用—同时测定化探样品中十个痕量元素[J].岩矿测试,1987(4):274-278. |
| 作者姓名： | 丁宝卿 |
| 作者单位： | 有色金属总公司广东地质研究所 |
| 摘 要： | 本方法提出化探样品中测定十个痕量元素(W、Bi、Ag、Ga等)。这些在矿物中的痕量元素和化学反应剂,在电极高温电弧中立即转化成易挥发的化合物。然后达到与基体元素有效的分离。十个元素测定下限为(ppm):W1,Tl1,Cdl,Bi0.3,Ga0.3,In 0.3,Ge 0.3,Mo 0.3,Sn0.3,Ag 0.01。 |
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