298颗VLBA校准源的射电成图和结构效应分析

为了提高甚长基线阵列(very long baseline array, VLBA)校准射电源位置的精度,建立新一代的国际天球参考架(international celestial reference frame, ICRF),VLBA开展了第二个历元校准源巡天观测(VLBA calibrator survey Ⅱ, VCS-Ⅱ)。BG219I是其中第8组观测,共有298颗射电源在S和X双波段被成功检测到,其中48颗是首次被检测到的射电源。给出了这298颗射电源的成图结果,并根据它们的亮度分布,用δ函数分量建模,计算出这些射电源的结构时延和结构指数。研究了致密度跟结构指数的关系,发现结构指数越小的射电源,具有越大的致密度。还统计了21颗谱指数小于-0.8的陡谱射电源,发现它们在单个波段或者两个波段的结构指数均超过3.0,表明这些射电源不够致密,因而不适合高精度的天体测量。最后,研究了射电源的位置精度与结构指数的关系,发现射电源的位置精度随着结构指数的变大而逐渐降低。