锡石中Nb、Ta、Ge、In、Ag、Sc等十二个微痕量元素的光谱测定法

锡石单矿物中的微痕量元素,用化学方法测定时,由于样品不易分解,难于获得理想的结果。应用光谱法测定,虽具有取样少、多种元素能同时测定等优点,但Sn的强扩散线3262(?)、3175(?)、3034(?)、2840(?)、2706(?)、2661(?)所产生的强背景,给测定某些痕量元素(特别是In、Ge、Nb、Ta、Cc、Ag等)带来很大的困难。我们通过对缓冲剂及电极形状等工作条件的选择,利用分馏效应采用两段曝光的办法,避免了基体元素Sn的干扰影响,