| 同步辐射X射线荧光微探针技术中地质标样的研究 |
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| 引用本文： | 安庆骧 巢志瑜. 同步辐射X射线荧光微探针技术中地质标样的研究[J]. 岩矿测试, 1992, 11(3): 252-255 |
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| 作者姓名： | 安庆骧 巢志瑜 |
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| 作者单位： | 地矿部岩矿测试技术研究所，地矿部岩矿测试技术研究所，中国科学院高能物理所，中国科学院高能物理所 北京 100037，北京 100037，北京 100039，北京 100039 |
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| 基金项目： | 国家自然科学基金资助项目。 |
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| 摘 要： | 将国家级标样GSR-1至GSR-7研磨至颗粒度<2μm,在大气光路中以光斑尺寸为100μm×l00μm的同步辐射X射线(白光)激发,si(Li)半导体探测器采集荧光信号。研究了这些岩石标样中元素(K、Ca、Ti、Mn、Fe、Zn、Rb、sr、Zr)的X射线荧光强度平均值的相对标准偏差与取样量(点数或面积)的关系,测算了使用这套国家岩石标准样的取样量(点数或面积),并确定了实用的测量方法。为同步辐射X射线荧光微探针扫描技术提供一套(7个)适用的岩石标准样。
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| 关 键 词： | 岩石 地质标样 X光探针 同步辐射 |
Use of Geological Standard Reference Materials in Synchrotron Radiation X-Ray Fluorescence Microprobe Technique |
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| An Qingxiang and Zhan Xiuchun. Use of Geological Standard Reference Materials in Synchrotron Radiation X-Ray Fluorescence Microprobe Technique[J]. Rock and Mineral Analysis, 1992, 11(3): 252-255 |
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| Authors: | An Qingxiang and Zhan Xiuchun |
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| Abstract: | |
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| Keywords: | synchrotron radiation X-ray fluorescence microprobe geological standard reference material |
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