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SZC16-1型温度剖面仪测量电路可靠性预计研究
引用本文:方芳,张鹏.SZC16-1型温度剖面仪测量电路可靠性预计研究[J].海洋技术,2011,30(2):88-90,122.
作者姓名:方芳  张鹏
作者单位:国家海洋技术中心,天津,300112
摘    要:文中主要以SZC16-1型XBT测量电路为例,从固有可靠性预计的理论基础出发,通过对基本元器件、单元电路及整个可靠度的计算,给出了目前该型号XBT测量电路的可靠性参数,同时阐述了硬件电路可靠性研究的方法和步骤.

关 键 词:XBT  测量电路  可靠性预计

Study on Reliability Prediction of Measurement Circuit for SZC16-1 XBT
FANG Fang,ZHANG Peng.Study on Reliability Prediction of Measurement Circuit for SZC16-1 XBT[J].Ocean Technology,2011,30(2):88-90,122.
Authors:FANG Fang  ZHANG Peng
Abstract:
Keywords:
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