粉末压片——X射线荧光光谱线性扫描在岩石矿物全分析中的应用

本论文提出用粉末压片X射线荧光光谱线性扫描法进行未知样品无标样测定,通过与经典方法测试结果计算相对偏差和相对允许偏差的合格率,表明其检测结果的准确,使用该方法进行全分析比经典方法更准确更效率。