一种提高含边界扫描器件电路板在线测试速度的新方法

在包含有边界扫描器件的电路板在线测试 (In Circuit Test,ICT)中 ,采用边界扫描技术可以简化高密度集成电路的测试矢量生成。但如何在 ICT中减少边界扫描测试矢量从而提高测试速度 ,是 1个重要问题。本文结合 1个实例 ,讨论在 ICT中 ,采用伪穷举法与 Delta Scan法相结合 ,在保证原错误覆盖率不变的情况下减少测试矢量数 ,增加测试速度的方法。