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1.
ZSX100e型X射线荧光光谱仪光路系统故障分析
陶迪
邓赛文
王笑笑
周超
《岩矿测试》
2014,33(5):773-774
正X射线荧光光谱分析具有分析元素范围广、分析含量范围宽、分析精度高、重现性好等优点,属于非破坏性分析,可进行薄膜的组分和厚度的分析,易于实现自动化及在线分析,被广泛应用于电子和磁性材料、化学工业、陶瓷和水泥工业、钢铁工业、非铁合金、地质矿产、石油和煤、环境等领域。X射线荧光光谱仪基本由五大部分组成,即激发系统、分光系统、探测系统、仪器控制系统和数据处理系统等。分光系统是对来自样品元素的特征谱线进行分辨和限
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