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本义对前期[1][2]的理论分析成果进行修改和验证。前期曾用大量文献上的晶体结构参数仅演为理论的X射线树木图,从中选出若干条特征峰,用逐步回归方法对其强度比与钙质闪石的11种阳离子占位度问,建立一系列经验公式,用以估算未知的钙质冈石样品阳离子占位度,精度在85%-98%之间,多数阳离子精度超过90%.在闪石晶体化学研究上具有重要意义的阳离子如M1、M3位中Mg、Fe2+、A位的K、三缺值Em及万位的Si等精度均超过90%;晶体化学类型定名的准确度达85%。成果表明,利用X射线衍射法估算闪石的阳离子占位在理论上是可能的。但还有待于用实测数据检验其可行性。本次工作的日的,便是以实测数据来验证前期理论成果并确定其可靠性。通过反复改变衍射圈上特征反射的选择和改变样本数,以实测结果验证各种组合建立的线性模型,所估算的各品位各种阳离子占位数的准确度在78%-96%之间,大多数大于80%,接近或超过90%的有八位的K、空缺值Em、位的Mg、Fe没+及T位的Si等。晶体化学类型定名的准确度可达80%。但在建立线性模型时,必须将理沦计算的粉末国与实测阁一起进行统计。所选用的实测样品愈多,该族矿物种后愈广... 相似文献
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前言折光率测定是鉴定与研究透明矿物的主要方法之一,但我国尚无折光率浸油的专门生产,而在文献资料中又缺乏高(n>1.740)、低折光率(n<1.450)浸油的实际配制方法介绍。因此提出本文,供有关同志参考。 相似文献
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