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1.
本义对前期[1][2]的理论分析成果进行修改和验证。前期曾用大量文献上的晶体结构参数仅演为理论的X射线树木图,从中选出若干条特征峰,用逐步回归方法对其强度比与钙质闪石的11种阳离子占位度问,建立一系列经验公式,用以估算未知的钙质冈石样品阳离子占位度,精度在85%-98%之间,多数阳离子精度超过90%.在闪石晶体化学研究上具有重要意义的阳离子如M1、M3位中Mg、Fe2+、A位的K、三缺值Em及万位的Si等精度均超过90%;晶体化学类型定名的准确度达85%。成果表明,利用X射线衍射法估算闪石的阳离子占位在理论上是可能的。但还有待于用实测数据检验其可行性。本次工作的日的,便是以实测数据来验证前期理论成果并确定其可靠性。通过反复改变衍射圈上特征反射的选择和改变样本数,以实测结果验证各种组合建立的线性模型,所估算的各品位各种阳离子占位数的准确度在78%-96%之间,大多数大于80%,接近或超过90%的有八位的K、空缺值Em、位的Mg、Fe没+及T位的Si等。晶体化学类型定名的准确度可达80%。但在建立线性模型时,必须将理沦计算的粉末国与实测阁一起进行统计。所选用的实测样品愈多,该族矿物种后愈广...  相似文献   
2.
刘万余  石桂华 《地质论评》1964,22(4):267-275
前言折光率测定是鉴定与研究透明矿物的主要方法之一,但我国尚无折光率浸油的专门生产,而在文献资料中又缺乏高(n>1.740)、低折光率(n<1.450)浸油的实际配制方法介绍。因此提出本文,供有关同志参考。  相似文献   
3.
闪石族11—12种阳离子占位的X射线衍射估算   总被引:1,自引:0,他引:1  
本文扼要地介绍了用X射线衍射强度数据估算闪石族矿物各阳离子占位的方法。实测数据证实,这不权在理论上是可能的,而且在实验上也是可行的。无论是钙质闪石还是碱性闪石,估算精度多数达到90%左右,可满足晶体化学研究之需。以估算的占位数按国际分类表判定的闪石种属与按成分分析的相比,两者的符合率达80%~85%,从而否定了前辈学者“闪石族不能用X射线粉末法研究”的断言,在这一问题上取得了突破性进展。  相似文献   
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