排序方式: 共有2条查询结果,搜索用时 46 毫秒
1
1.
作者首次使用激光微区质谱技术分析了煤中有机显微组分,描述了其谱图特征,发现不同地区煤样和同一地区煤样的不同显微组分其激光微区质谱(LAMMS)特征不同,反映了它们化学成分和结构上的差异。作者还将激光微区质谱技术(LAMMS)与飞行时间二次离子质谱(TOFSIMS)技术的优缺点作了初步对比,认为TOFSIMS/LAMMS两种技术结合起来是煤的微区分析较好的选择。 相似文献
2.
笔石组成与结构的微区分析 总被引:4,自引:0,他引:4
采用显微傅立叶红外光谱(Micro-FT-IR)和装有液体金属离子枪的高分辨飞行时间二次离子质谱仪(TOF-SIMS)首次研究了笔石的化学组成与结构。Micro-FT-IR谱图在1680~1740cm-1和1000~1320cm-1范围内吸收强度高,而1600cm-1处吸收强度低.表明笔石是由含N、O等杂质原子基团的高分子聚合物组成,且该笔石热演化程度不高;TOF-SIMS谱图表明,笔石的二次离子峰主要集中在较低质量数处,在高质量数峰强度低,且M/Z43,105,135等峰强度高,亦证实笔石的上述组成特点。研究结果表明Micro-FT-IR和TOF-SIMS技术是煤及源岩显微组分微区成分分析的有力工具。 相似文献
1