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911.
建立了玻璃熔片-X射线荧光光谱测定进出口矾土中主、次量组分的分析方法,用可变α系数校正元素基体效应,同时进行谱线重叠校正。利用高纯化学试剂配制合成标准参考物质,球磨机混匀,熔融玻璃片法制备系列校准样片,用X射线荧光光谱法对样品中的二氧化硅、三氧化二铁、三氧化二铝、氧化钙、氧化镁、氧化钾、五氧化二磷、二氧化钛进行测定。方法回收率为98.1%~111.0%,经国家铝矾土标准物质GBW 07178、GBW 07179验证,结果与标准值基本一致。建立的方法解决了测试过程中标准样品种类和数量不足的难题。 相似文献
912.
水质评价中熵权反映了各项评价指标对评价结果的影响程度.为分析熵权对指标极差变化的敏感性,采用VisualBasic编程和曲线拟合的方法,对单指标和多指标极差变化对权重的影响进行了研究.结果表明:在指标最大值、最小值不变的情况下,随着样本数的增加,各指标权重虽有变化,但变幅较小,可见小样本求得的熵权可以反映指标的重要性.当样本数确定时,仅改变单项指标的最大值或最小值,越小越优型指标的权重对最大值变化的敏感性大于对最小值变化的敏感性.多项指标同倍数增大时,2倍最大值是权重变化的特征点. 相似文献
913.
元素分析仪-气体同位素质谱法分析硫酸钙样品的硫同位素组成 总被引:1,自引:1,他引:1
硫酸盐硫同位素的常规分析方法是将硫酸盐转化为硫酸钡后搭配双路进样SO2法,该法易于操作、数据稳定,但样品用量大、费时费力,需要繁杂的前处理,无法满足微量分析发展方向的需求。本文以石膏为例,以元素分析仪-气体同位素质谱法(EA-IRMS)直接测定硫酸钙样品硫同位素比值,对同一样品分别采用:①硫酸钙与V2O5混合后包裹于锡杯中密封,直接进行元素分析仪-气体同位素质谱分析;②硫酸钙充分溶于去离子水中,向溶有硫酸钙样品的液体中加入沉淀试剂BaCl2,将生成的硫酸钡沉淀滤出后,用去离子水清洗2~3遍,烘干后与V2O5混合包裹于锡杯中密封再进行质谱测定。实验选取了13件δ34S值变化范围介于-20‰^+30‰之间的天然石膏样品,将获得的硫同位素比值进行对比,二者δ34SV-CDT绝对差值在0.00‰~0.24‰,表明同一样品的硫同位素比值结果在误差范围内基本一致。与常规分析方法相比,本文建立的直接在线分析时无需任何化学前处理,只需直接加入适量的V2O5,V2O5和氧气中的外部氧在瞬间燃烧的过程中替代了硫酸钙本身的氧,生成的SO2气体的氧是均一的,其硫同位素比值能代表样品的硫同位素组成,无需进行氧同位素的校正。经过验证表明,硫酸钙样品的直接在线分析是完全可行的。 相似文献
914.
用D201阴离子交换树脂富集样品中的痕量Cd,使Cd与共存干扰元素Cu、Ni、Pb、Zn有效分离,消除了这些元素对镉蒸气发生的干扰,从而建立了断续流动在线分离富集-蒸气发生原子荧光光谱法测定复杂环境样品中痕量Cd的分析方法。方法的检出限为3ng/L(3σ);测定精密度(RSD)为1.9%(对1μg/L Cd,n=11)。用该方法对国家一级标准物质(土壤、水系沉积物和岩石)中的痕量镉进行了测定,结果与标准值相符。 相似文献
915.
916.
用冷蒸气原子荧光法测量地球化学样品中痕量汞,对载气流量、试液酸度、硼氢化钾浓度等进行了试验。工作曲线线性范围为0~4μg/L,方法检出限为0.002 3μg/g,精密度RSD%为1.1~5.0。方法用国家一级地球化学标准物质中汞的测定,结果与标准值一致。 相似文献
917.
918.
地幔流体组成 总被引:50,自引:4,他引:50
地幔流体是当今地球科学研究中的前沿领域之一 ,具有重要的研究价值。文中总结了地幔流体组成研究的手段、实验方法及近年来的进展 ,探讨了目前存在的问题 ,认为当前需进一步工作的领域有 :(1)确定适宜于地幔流体组成测定的实验方法 ,以便进行全球数据对比 ;(2 )开展不同类型地幔源区中地幔流体稀有气体同位素体系与PbSrNdHfOs同位素体系的对比性研究 ;(3)对不同构造单元中的地幔流体进行研究 ,建立不同端员地幔源区的地幔流体组成和稳定同位素制约因素 ;(4 )研究壳幔相互作用过程中的地幔流体 ,确定地幔流体中再循环地壳组分的鉴别标志 ;(5)在全球范围内探讨地质历史时期地幔流体的组成、性质、运移及演化规律 ;(6 )开展幔源H2 及烃类的研究 ,为非生物成因天然气理论及勘探提供依据。 相似文献
919.
生态地球化学土壤样品元素形态分析方法研究 总被引:19,自引:6,他引:19
对生态地球化学土壤样品,采用振荡提取法提取样品中离子交换态(包括水溶态)、碳酸盐结合态、腐殖酸结合态、铁锰氧化物结合态、强有机质结合态(包括部分硫化物);采用等离子体发射光谱法测定其中Cd、Co、Cr、Cu、Mn、Mo、Ni、Pb、Zn,原子荧光光谱法测定As、Hg、Sb、Se。方法的质量参数满足生态地球化学土壤样品评价形态分析的需要。 相似文献
920.
地质样品痕量氯溴和硫的X射线荧光光谱法测定 总被引:16,自引:8,他引:16
报道了粉末压样-X射线荧光光谱法测定地质样品中痕量Cl、Br、S的分析方法。采用水系沉积物、岩石和土壤等国家一级标准物质进行校准。实验表明,对于不同岩性样品中Br的分析,特别是当Br的含量低于2μg/g时,采用谱峰强度(未扣除背景)与背景强度的比进行校准所得到的结果,明显优于铑靶线的Compton散射线内标法,分析精度(RSD,n=6)为2.4%-15.3%,大多数优于10%;平均值的相对误差低于24%。对于Cl的分析,只需对Ca的影响加以校正即可得到非常好的结果;不同样品中Cl的分析精度(RSD,n=6)为2.1%-13.6%,大多数优于5%;平均值的相对误差不大于25%,多数优于10%。S的校准曲线的离散性较大,矿物学效应是影响S分析准确度的主要因素,其分析精度(RSD,n=6)为0.87%-5.6%,除个别样品外,平均值的相对误差优于36%。Cl和S均存在分析结果随测量时间(次数)的增加而增高的现象,必须在制样后立即测量。方法的检出限(μg/g)Br、Cl、S分别为0.43、5.8和2.2。 相似文献