电离层水平不均匀性对无线电掩星资料反演的影响

电离层水平不均匀结构是引起掩星资料反演的主要误差源.本文模拟不均匀结构对无线电掩星资料反演的影响.首先利用3-D全球射线追踪技术进行了模拟.结果指出:电离层电子密度20%的变化可能引起GPS的时延增加约12m.其次,将90%的掩星时延对应的路径长度,定义为电离层掩星测量的水平分辨率,其值为1200-2000 km.最后,计算了不同纬度电离层当地正午、子夜和日出时的电离层水平不对称指数.它表明:低纬夏季日出时,不对称指数达-78%,反演结果可能有较大误差.     

不同浓度Li2SO4水溶液结构的X射线衍射研究

用θ～ 2θ型粉末衍射仪反射法精确测量了不同浓度的Li2 SO4水溶液的衍射数据 ,通过数据处理给出了溶液的结构函数和径向分布函数 ,由几何结构模型的最小二乘法精修 ,得到了溶液中阳离子和阴离子第一、二水合层的结构参数。     

剥片高岭土的有机改性

用醋酸钾进行插层形成高岭土—醋酸钾复合体。通过X射线检测，高岭土层间距明显增大。将此复合体通过水洗，除去醋酸钾，高岭土即被剥片。剥片后高岭土粒径变小，但保持了高岭土的基本层状结构。用偶联剂对剥片后高岭土进行有机改性，形成高岭土有机复合物。“有效活化指数”的测定实验表明，利用此种方法制备的剥片高岭土有机改性效果很好。     

An X-Ray Diffraction Study of an Inclusion in Diamond from the Luobusha Chromite Deposit in Tibet, China

Diamond was found in podiform chromitites of ophiolite and harzburgite from Luobusha, Tibet. There are silicate inclusions in some diamond grains from this area. In the present work, the CCD (charge coupled detector) technology of X-ray powder diffraction was applied to the study of the inclusion in diamond from the ophiolite of Tibet. Diffraction patterns are obtained even though the inclusion is only 20 μm in crystal size. The results show that the inclusion in diamond consists of talc and clinochrysotile. Therefore, it is clear that the diamond from the ophiolite of Luobusha, Tibet, is natural diamond rather than a synthetic one.     

滑带土粘土矿物定向性的x射线衍射及其对滑坡的作用

本文首先论述了粘土矿物颗粒定向排列测定的基本原理并提出粘土矿物定向性定量评价方法,然后根据实例—庙上北滑坡的滑带土粘土矿物的X射线衍射结果,进行定向性定量分析计算,得出滑带土粘土矿物颗粒的定向度为弱到中等定向,并以中等定向为主。因而在水的往返作用下,滑带土具一定的胀缩性及胀缩的不均匀性,再加上粘土矿物本身亦具有的胀缩性及胀缩的可逆性和循环性,故导致滑带土抗剪强度和结构强度不断降低,大大影响斜坡的稳定性。     

射线透射图像中轻物质自动识别算法的研究

目的：针对射线透射图像中轻物质的自动识别存在的难点问题进行研究。方法：提出了基于轮廓特征和灰度特征的识别算法，结果：详细地阐述了利用识别算法进行识别的过程；结论：给出了识别算法的实验结果。     

冰云短波辐射特性参数化

该文对卷云和高层云分别构造了15种冰晶尺度分布，3种云高和云厚，总共30种冰水含量、90种冰水程长模式。对尺度小于与大于30 μm的冰晶粒子的单次散射特性分别用表面积等效冰球Mie理论和射线光学理论进行计算。采用delta-Eddington法计算了在4种不同地面反射率下冰云的多重散射辐射传输特性，提出了冰云辐射特性的参数化公式，指出参数化公式可以用于气候模式或大气环流模式。     

X射线荧光测井井液的影响与校正

X射线荧光测井中 ,井液位于井下探管与井壁之间 ,它的影响不但表现在对特征X射线的吸收 ,而且表现在对源初级射线和特征 X射线的散射。井液的校正采用硬件与软件相结合的方法 ,在硬件上 ,使含有探测器的部分制成单独的短臂 ,有效地保证了探测窗与井壁的良好接触 ;在软件上 ,提出的双散射峰法和散射峰 -逃逸峰法 ,能够校正 0 - 10 mm厚的井液对 X射线荧光测井结果的影响