X-ray fluorescence observations of the moon by SMART-1/D-CIXS and the first detection of Ti Kα from the lunar surface

The demonstration of a compact imaging X-ray spectrometer (D-CIXS), which flew on ESA's SMART-1 mission to the Moon (Racca et al., 2001; Foing et al., 2006), was designed to test innovative new technologies for orbital X-ray fluorescence spectroscopy. D-CIXS conducted observations of the lunar surface from January 2005 until SMART-1 impacted the Moon in September 2006. Here, we present scientific observations made during two solar flare events and show the first detection of Titanium Kα from the lunar surface. We discuss the geological implications of these results. We also discuss how experience from D-CIXS has aided the design of a similar instrument (Chandrayaan-1 X-ray Spectrometer (C1XS)) that was launched on the 22nd October 2008 on India's Chandrayaan-1 mission to the Moon.     

应用地气、X荧光、氡气测量方法识别金矿含矿及无矿构造——以川西北阿西金矿和石棉田湾金矿为例

寻找构造带对于矿产勘查具有积极意义，对构造的含矿性进行判别，尤其对于野外地表露头无矿化显示及隐伏构造的含矿性更为关键。为了对构造的含矿性进行快速识别，采用X荧光测量方法、α怀测氡方法、地气测量方法等现场方法及不同方法技术的配合进行了金矿含矿与无矿构造的识别研究。川西北阿西金矿及石棉田湾金矿的试验结果表明，上述方法技术及其组合可以有效地判别金矿含矿和无矿构造。     

800-yr-long records of annual air temperature and precipitation over southern Siberia inferred from Teletskoye Lake sediments

A unique 800-yr-long record of annual temperatures and precipitation over the south of western Siberia has been reconstructed from the bottom sediments of Teletskoye Lake, Altai Mountains using an X-ray fluorescence scanner (XRF) providing 0.1-mm resolution timeseries of elemental composition and X-ray density (XRD). Br content appears to be broadly correlative with mean annual temperature variations because of changes in catchment vegetation productivity. Sr/Rb ratio reflects the proportion of the unweathered terrestrial fraction. XRD appears to reflect water yield regime and sediment flux. Sedimentation is rather continuous because annual clastic supply and deposited mass are the same. The artificial neural networks method was applied to convert annual sedimentary time-series of XRD, Br content, and Sr/Rb ratio to annual records of temperature and precipitation using a transfer function. Comparison of these reconstructed Siberian records with the annual record of air temperature for the Northern Hemisphere shows similar trends in climatic variability over the past 800 yr. Estimated harmonic oscillations of temperature and precipitation values for both historical and reconstructed periods reveal subdecadal cyclicity.     

多通道波长色散X射线荧光光谱仪的升级改造

采用面向对象、开放式、功能模块化结构设计原理及X射线荧光光谱分析数据处理和信息共享等方面的新技术，研究开发了多通道波长色散X射线荧光光谱仪仪器控制和分析应用软件，在中文Windows XP／2000平台运行。操作界面全部中文显示，具有定量、半定量、定性分析等多种X射线荧光光谱分析的整体解决方案，功能完善，操作方便，分析效率高，易于维护和移植，具有较好的推广应用前景。     

熔融制片-X射线荧光光谱法测定锰矿样品中主次量元素

采用混合熔剂熔融制备样片，加入碘化铵粉末，有效地驱赶了锰矿熔融制样时产生的大量气泡，用Axios型X射线荧光光谱仪测定锰矿样品中的Mn、Fe、Si、Al、Ti、Ca、Mg、Na、K、P、Ba、Cu、Zn、Ni等元素的氧化物含量，用理论a系数校正基体效应，方法简便快捷。用国家一级锰矿石标准物质GBW 07266验证，结果与标准值相符；以锰矿石考察方法的精澈（RSD，n=12），除CuO为10．05％，其余各组分均≤8％。     

X射线荧光方法在矿区环境地球化学研究中的应用

采用白行研制的高灵敏度能量色散X射线荧光分析仪分析了攀枝花矿区水系沉积物中微量元素的浓度，并根据分析结果研究了矿区元素分布的地球化学特征，本项研究的主要目的是探讨X射线荧光分析技术在矿区环境地球化学研究中的可行性，探索矿区环境地球化学研究的方法技术．结果表明，XRF方法可以有效分析沉积物中元素的含量，进而进行环境地球化学研究．     

x射线荧光光谱无标半定量分析稀土元素方法的改进

在Philips公司提供的x射线荧光光谱基本参数法半定量分析的SemIQ软件基础上引入重稀土元素的分析，用光谱纯的稀土氧化物与四硼酸锂熔融制备标样，重新建立一套半定量分析方法，使原软件不能分析的Dy、Ho、Er元素也可进行半定量分析，并提高了Eu、Gd、Tb、Tm、Yb、Lu元素分析的准确度。应用该方法进行了大量稀土样品的半定量分析，并与原软件方法对照，结果明显改善。     

X射线荧光光谱法直接测定地质样品中多种痕量元素

采用低压聚乙烯镶边垫底的粉末压饼法制样,Ｘ射线荧光光谱法直接测定了地质样品中痕量元素Ａｓ、Ｇａ、Ｓｃ、Ｌａ、Ｙ、Ｃｅ、Ｗ、Ｍｏ、Ｓｎ、Ｃｏ和Ｐｂ。讨论了背景校正、谱线重叠校正、基体效应校正和仪器漂移校正等问题。利用理论α系数代替经验系数,使方法具有较高的准确度和较低的检出限。所测１１个元素的检出限在（０．３０～２．０２）×１０－６水平,精度（ＲＳＤ,ｎ＝１１）在０．９５％～１３．０％。方法经国家一级标准物质分析验证,结果与标准值相符。     

地质样品痕量氯溴和硫的X射线荧光光谱法测定

报道了粉末压样－X射线荧光光谱法测定地质样品中痕量Cl、Br、S的分析方法。采用水系沉积物、岩石和土壤等国家一级标准物质进行校准。实验表明，对于不同岩性样品中Br的分析，特别是当Br的含量低于2μg/g时，采用谱峰强度（未扣除背景）与背景强度的比进行校准所得到的结果，明显优于铑靶线的Compton散射线内标法，分析精度（RSD,n=6)为2.4%-15.3%，大多数优于10％；平均值的相对误差低于24％。对于Cl的分析，只需对Ca的影响加以校正即可得到非常好的结果；不同样品中Cl的分析精度（RSD，n=6)为2.1%-13.6%，大多数优于5％；平均值的相对误差不大于25％，多数优于10％。S的校准曲线的离散性较大，矿物学效应是影响S分析准确度的主要因素，其分析精度（RSD,n=6)为0.87%-5.6%，除个别样品外，平均值的相对误差优于36％。Cl和S均存在分析结果随测量时间（次数）的增加而增高的现象，必须在制样后立即测量。方法的检出限（μg/g)Br、Cl、S分别为0．43、5．8和2．2。     

X射线荧光光谱集成分析系统

选用了兼容性能好的３８６微机，在ＤＯＳ操作系统和Ｗｉｎｄｏｗｓ３．１环境下，研究开发了Ｘ射线荧光光谱集成分析系统（ＸＲＦＩＡＳ），全面更新了理学公司３０８０系列仪器的计算机硬件和软件。采用了当前最流行的多窗口，全屏幕友好界面，在西文ＤＯＳ操作系统下，显示汉字信息。有常规的（背景扣除，内标校正，谱重叠校正，基体校正）数据处理功能（多种校正模式）扩充了分析元素，内标元素、干扰元素的数量，新开发了共用背