地质样品中砷、镓、钴、镍、溴、氯、硫和氟的X射线荧光光谱法测定

本文叙述了XRF测定地质样品中微量As,Ga,Co,Ni,Br,Cl,S和F的分析方法。采用压片法制样。对As,Ga,Co,Ni和Br元素,用散射内标法校正基体效应,而对Cl,S和F元素则用经验系数法进行基体校正。各元素的探测限(ppm)分别为:As 2.7,Ga 2.4,Co 2.8,Ni 2.5,Br 1.0,Cl,S 5.0,F 500。方法的精密度和准确度与其它化学方法相当,是一种简便快速和较灵敏的分析方法。     

M17树脂分离富集原子荧光测定岩矿中痕量碲

本文研究了不同种类树脂对Te的吸附能力,提出了在3mol/L HCl介质中,用M_(17)二甲胺树脂吸附,然后用水洗脱的新途径,使Te有效且无污染地得到分离和富集,实现了原子荧光测定地质试样中ppb级痕量Te。经地矿部标准参考样GSR7-12考察,分析结果与推荐值相符。