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221.
222.
《物探化探计算技术》2012,(2):2
<正>KJD-2000R测氡仪该仪器是一种新型的连续测氡仪器,属标准测量方法之一,它利用静电收集氡衰变子体进行累积测量,灵敏度高,现场获取结果,体积小、重量轻、测量时间短、探测器无污染、性能稳定。广泛适用于室内测氡、土壤中测氡、水中氡测量、水中镭测量。在地质隐伏断裂揭示、地质工程、建筑测 相似文献
223.
利用HiRes宇宙线实验的观测数据,通过扣除测量信号中的切仑科夫光成份,测量了广延大气簇射的纵向发展曲线。把所有的纵向发展曲线归一并且平均,获得平均纵向发展曲线。根据所得曲线,检验了3个簇射模型,它们都能较好地描述纵向发展曲线。如果利用高斯函数来描述簇射的纵向发展曲线,发现纵向发展曲线的宽度(σ)与簇射发展最大的深度有一定的关联,而且该参量从1017eV到1020 eV能量范围内几乎保持不变。另外还对平均纵向发展曲线的不确定性进行了讨论。 相似文献
224.
超高纯气体在工业生产中有非常重要的地位,如半导体工业中电子气的质量直接影响半导体器件的性能,百万分之几的微量杂质气体便可导致集成电路中元件存储信息量的减少。越来越高的气体纯度要求对分析方法及仪器的灵敏度提出了很大的挑战。大气压电离质谱(APIMS)由于可以在大气压条件下对杂质进行电离,并伴随高效的电离方式,因此具有极高的灵敏度,成为超高纯气体杂质分析中极为有效的技术手段,特别适合检测10-9 mol/mol甚至10-12 mol/mol浓度量级的气体杂质。APIMS采用电晕放电及63Ni两种电离源,通常以电晕放电电离源为主,质量分析器常采用四极杆,同时为适应超高纯气体分析,APIMS配备了气体进样系统及可将标准气体稀释产生校正气体的稀释系统。APIMS对杂质检测的灵敏度与杂质的电离方式密切相关,电荷传递是杂质电离最主要的一种方式,适用于电离能相差较大的底气与杂质,常见的N2、Ar由于电离能较高,其中的大部分杂质均可依靠该方式测定;质子转移反应的应用通常与H2有关,常用于H2中杂质的测定,也可以通过添加H2的方法促进对Ar中N2杂质的检测;运用形成团簇离子的反应尽管较少,但亦有报道,通过监测团簇离子O2+·H2O,可提高O2中杂质H2O的检测灵敏度。依据不同的电离反应,可以设计对不同杂质的测定方式,实现对痕量、超痕量杂质的检测。APIMS检测灵敏度通常比电子轰击电离质谱(EI/MS)高104~106倍,因此目前依然是超高纯气体分析中不可替代的仪器方法,但在某些方面如对有腐蚀性电子特气的分析,方法灵敏度有待提高。 相似文献
225.
"以金找金"这一惯用术语指的是化探找金方法研究的努力方向,应当实现以金元素作为直接指示元素为最终目标.因为这种方式是化探方法中最直接了当、效果最佳、具有在最大程度上排除各种外界干扰因素引起的各种误导.此外,这种方式还使金矿化探方法"一竿子插到底"地通用于勘探程序的全过程,包括:区域测量,不同比例尺的普、详查测量,追踪矿体,钻井测量等不同阶段中发挥很好作用. 相似文献
226.
造山带挤出构造阐述了被边界断裂所围限的造山带深变质块体,在造山带内部垂向和(或)侧向应力的作用下折返变形的过程。研究主要集中在挤出块体的几何形态及其内部变形样式、边界断裂特征、挤出路径以及挤出动力来源等4个方面,其研究目的主要是为了解决造山带深变质岩石折返剥露的机制问题。依据挤出块体的挤出方向与造山带主体走向之间的关系,在三维球形坐标系Lx-Ly-Lz中,将造山带挤出构造大致分为7个端员类型(Ⅰ型~Ⅶ型)。其中Lx为造山带或俯冲带的主体走向;Ly呈水平方向并与Lx相垂直;Lz垂直于Lx和Ly所构成的平面。这些基本端员类型的组合及其之间的过渡类型可以详尽地诠释大别山印支期高压-超高压岩石的挤出过程。其中榴辉岩相挤出阶段介于Ⅳ型与Ⅶ型挤出构造之间,角闪岩相挤出阶段介于Ⅱ型与Ⅵ型挤出构造之间并可能具有渠道流挤出模式,而绿片岩相挤出阶段类似于Ⅴ型挤出构造。 相似文献
227.
228.
利用黑体辐射定律和四色光学测温原理,在3000K~33000K的温度范围和20nm~56nm的真空紫外波段计算了非理想辐射体在四个波长处辐射强度的比率.并从测温灵敏度、测温范围和测温精度等方面对各测温参数的优化进行了讨论. 相似文献
229.
230.
评述了射电脉冲星搜寻及观测研究的巨大贡献和重要意义,分析了影响脉冲星搜寻工作的几个关键因素(如灵敏度,色散,观测频率及设备等),着重介绍和分析了自发现脉冲星(特别是发现第一颗秒脉冲星)以来所进行的卓有成效的脉冲星搜寻工作(包括脉冲星的早期寻,毫秒脉冲星的初期搜寻,高银续脉冲星搜寻,定向搜寻以及进一步的广域深空搜寻等)的情况,结果,意义和进展。 相似文献