X射线荧光测井井液的影响与校正

X射线荧光测井中 ,井液位于井下探管与井壁之间 ,它的影响不但表现在对特征X射线的吸收 ,而且表现在对源初级射线和特征 X射线的散射。井液的校正采用硬件与软件相结合的方法 ,在硬件上 ,使含有探测器的部分制成单独的短臂 ,有效地保证了探测窗与井壁的良好接触 ;在软件上 ,提出的双散射峰法和散射峰 -逃逸峰法 ,能够校正 0 - 10 mm厚的井液对 X射线荧光测井结果的影响     

狮子山铜矿岩壁X取样研究与应用

本文主要介绍了应用 X射线荧光方法在狮子山铜矿进行岩壁 X取样的技术和工作过程 ,提出了一些克服岩壁 X取样影响因素的方法。并对使用效果进行了评价     

关于偏岭石的X射线分析等问题──兼评何宏平等《天然烧变高岭石的研究》一文

偏岭石及其有关的变高岭石过去用五般鉴定结晶矿物的Ｘ射线衍射分析定为“非晶质”矿物；后来刘长龄用Ｘ射线衍射分析末照相高功率长时间拍照，见到有中，低强度的衍射条４．４－４．１，等多条；４．４Ａ及２．２Ａ等，二者有区别射线衍射仪强度曲线分析也有不同，而均属于准晶质或半晶质。     

X射线荧光测井的井液效应及其校正

本文从Ｘ射线的性质，以及Ｘ射线与物质作用的机理出发，对井液效应进行了研究，并对其影响过程进行模拟。在理想井液模型上，推导出Ｘ射线活度与钻孔参数的数理关系。在此基础上，进一步研究得到了能适应野外多变情况的井液效应校正公式（ＣＢＷＥ）和方法。     

水杨醛缩—5—（8—喹啉偶氮）—8—氨基喹啉与铜的荧光熄灭反应研究

合成了一种新的荧光试剂－水杨醛缩－５－（８－喹啉偶氮）－８氨基喹啉。在中性至弱碱性介质中，Ｃｕ＾２＋与试形成稳定的配合物而使试剂荧光熄灭。测得配合物中Ｃｕ＾２＋与试剂的组成比为１：２并推测了它的可能结构。     

沉淀分离—火焰原子吸收光谱法连续测定锌精矿中杂质元素

利用Ｚｎ（ＯＨ）２的两性沉淀富集待测杂质元素，分离高含量Ｚｎ以排除干扰，用火焰原子吸收法测定其中的杂质元素含量。实验结果表明：分离后残留的Ｚｎ对Ｆｅ、Ｃｄ、Ｎｉ、Ｍｎ、Ａｇ的测定无干扰；各元素之间互不干扰。加标回收率为９３％￣１０６％，对菱锌矿中几种杂质元素进行测定，结果与ＩＣＰ－ＡＥＳ法相符，各元素测定的相对标准偏差（ｎ＝１２）为４．１％￣８．８％。     

D／max—A型X射线衍射仪升级改造研究

Ｄ／ｍａｘ－Ａ型Ｘ射线衍射仪升级改造项目采用工业控制机原理，设计了与ＩＢＭ兼容计算机相配的通用接口和相应的软件，实现了在日本理学Ｄ／ｍａｘ－Ａ型Ｘ射线衍射仪上用ＩＢＭ－ＰＣ机取代原单片机和操作台的升级改造。由此建立的ＪＡ型Ｘ射线衍射仪微机控制系统对测角仪转角控制精密、准确、可靠，数据采集实时、准确。它不仅保留了原系统的所有功能，保持了仪器原有的精度和分辨率，而且还增加了自动光路零位校正功能，由于采     

正确使用X—CT球管的技术探讨

本文报道了我院连续六只Ｘ－ＣＴ球管的使用情况。寿命最长的曝光达３５８３００秒，而最短的只有１３５０００秒，其主要原因是缺乏正确地使用和维护知识，要想延长球管使用寿命，首先需加强对使用人员的专业素质训练，其次，在保证图像质量的前提下，降低ｍＡｓ；第三，保持扫描室恒业的温湿度；第四，定期检查球管的冷却散热系统。     

原位磁化X射线粉末衍射法测还原铁粉的微观磁致伸缩系数

首次报导X射线粉末衍射法测量铁粉晶胞的磁致伸缩系数。还原铁粉样品原位磁化后 ,铁立方晶胞产生磁致伸缩效应 ,晶胞参数的变化引起衍射峰位置和晶面间距的变化。实验测得铁晶胞λ1 0 0 为 3 .3 3× 10 - 4,此结果表明铁晶胞的微观磁致伸缩系数比棒状、薄膜或粉末压片的系数大约 16倍。对此现象进行了合理的理论解释 ,指出大块材料中的粉末多晶之间具有较大的空隙 ,从而使得宏观磁致伸缩系数变小     

高倍稀释熔融制样X射线荧光光谱测定钨砂和铬铁矿中主含量

用X射线荧光光谱测定钨砂中WO3和铬铁矿中Cr2O3,通过高倍稀释熔融玻璃片制样法,采用高纯WO3或Cr2O3作单一标准样测量X射线荧光强度计数,然后同未知样品测量所得X射线荧光强度计数相比,即可计算出WO3和Cr2O3的测量值.方法用于钨砂矿和铬铁矿中WO3和Cr2O3的测定,结果与标准值相符.