X荧光分析技术在航磁异常地面查证中的应用

西天山135号航磁异常点由于地质条件的限制,大型勘查设备测量和探槽揭露工作很难开展;此外,受气候条件限制,适合查证工作的时间较短。因此,采用X荧光分析技术结合传统物探方法的技术路线,在航磁异常查证阶段综合采用地面高精度磁法测量、γ能谱测量、野外现场X荧光快速分析和岩样物性分析方法完成航磁异常的检查。根据野外X荧光分析发现135号航磁异常西南部有新的铜元素含量异常点,结合现场踏勘捡样发现孔雀石矿化现象,判断135号航磁异常西南部有铜矿化点的存在。在铜矿化区域通过大比例尺现场X荧光分析快速定位两处新发现的铜异常,并圈定了矿化范围;在工程验证阶段采用"以钻代槽"技术,结合X荧光分析和微区X荧光分析方法研究矿化展布特征、矿物成分,评价矿化价值。通过135号航磁异常查证工作,结果表明X荧光分析技术是一种快速高效、经济的勘探方法,能够缩短野外勘查周期,高效地完成异常查证及矿产勘查工作。     

岩石内应力的X射线-中子散射测量方法

岩石内应力的储存和释放对深地资源和能源开发具有重要约束。矿物晶格间距的动态变化是揭示岩石内应力演化的重要指示。X射线衍射法是当前获取矿物晶体结构的主要手段,可以准确测定矿物的特征衍射峰。但是,对于具有复杂结构和矿物组成的岩石,X射线在穿透过程中携带的统计信息,难以反映矿物晶格间距的细节特征。中子射线的能量高、穿透深度大,且与原子核反应,因而能更准确地刻画矿物元素位置和结构细节,但中子的波长较长、校准困难,结果具有不确定性,导致中子射线在岩石内应力研究中未能发挥应有作用。在分析X射线、中子技术优势和固有局限的基础上,提出了岩石内应力的X射线-中子衍射测量方法,重点剖析了该方法的基本原理,提出了该方法的关键技术与研究前景。得出了如下结论:利用X射线在确定岩石矿物晶格参数的优势,结合加热处理等技术,可实现岩石矿物无应力条件下晶格间距的标定; 采用中子衍射技术可精确测量岩石矿物的衍射偏移峰,实现岩石内应力深度轮廓的精准刻画; 结合X射线与中子的优势,可实现岩石内应力绝对值的精确测量。提出的技术手段有利于揭示岩石内应力的微观储存和释放过程,以及长期存留的物质条件和物理力学机制,并有望为岩石矿物组成和微观结构研究提供一种新的技术方案。     

活性炭法测定室内外环境中氡的吸附饱和性实验

介绍了一套实验装置,可通过该装置了解吸附了氡气的活性炭的放射性计数与活性炭所在环境的氡浓度的关系.活性炭中氡或其衰变子体放出的γ射线的总计数与氡浓度成线性关系;γ射线的总计数经过校正后,可以换算成活性炭所在环境的氡浓度.     

激光拉曼光谱法在单个流体包裹体研究中的应用进展

激光拉曼光谱法以其非破坏性、高灵敏度和高分辨率等特性,一直以来都是研究流体包裹体的重要方法之一。近年来,围绕激光拉曼光谱在流体包裹体中的应用而展开的研究主要集中在半定量-定量测试方面,即在准确定性的基础上,采用高斯-洛仑兹去卷积分峰、低温原位等定量方法获取流体包裹体的成分和含量,从而克服了激光拉曼光谱法应用于溶液中阳离子的定量分析的灵敏度、准确度较低的问题,不仅能获得流体包裹体中一些常温下不具拉曼活性的盐类物质拉曼特征峰信息,还能根据特征峰与浓度、内压之间的线性关系,进一步对盐度和压力等性质进行测定,从而拓展了激光拉曼光谱法在流体包裹体中的应用范围。本文对激光拉曼光谱法应用于分析流体包裹体成分、盐度、同位素和压力所取得的最新进展进行了评述,并认为随着分析测试技术的不断进步,激光拉曼光谱法未来的分析方向也将继续围绕多元复杂体系及其定量方面的研究展开。     

钒的Kβ谱带精细结构的测定及钒的价态分析

用普通Ｘ射线荧光光谱仪测定了钒的氧化物、钒酸盐及含钒混合物中Ｖ的Ｋβ谱线,借助一套有效的谱处理程序,获得了有关Ｋβ谱线精细结构的谱峰参数,证实了谱线轮廓（Ｋβ″峰逐渐显著,Ｋβ５、Ｋβ″向高能端位移,Ｋβ５与Ｋβ１,３的分开趋势,Ｋβ１,３半峰宽发生变化）及谱峰参数（Ｋβ５峰能量,Ｋβ５与Ｋβ１,３能量差,Ｋβ５与Ｋβ１,３及Ｋβ″与Ｋβ１,３的强度比,以及Ｋβ５和Ｋβ１,３的不对称因子）与Ｖ的氧化数变化呈很强的相关性及规律性变化。     

理学3080E3型X射线荧光光谱仪维修实例

介绍理学3080E3型X射线荧光光谱仪样品驱动单元及高压发生器部分的故障现象及维修实例。     

金矿床石英中负价氮的发现及赋存状态探讨

利用ｘ光电子能谱测试，发现金矿床石英中有负价氮的存在。这种氮的结合能为３９８ｅＶ士，该结合能氮的化合物有多种，氦均为负价态，其中有Ｓｉ＿３Ｎ＿４Ｓｉ的ｘ光电子能谱有二个谱峰值：１０３．４ｅＶ和１０１．９ｅＶ，前者为ｓｉＯ＿２的结合能，后者为Ｓｉ＿３Ｎ＿４的结合能。Ｎ和Ｓｉ的结合能均表明石英中有Ｓｉ＿３Ｎ＿４为负三价态。石英中负价Ｎ可能为替代氧的类质同象成分。     

XRFS分析中修正比例常数法的原理和分析方法

建立了Ｘ射线荧光光谱（ＸＲＦＳ）分析中修正比例常数法的理论和分析方法，主要用来测定８￣２４Ｋ黄金首饰样品中的主、次元素含量。