钻孔应变观测技术发展方向探讨

从大地测量技术、地震观测技术和钻孔应变观测技术３种地面运动观测方法在观测频频带和观测精度方面的互补性,探讨了钻孔应变观测技术的发展方向,指出钻孔应变观测应将观测重点放在周期数十秒到数十天的短临信息频段,同时指出,钻孔应变观测可以同时用于声和高频地震观测,以获取更多的短临信息。     

钙镁络合滴定掩蔽剂—乙二胺

<正> 乙二胺具有无毒、稳定、易溶、便宜、掩蔽范围宽、掩蔽能力强等一系列优点。在与三乙醇胺联合使用时,可掩蔽大多数干扰金属离子。可用于一般矿石、有色、黑色和多金属矿石中钙、镁的直接络合滴定。一、乙二胺的主要性质和掩蔽机理1.乙二胺的主要性质乙二胺(Ethylenediamine 缩写为 En)又名二氨基乙烷、乙撑二胺(1.2—Diam-inoethane)。其与水化合称为水合乙二胺(En.hydrote)。它们的分子式分别为H_2NCH_2CH_2NH_ 2和 H_2NCH_2CH_2NH_2·H_2O,主要物理性质如下表。     

黄汲清先生诞辰100周年纪念大会在京隆重举行

2004年3月30日是黄汲清先生诞辰100周年。6月7日,黄汲清先生诞辰100周年纪念大会在北京京西宾馆隆重举行。这次纪念大会是由国土资源部负责,联合全国政协办公厅、科学技术部、中国科学院、中国科学技术协会、九三学社中央、中国石油天然气集团公司、中国石油化工集团公司、中国海洋石油总公司共同发起,并委托中国地质学会、中国地质     

加强农业综合开发,增强农业发展后劲

本文分析总结了我国农业结合开发的可喜形势，重大意义和基本经验，阐述了今后农业综合开发的指导思想和重点，提出了加强农业综合开发的政策措施。     

太阳米波Ⅰ型源与太阳质子事件的关系

对1970年1月——1973年6月太阳射电观测资料的统计表明,95%的太阳质于耀斑事件,在发生前一天左右,其上空已无米波 f 型源;而当活动区上空存在米波 I 型源时,尽管有特大微波爆发,仍不发生行星际质子事件.另外对典型活动区作的磁势场计算表明,米波 I 型源区的磁结构基本上是封闭的,而质子耀斑区上空,基本上是开放的.这种差别,可能是这两种太阳活动现象彼此排斥的原因.     

关于光球横向磁场和电流的测定(英文)

本文给出了一个在观测中辨别光球横向磁场指向的一个判据。并证明了光球横向电流与横向磁场的指向无关,因而完全可以由向量磁象仪测定。     

用于太阳视频矢量磁象仪和视频多普勒仪的双折射滤光器的新双带方案

本文分析了用于太阳视频矢量磁象仪和视频多普勒仪的Ramsey双带方案的优缺点,提出了新的双带方案:将滤光器中次厚级放在最前部,以代替原Ramsey方案中最厚级放于最前部的结构。详细计算表明,新双带方案优于传统的单带方案,传统的单带方案优于Ramsey双带方案。在相同磁场条件下,它们的总体信噪比是0.963:～0.800:0.578。新方案可能对新的空间视频矢量磁象仪和新建的地面系统有重要价值,也可按此改进已有的地基视频矢量磁象仪系统。     

可调Lyot双折射滤光器的积分透过率守恒及调试方法

本文用计算方法,找出了可调Lyot双拆射滤光器的积分透过率是守恒的:由最原始级确定的滤光器周期中,不管各级的调节波长装置如何移动,即不管各级的透过带位置如何放置,其滤光器的积分透过率守恒,恒等于主带(最厚级透过带宽)的半宽.据此特征以及太阳方和斐线线心光度极小的特征,本文提出一种方法,只需用光电倍增管和普通微安表,直接利用装有双拆射滤光器的太阳望远镜,就能方便地调到所用谱线中心. 对几个选定的波带位置,从理论上计算和实际上观测滤光器的总透光量,并进行比较,推算了太阳磁场用窄带双折射滤光器的总附加散射光量,这种散射光是由光学元件不完善等所引起的。无论太阳磁场测量或太阳单色光度测量都迫切需要了解这种附加总散射光量.     

夜光遥感数据的西部地区城市扩展时空变化

针对我国西部地区12个省(自治区、直辖市)的城市扩展时空变化规律,该文采用1992—2019年的DMSP-OLS与NPP-VIIRS两种夜光遥感数据形成夜间灯光数据集,对研究区主要以城市面积叠加、扩展强度、扩展速度、标准差椭圆等方法进行分析。结果显示：西部地区城市面积保持持续增长,城市新增区域颇为明显。西部地区城市扩展强度普遍递增,但各地区递增幅度差距较大。西部地区城市面积扩展速度普遍上升,各地区扩展速度的增长幅度有较大的差别;在研究期末段,部分地区扩展速度上升幅度明显降低。西南地区与西北地区标准差椭圆相差较大,西北地区椭圆长短轴长度差别较大;西南地区标准差椭圆长短轴长度差别较小,椭圆形状更接近圆形。     

无光照条件下CMOS图像传感器噪声分析

在无光照条件下,对采用CMOS图像传感器的尼康D90相机在不同的曝光时间下进行拍摄实验,分析CMOS图像传感器在不同曝光时间下的暗电流噪声以及系统噪声在传感器像面上的空间分布。得出如下结论：系统噪声并没有随曝光时间增加而增大的趋势,因此,系统的暗电流噪声比较小;而整体噪声在不同的曝光时间下,都有在空间分布上有像面外围较大而像面中间较小的情况,根据该分布给出计算不同位置像素系统噪声大小的公式。