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叶腊石微结构及其晶体结构缺陷的高分辨透射电镜分析 总被引:2,自引:0,他引:2
采用场发射扫描电镜(FE-SEM)、高分辨透射电镜(HRTEM)结合选区电子衍射(SAED)、X射线粉晶衍射(XRD)及X射线荧光光谱(XRF)等对浙江青田叶腊石的微结构特征进行较系统的研究。结果表明:①粉晶X射线衍射证实青田叶腊石具有典型的单斜晶系特征,该结论与叶腊石粉体选区电子衍射结果吻合,且其伴生矿为石英。②叶腊石微晶体呈"复式板片"构型,且"复式"板片中薄片厚度约为8±2 nm。③在高能电子束辐照下,叶腊石矿物颗粒形貌及晶格结构发生明显的改变,且由此产生晶格膨胀,并最终形成非晶态。 相似文献
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浙江青田单斜晶系叶腊石微结构的高分辨透射电镜研究 总被引:2,自引:2,他引:0
采用X射线粉晶衍射(XRD)、高分辨透射电镜(HR-TEM)及X射线荧光光谱(XRF)对青田叶腊石的矿物学特征进行了较为系统的研究。结果表明:叶腊石矿物颗粒微结构中最基本的构成单元为纳米板片,且该板片多呈聚集态,单层板片面积大小不一,厚度为(8±2)nm。XRF分析结果表明青田叶腊石原矿混合物中SiO2与Al2O3的分子个数比为6.2,明显高于纯叶腊石中SiO2与Al2O3的分子个数比4.0。HR-TEM对叶腊石晶体结构的研究证实青田叶腊石具有典型的单斜晶系特征,该结论与叶腊石XRD结论一致;且XRD分析结果证实其伴生矿为石英,该结论与XRF所获得的青田叶腊石的"富硅"特征吻合。此外,叶腊石微结构中存在着较明显的晶体缺陷。在高能电子束辐照作用下,叶腊石晶体结构发生明显的破坏,并最终转变为非晶态结构。 相似文献
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低渗气藏的开发在我国油气田开发中起着越来越重要的作用,因此,研究低渗气藏中气体渗流的规律有着理论和应用价值.本文回顾了低渗气藏中气体渗流Klinkenberg效应研究的发展历程,详细从Klinkenberg效应的特征、机理、数学描述以及滑脱因子的计算几个方面进行了总结,系统地进行分析,并指出了Klinkenberg渗透率测量中存在的一些实际问题,在总结前人研究成果的基础上,针对这些问题提出了用格子Boltzmann方法研究低渗气藏中气体渗流Klinkenberg效应,不仅可以克服测量过程中存在的问题,并且可以对滑脱因子的影响因素进行定量地分析,为今后更深入的研究和广泛应用奠定了基础. 相似文献