双毛细管在线干扰校正-电感耦合等离子体发射光谱法测定含铀地质样品中微量铅

应用电感耦合等离子体发射光谱法测定地质样品中的铅时,基体元素的干扰会使测量结果偏低。本文用氢氟酸、硝酸、高氯酸、盐酸溶解样品,采用等径双毛细管在线干扰校正的方法测定了含铀地质样品中的微量铅。首先通过双毛细管确定了样品溶液中的Fe、Al对铅有负干扰,而一定浓度的U、Ba、Ti、Ca、Mn、K、Mg、Na等基体元素没有干扰或可以忽略,由此在线双毛细管根据样品中Fe、Al的含量使用不同的校正试液建立标准曲线,测定未知样品时同步进行稀释,降低了Fe、Al的基体效应。方法检出限为1.5μg/g,精密度(RSD)小于5%。与普通干扰校正法相比,双毛细管在线干扰校正法可根据不同基体的样品使用不同的干扰校正试液,快速建立标准曲线进行复杂样品的测定,且避免了二次稀释,节省试剂,适合测定基体成分接近的批量样品。     

电感耦合等离子体原子发射光谱法测定碳酸盐岩石中19种元素

采用单道扫描电感合等离子体原子发射光谱仪，研究了大量Ｃａ、Ｍｇ基体对被测元素的光谱干扰，优化了ＩＣＰ的工作参数，采用计算机背影扣除、干扰校正系数校正光谱干扰，基体匹配法克服Ｃａ、Ｍｇ的基体效应，拟定了以ＨＮＯ３、ＨＦ、ＨＣＩＯ４处理试样，ＩＣＰ－ＡＥＳ法直接测定碳酸盐岩品中１９个元素的分析流程，方法简便，快速、准确度高、精度好，分析国家一级岩石标准物质和３个碳酸盐岩石样品，结果满意。     

XRF粉末法测定硅线石选矿试样中Al,Fe,Ti,K,Na

推荐ＸＲＦ粉末法直接测定硅线选矿流程试样中铝、铁、钛、钾、钠。以不同矿区的选矿流程试样作为标准，试样研磨至所需粒度。用经验系数校正法克服矿物效应，颗粒度效应和共存元素间的影响，与化学分析法相比，本法快速，简便，成本低，测定结果满足选矿要求。     

X—荧光交互有效—基本参数法及其在铝土矿和粘土分析中的应用

用熔融法制样，在基本参数法的基础上，结合交互有效法和ＰＲＥＳＳ值的计算，建立起稳定性较好的基体校正模型。分析结果表明，该法用较少标样即可满足定量分析铝土矿和粘土中十一个元素的要求，本软件可在ＵＮＩＸ、ＤＯＳ和ＸＥＮＩＸ操作系统下运行。     

X荧光测定岩石中痕量元素的基体校正方法

地质样品痕量元素分析中的基体校正,前人作过大量工作。但是对于主元素(主要指铁)吸收限长波侧的基体校正还未很好解决。本文利用相对吸收的概念,计算了主     

X荧光测定岩石中痕量元素的基体校正方法

地质样品痕量元素分析中的基体校正,前人作过大量工作。但是对于主元素(主要指铁)吸收限长波侧的基体校正还未很好解决。本文利用相对吸收的概念,计算了主     

X射线荧光光谱集成分析系统

选用了兼容性能好的３８６微机，在ＤＯＳ操作系统和Ｗｉｎｄｏｗｓ３．１环境下，研究开发了Ｘ射线荧光光谱集成分析系统（ＸＲＦＩＡＳ），全面更新了理学公司３０８０系列仪器的计算机硬件和软件。采用了当前最流行的多窗口，全屏幕友好界面，在西文ＤＯＳ操作系统下，显示汉字信息。有常规的（背景扣除，内标校正，谱重叠校正，基体校正）数据处理功能（多种校正模式）扩充了分析元素，内标元素、干扰元素的数量，新开发了共用背     

X射线萤光光谱法测定铁矿石和岩石中的低、微量元素时基体成分影响的研究

用X射线荧光光谱法测定试样的主要成分时,主要是用数学校正法来校正基体成分对分析结果的影响,然而用数学校正法来分析试样中的低、微量元素是很困难的.分析试样中的低、微量元素,多数作者是采用散射内标法或加人内标法来校正基体效应.用散射内标法测定试样中的低、微量元素时,背景强度的变化往往影响分析结果的精确度,特别是分析元素靠近检出限时,分析元素能否检出以及测定结果的精确度如何,主要取决于背景强度的大小及背景测定的精确度.     

全谱直读等离子体发射光谱法测定高纯金中的杂质元素

用新型号的全谱直读等离子体发射光谱仪测定了高纯金中的杂质元素，进行了分析谱线的选择，功率、气体流量等工作条件的优化，选用内标法校正标准溶液与样品溶液基体不同的影响。取样量为0．5g时，方法的测定下限为0．02～4．67μg/g，回收率在90％～101％，当待测元素含量大于5μg/g时，分析结果的相对标准偏差小于5％。方法用于实际样品的分析，结果与其他方法相符。     

地质样品中40个微量,痕量,超痕量元素的ICP—M …

以基体匹配的混合标准沉沦为外标校正沉沦,采用＾１１５Ｉｎ－＾１０３Ｒｈ双内标校正系统,通过单个元素Ｃａ,Ｃｒ,Ｔｉ,Ｂａ,Ｌａ,Ｃｅ,Ｐｒ的氧化物、氢氧化物产率的测定,计算其等效干扰离子浓度,并进行校正,从而有效地抑制了分析信号的漂移、在体效应及多原子离 子干扰。针对不同岩 的地质样品,分别采用酸消解、碱熔融样品制备体系,在ＰＯＥＭＳⅢ上建立了等离子体质谱法同时测定微量、痕量、超痕量元素的分析方法     

激光剥蚀电感耦合等离子体质谱副矿物U-Th-Pb定年新进展

激光剥蚀电感耦合等离子体质谱（LA-ICP-MS）副矿物U-Th-Pb定年技术为精确厘定地质演化历史、探讨成岩成矿等重要地质作用过程提供重要的时间参数,是地质年代学快速发展的重要技术支撑.总结了LA-ICP-MS副矿物U-Th-Pb定年技术在元素分馏校正、非基体匹配分析、标准样品研发、普通铅校正、高空间分辨率及高效率分析等方面取得的重要进展.展望未来,需更进一步深入探讨和研究元素分馏及基体效应机理,研发更多种类的高质量副矿物标样,建立更多更准确、更精密、更高空间分辨率及更高效的LA-ICP-MS副矿物U-Th-Pb定年新方法和新技术,以实现从更微观和更精细的角度探讨地质问题,并持续为高效解决地球与行星科学研究领域重大科学问题提供关键支撑.      

电感耦合等离子体发射光谱法测定稀土矿石中的三氧化二铝

铝是稀土矿石常检的杂质元素,目前采用电感耦合等离子体发射光谱法(ICP-AES)基体匹配校正模式测定矿石中的铝量,对基体中铝的空白及基体量有一定的要求;且稀土矿石的品种很多,铝在其中的存在形式也较复杂,简单的酸溶很难彻底地将铝转入溶液中进行准确测定.本文采用碱熔法处理样品,滤液酸化后用ICP-AES测定稀土矿石中的Al2O3.通过共存元素干扰实验发现样品中的稀土元素及钍对铝的测定产生严重的光谱干扰,提出预先以碱分离除去消除干扰,有效地降低了检测下限:采用基体校正模式,消除了盐分对测定的影响.方法检出限为0.021～0.035 mg/g,测定范围为0.50％ ～ 8.00％,精密度(RSD)＜7.1％.对不同含量的样品进行分析,测定值与化学容量法测定结果基本相符.该方法具有测定含量范围宽、分析速度快、结果准确等优点.     

钡锶的光谱定量测定

以碳粉、氯化钠为缓冲剂消除基体的影响，选择钐作为内标元素，本法简单快速、Ｂｒ和Ｓｒ的相对标准偏差分别为５．４％和５．１％，已成功地应用于化探样品中钡和锶的定量测定。     

X射线荧光光谱三十年

X射线荧光光谱分析在20世纪80年代初已是一种成熟的分析方法,是实验室、现场分析主、次量和痕量元素的首选方法之一,在无损分析和原位分析中具有不可替代的地位。文章评述了三十年来X射线荧光光谱分析的进展历程、波长色散X射线荧光光谱仪(WDXRF)、能量色散X射线荧光光谱仪(EDXRF)和现场与原位分析用X射线荧光光谱仪发展过程及显示的特色。介绍了在X射线的全反射和偏振性质基础上相继推出的偏振、微束、全反射等全新的X射线荧光光谱仪及其在众多领域的应用。回顾了基体校正发展历程和以Sherman方程为基础的基本参数法和理论影系数法在定量分析中的应用,并对学术界有关基体校正的物理意义的争论、Sherman方程的局限性以及如何提高基本参数法在常规定量分析和半定量分析结果的准确度的途径进行了探讨。总结了化学计量学与数据处理方法在XRF中的应用研究及进展,指出人工神经网络方法与基本参数法相结合的算法,对于改善基体校正的准确度和稳定性开创了一条新的途径。     

地质样品中砷、镓、钴、镍、溴、氯、硫和氟的X射线荧光光谱法测定

本文叙述了XRF测定地质样品中微量As,Ga,Co,Ni,Br,Cl,S和F的分析方法。采用压片法制样。对As,Ga,Co,Ni和Br元素,用散射内标法校正基体效应,而对Cl,S和F元素则用经验系数法进行基体校正。各元素的探测限(ppm)分别为:As 2.7,Ga 2.4,Co 2.8,Ni 2.5,Br 1.0,Cl,S 5.0,F 500。方法的精密度和准确度与其它化学方法相当,是一种简便快速和较灵敏的分析方法。     

电感耦合等离子体发射光谱法同时测定碳酸盐岩石中19个元素

使用ＪＹ７０Ｐ 电感耦合等离子体发射光谱仪,分别考察了一些主要基体对待测元素的各种干扰。综合各种干扰因素,采用干扰系数校正法消除综合干扰,拟定了适用于包括碳酸盐岩石的区域化探样品中１９ 个元素的电感耦合等离子体原子发射光谱同时测定方法。１９ 个元素的测定限在０ ．２０ ～８ ．０ μｇ／ｇ 。对碳酸盐岩石国家一级标准物质ＧＢＷ０７１０８ 进行检测,各元素的结果与标准值吻合,相对标准偏差（ｎ ＝ １１） 在１ ．２ ％ ～５ ．３ ％ 。     

电感耦合等离子体发射光谱法同时测定碳酸盐岩中19个元素

使用ＪＹ７０Ｐ电感耦合等离子体发射光谱仪,分别考察了一些主要基体对待测元素的各种干扰。综合各种干扰因素。采用干扰系数校正法消除综合干扰,拟定了适用于包括碳酸盐岩石的区域化探样品中１９个元素的电感耦合等离子体原子发射光谱同时测定方法。１９个元素的测定限在０．２０￣８．０μｇ／ｇ。对碳酸盐岩石国家一级标准物质ＧＢＷ０７１０８进行检测,各元素的结果与标准值吻合,相对标准偏差在１．２￣５．３％。     

在线加标-电感耦合等离子体质谱法测量纯钼中痕量杂质元素

纯钼的纯度或杂质含量对材料性能有重要的影响，痕量杂质的准确测量是产品质量控制的关键。电感耦合等离子体质谱法(ICP-MS)由于具有高灵敏、多元素同时测量的优势，是测量痕量杂质的最有效方法之一；但在测量高浓度纯钼基体中的痕量杂质时，会产生较强的基体抑制效应，严重影响测量结果准确性。基体匹配法、标准加入法以及基于同位素丰度比值测量的同位素稀释质谱法(IDMS)可以有效地补偿复杂的基体效应，获得准确的测量结果；但步骤繁琐、分析效率低、分析成本高使其难以满足高通量的测量需求。本万工作集成了标准加入法的准确性及在线自动分析的高效性，基于标准加入法的原理，通过双路进样，将样品溶液与标准溶液(系列标准溶液依次自动进样)同时引入三通进行混合，然后经过雾化进入ICP-MS进行检测，从而建立了基于在线加标的ICP-MS法。该方法有效地补偿了高浓度试样的基体效应，通过样品-标准进样流量差异的校正，提高了测量结果的准确性，实现了纯钼中29种痕量杂质元素的快速准确测量，满足了纯钼中痕量杂质标准物质的准确定值要求。经考察，本工作建立的方法对29种元素的方法检出限(MDL)在0.004～0.90μg/g之间，标准加...     

空气-乙炔焰原子吸收测定岩石中微量锶

本文研究了用空气—乙炔焰原子吸收测定岩石中微量锶的方法。采用连续离心分离硫酸铅共沉淀法,微量锶可从大量复杂的基体中迅速得以富集,大量干扰元素基本被分离,残留极少量的铝、钛、硅等元素的影响,可以借邻苯二甲酸氢钾消除。本法具有简便、快速、准确度较高的优点。对含锶0.0052％的样品,测定的相对标准偏差为5.2％。     

电感耦合等离子体原子发射光谱法测定硅铁中微量元素

应用电感耦合等离子体发射光谱法对硅铁中微量元素的测定进行了研究，采用基体匹配法消除了大量基体的干扰，选择了最佳激发条件，样品的加标回收率在97％－107％。方法用美国硅铁标样分析验证，测定结果与标准值吻合较好，各元素8次测定的RSD％＜7％。