硅锰合金的X-射线荧光分析

在硅锰合金样中加入一定量的硼酸作为黏结剂进行压片试样，然后选择合适条件，用X－射线荧光光谱法测定硅锰合金中的Si,Mn，P，S，C5个元素，分析结果符合国标要求。     

X-射线荧光室内样品测定

在《X-射线荧光方法的理论基础》一文中已经介绍了根据射线的能量可以定性地大致判定是什么元素,而根据某一元素特征X-射线的强度可以确定该元素的含量。通常用相对比较法进行,即采用组分与待测样品相似的、含量已知的试样作标准样,在相同的条件下分别测量待测元素的特征X-射线强度。     

X-射线荧光方法的现场测量

X-射线荧光技术的现场测量,原理基本上和室内样品分析是相同的,这就是根据特征X－射线能量的不同来区别不同的元素,根据元素的特征X－射线强度来测定该元素的含量。     

X-射线荧光测井仪研制初步成果

X-射线荧光测井技术,国际上是在六十年代末期发展起来的。目前在美国、英国、苏联、瑞典等国,已用于地质工作,且效果显著。英国测锡含量与岩心化学分析十分一致。苏联全苏储量委员会确认X-射线荧光测井技术所定的矿床储量可靠。     

高稀释比熔融-X射线荧光光谱法分析硅酸盐岩石样品中18种组分

选取土壤、水系沉积物、岩石、超基性岩、黏土等标准物质,应用混合溶剂与样品质量比为14：1的高稀释比方法熔融制备测试样品,拟合校准曲线,建立X射线荧光光谱（XRF）同时测定硅酸盐岩石样品中18种组分（SiO2、Al2O3、TFe2O3、MgO、CaO、K2O、Na2O、TiO2、BaO、MnO、P2O5、Cr2O3、V2O5、Rb、Sr、Zr、Cu、Ni）的快速分析方法.应用帕纳科Eagon2全自动高频电感熔样机,称取7.0000 g（45Li2B4O7+10LiBO2+5LiF）混合溶剂与0.5000 g样品混合均匀,分别加入氧化剂饱和硝酸铵溶液2滴,脱模剂饱和溴化锂溶液4滴,于700℃先预氧化4 min,再1 120℃熔融9 min制备样片,自然冷却至室温.此熔样方法能保证样品中待测组分熔化完全,并制得表面光滑平整的样片.用国家标准物质验证,测试结果的准确度和精密度均符合《地质矿产实验室测试质量管理规范》（DZ/T 0130-2006）要求.     

粉末压样法X射线荧光光谱硅酸盐分析

拟定了粉末样品压饼Ｘ射线荧光光谱进行硅酸盐分析的方法，并考查了粒度的影响，将样品研磨至φ０．０６ｍｍ，可满足试验的要求。经地质标样分析及实际应用验证，方法可行。     

X-射线能谱分析实践

一般常用的X射线能谱范围内,si(Li)探测器分辨率较晶体分光低一个数量级,谱线的重叠现象更为普遍。如何辨认和处理能谱谱线的重叠是保证能谱分析中定性分析的准确性和减少定量分析误差的关键。尽管采用电子计算机对重叠谱线和各种:干扰因素进行子数学处理和校正,然而在许多情况下还要凭人们的验经作最后的辨认和处理。否则,往往引起漏测元素或把重叠谱线误定为某个元素的特征X射线,从而造成定量分析的误差。     

岩石中低量稀土和其他痕量元素的X-荧光光谱测定

用X-荧光光谱测定岩石中低量稀土元素的仪器参数和测定条件,文已作过讨论。本文介绍样品分析所采用的基本校正,谱线重叠校正和背景处理方法,并将这些方法应用于其他少量和痕量元素的测定。     

岩石中低量稀土和其他痕量元素的X-荧光光谱测定

用X-荧光光谱测定岩石中低量稀土元素的仪器参数和测定条件,文[1]已作过讨论。本文介绍样品分析所采用的基本校正,谱线重叠校正和背景处理方法,并将这些方法应用于其他少量和痕量元素的测定。基体的吸收校正岩石样品中最重的主元素是铁,镧系元素La～Er的La线和Ti,Sc,Cr,Mn,Fe,     

硅酸盐岩石分析50年

评述了硅酸盐岩石分析在过去的50年中的主要进展。其中包括化学快速分析、仪器分析、痕量元素分析、微区分析和硅酸盐标准物质研制。     

半微量硅酸盐地质样品的X射线荧光光谱分析

利用X射线荧光光谱分析硅酸盐地质样品,取样的重量通常要几百毫克(一般情况下400—1000毫克)。但是在某些情况下,由于没有足够数量的样品用于通常的X射线荧光分析,因此必须利用某些特殊的方法。在这些特殊的方法中,除了使用X射线荧光探针法之外(Rose等,1969),通常采用各种薄样法。其中最简便的方法是将磨细的样品粉末,均匀地     

X-射线荧光光谱分析地质化探样中主要和痕量元素

岩石化探样中主要和痕量元素的测定,目前多半以ICP或XRF法为主,二种测试手段各有优势。本文应用8680X-射线光谱仪测定氧化镁,氧化铝,氧化硅,磷,氧化钾,氧化钙,氧化铁,氧化钠,钛,锰,锌,钒,铬,铷,铌,钇,锶,锆等元素。8680型系顺序/多道复合式X-射线光谱仪。试验证明,本方法简易、快速,结果满意。方法的变动系数最大为14.24％(Nb=15ppm),最小为0.01％(SiO2=77.27％)。     

多种类型地质样品中主要和次要元素的X-射线荧光光谱测定

X射线荧光光谱法(XRF)是地质样品中主要,次要组分分析的有力手段。地质样品种类很多,来源不同,各元素含量范围变化大,为了充分发挥仪器的效能,提高方法的适应性,有必要制定一个能适应于多种类型样品分析的方法。     

X射线荧光光谱法测定多种铁矿和硅酸盐中主次量组分

采用熔融玻璃法,用Axios型X射线荧光光谱仪测定铁矿和硅酸盐中Fe2O3、SiO2、A l2O3、TiO2、CaO、MgO、SO3、MnO、V2O5、K2O、P2O5、Na2O、Co和N i等组分含量。使用理论α系数和经验系数法校正基体效应,经标准物质检验,分析结果与标准值基本吻合。用钒钛磁铁矿GBW 07225国家一级标准物质进行精密度试验,统计结果除K2O、P2O5、N i的RSD<15%,其余大多数组分的RSD<4.0%(n=12)。     

白云石的晶体结构特征和X-射线研究

本文讨论了白云石的晶体结构特征和有序-无序问题.发现了面网间距d_(116)与白云石中CaCO_3含量之间有良好的相关关系。面网间距可以用X-射线粉晶衍射方法测定,于是可以用d_(116)值换算出白云石的成分。其结果表明,X-射线粉晶衍射方法可以广泛用来研究天然产出的白云石。     

理学3080型X-射线荧光光谱仪几种故障的检修

X-光谱仪在长期运转中，往往由于一些部件磨损、松动和损坏，而发生一些故障。为使仪器正常运转，需要对故障及时进行修理。为此，我们曾分别发表了TAP、PET等分光晶体的表面处理和热交换器几种常见故障修理。现仅就理学3080型X-射线荧光光谱仪分光室漏气和晶体转换器中直流马达更换等几种故障的修理作一简述。     

便携式X射线荧光光谱仪在岩石样品分析中的应用研究

便携式X射线荧光光谱仪(PXRF)因具有快速、无损检测元素含量的能力,通常被用于野外或实验室地质样品的元素含量检测工作中,对于大多数地质样品,在2 min内就能够获得几十种元素的半定量-定量分析结果。但在实际应用中,被测样品的表面平整度、样品中物质的均一性和施测时间等因素都会影响元素分析结果。为了进一步了解样品类型和分析测试方法等因素对元素分析的具体影响,本文对比了PXRF与实验室分析结果、岩石和粉末样品PXRF分析结果、不同检测时间所得PXRF分析结果的关系,在不损失过多分析精度的前提下提出了通过PXRF降低勘查成本、提高工作效率的方案。结果表明:用PXRF直接分析岩石样品时,大多数元素的分析结果可靠性较差,尤其是成矿预测工作中常用的Cu、Pb、Zn、As和Ni等元素;粉末样品的PXRF分析结果与实验室分析结果具有较好的相关性,表明对岩石样品进行粉碎处理能够明显改善PXRF分析质量;元素种类不同,岩石和粉末样品PXRF测量结果的相关性也不同。因此,在实际工作中可以根据感兴趣的目标元素确定是否需要对岩石样品进行粉碎制样处理;检测时间对元素含量分析结果没有明显影响,对于特定元素,如果能够在较短时间内获得其含量信息,则无需增加检测时间。