在线分析氯化钙的X射线吸收法

本文叙述了一种在线分析氯化钙的X射线吸收法。由于X射线直接透过等厚度的成分类似的被测对象,X射线强度随着氯化钙的浓度变化而变化,射线被充Xe气体的正比计数器接收,用单道谱议鉴别指示。在氯化钙浓度450—550g/L的情况下,在线分析精度与准确度均优于±1％     

第七届全国X射线光谱学术报告会征文通知

为促进我国X射线光谱分析学术交流,展示国内在该领域研究和应用的最新进展,推动现代分析测试技术的发展,决定于2008年10月20—25日在海南三亚召开第七届全国X射线光谱学术报告会,会期5天。会议由中国地质学会、中国硅酸盐学会和中国光谱学会主办,国家地质实验测试中心承办。会议期间,特邀请国内外著名X射线荧光分析专家等作专题报告。热忱欢迎广大从事X射线光谱分析及相关领域工作的人员踊跃投稿和积极参加会议。征文主题:X射线光谱分析新理论、新技术、新方法、新仪器以及新应用。包括:(1)同步辐射X射线光谱分析;(2)聚束毛细管微束X射线光谱分析技术;(3)新型能量探测器技术的发展与应用;(4)X射线光谱分     

能量色散X射线荧光分析的应用——内标法分析硅酸盐中Sr、Rb

波长色散X射线荧光光谱分析在国内一些较大的无机分析研究所和实验室比较常见亦较为成熟。而能量色散X射线荧光光谱分析(以下简称X荧光能谱分析)的应用在国内还不多见。有几个单位开展了以放射源作激发源的X荧光能谱分析,由于受放射源强度的限制,所以分析灵敏度低。我们利用中子活化分析用的美国SCORPIO—3000系统程序控制多道能谱仪和Si(Li)探测器,以及一台苏制YPC—50M型X光机并自制试样架,组成一台X荧光能谱仪(图1),开展X荧光能谱分析,实现了能谱仪多功能利用。     

应用同位素放射性X—射线荧光分析法测锡效果的试验

携带式同位素放射性X—射线荧光分析,是一种非破坏性(对样品)的仪器分析方法。笔者在某地区地质普查中使用重庆地质仪器厂制造的HYX—1型X射线荧光仪,对原生露头、次生晕土壤、中强异常检查、槽探和钻孔岩心等工程中的花岗岩、灰岩、砂岩和矽卡岩等不同岩性进行了室内粉样和现场测锡工作,获得了与化学分析和光谱分析较一致的理想结果。为该地区圈出四个异常范围、发现了新的锡矿化,指导了探矿工程的布置。     

半微量硅酸盐地质样品的X射线荧光光谱分析

利用X射线荧光光谱分析硅酸盐地质样品,取样的重量通常要几百毫克(一般情况下400—1000毫克)。但是在某些情况下,由于没有足够数量的样品用于通常的X射线荧光分析,因此必须利用某些特殊的方法。在这些特殊的方法中,除了使用X射线荧光探针法之外(Rose等,1969),通常采用各种薄样法。其中最简便的方法是将磨细的样品粉末,均匀地     

粉末样品中主,次量元素的XRF法分析—理论a系数与内标校正法

本文继《岩石中多元素的X射线荧光光谱测定—经验系数法》的工作之后,又进行了理论。系数法用于粉末样品的分析研究。并对两者进行了比较。认为:理论α系数法优于经验α系数校正法,并具有一些突出的优点—较宽的分析范围和好的分析精度。本法对痕量元素的分析,采用散射内标校正法。     

一种仿金刚石膜的研究

针对客户声称的表面覆金刚石膜（DF）的合成立方氧化锆进行常规宝石学检测,结果发现,样品为覆膜合成立方氧化锆,但样品表面的覆膜层硬度低、光滑平整,与多晶金刚石膜的粒状结构及单晶金月1石膜表面定向排列的突起等特征均不相同。为了确定表面覆膜层的成分,采用小角X射线衍射仪、X射线光电子能谱仪和红外光谱仪对样品表面的覆膜层进行了物相分析、化学成分分析及谱学测试。X射线衍射分析表明样品表面的覆膜层属于非晶物相;X射线光电子能谱分析表明样品的膜层主要化学成分为C,F。结合薄膜材料资料分析,初步确定其表面覆膜层可能属于非晶氟化碳（a—C：F）膜;红外光谱分析结果显示样品表面的膜层所导致的1068cm-1处的特征峰,进一步验证了X射线衍射分析结论。综合结果表明,该样品表面的覆膜层为非晶氟化碳（a—C：F）膜,是一种仿金刚石膜。     

章氏硼镁石X射线粉末图的指标化及晶胞参数测定

章氏硼镁石是我国发现的一种新硼酸盐矿物,产于我国某现代内陆盐湖沉积层中。其化学式为MgO·2B_2O_3·9H_2O 纯白色,比重1.732。晶粒极小,显微镜下测定直径为0.02—0.04毫米。二轴晶负光性,2V=36。 天然的和人工合成的章氏硼镁石晶体均很小,无法进行X射线单晶分析工作,因此该矿物发表时缺少一些有关晶体结构的基本资料,对X射线粉晶分析结果也未做指标化工作。     

X射线荧光技术在锑矿上的应用

应用轻便X射线荧光仪和X射线荧光测井仪,在我国某锑矿上进行了试验.对锑矿粉末样品、锑的化探样品、原始产状锑矿X射线取样、块状岩心及充满泥浆的锑矿钻孔进行了分析测量,并与化学分析比较,结果十分一致.特别是在消除基体效应方面取得了良好的效果. 放射性同位素X射线荧光技术在地质勘探工作中应用的特点是:仪器轻便,射线防护简单,操作容易,便于现场使用,测量速度快,对样品中元素含量能进行定量或半定量测定.在普查找矿阶段,可用来对某些地质远景地段进行及时检查,从而加速岩体评价.在化探工作中,可对中等强度以上的化探分散晕异常地段和水系底部沉积物的淘洗重矿物进行半定量或定量测量,     

刚玉、莫来石的X射线定量分析

本文简述了X射线对矿物的定量分析方法。采用〔日〕D/Max—ⅡA型自动X射线衍射仪测定了刚玉的参比强度,并对刚玉作了精密测定和两个人工合成莫来石进行了鉴定。     

扫描电子显微镜X射线能量色散谱仪在宝玉石鉴定中的应用

介绍了在低真空模式下扫描电子显微镜配装X射线能量色散谱仪检测宝玉石的原理与方法。对比与评估了宝玉石样品的X射线能量色散谱仪的无标样定量分析数据与其标准数据,讨论了扫描电子显微镜配装X射线能量色散谱仪在宝玉石检测分析中存在的问题。通过与其它宝玉石检测分析仪器如X射线荧光分析仪、X射线粉末衍射仪、傅里叶变换红外光谱仪及激光拉曼光谱仪比较后认为,扫描电子显微镜配装X射线能量色散谱仪对宝玉石无损分析鉴定是最方便、有效的手段之一。     

X射线荧光光谱分析在我国铁矿石分析中的应用

系统介绍了20世纪90年代以来X射线荧光光谱分析（XRF）在我国铁矿石分析中的应用,包括粉末压片法和熔片法两种最基本的分析手段,主要内容集中在熔片—波长色散X射线荧光光谱分析法在我国铁矿石分析方面的测试技术,重点介绍了熔剂的类型、配比、熔片方法、熔融温度以及钴内标的使用,同时介绍了基体效应校正、谱线重叠校正等方面的内容。     

全国X射线计算机软件交流会议在北京召开

1990年4月24日—27日由中国物理学会X射线衍射专业委员会、中国地质学会矿物X射线晶体学委员会、华北地区X射线联合会和北京市理化测试学会联合举行的全国X射线计算机软件交流会议在北京胜利召开。来自全国17个省、市的高等学校。研究院(所)以及工厂等部门的六十多位代表参加了会议。他们中间有著名的教授、副教授,研究员,副研究员。高级工程师以及具有丰富实践经验和一定理论水平的青年     

能量色散X射线荧光分析的应用——内标法分析硅酸盐中Sr、Rb

波长色散X射线荧光光谱分析在国内一些较大的无机分析研究所和实验室比较常见亦较为成熟。而能量色散X射线荧光光谱分析(以下简称X荧光能谱分析)的应用在国内还不多见。有几个单位开展了以放射源作激发源的X荧光能谱分析,由于受放     

现场X射线荧光分析技术

本文从携带式X射线荧光仪器、现场分析技术和技术应用三方面论述了现场X射线荧光分析技术的进展.从X射线激发源、X射线探测器和电子线路单元等角度,将携带式X射线荧光仪划分为四代,即以放射性同位源为激发源、以NaI(Tl)闪烁计数器为X射线探测器为技术特征的第一代仪器;以放射性同位素源和正比计数器为技术特征的第二代仪器;以放射性同位素、电制冷半导体探测器和以嵌入式微处理器为控制核心的多道脉冲幅度分析器为技术特征的第三代仪器;以低功率微型X射线发生器为激发源、电制冷半导体探测器和全数字化X射线能谱采集器为技术特征的第四代仪器.在现场分析技术方法方面,论述了X射线仪器谱解析技术、基体效应校正技术和现场原位分析中不平度效应、湿度效应、荧光颗粒不均匀效应校正技术进展.介绍了现场X射线荧光分析技术在地质矿产普查、环境污染调查、文物现场鉴定和合金分析等领域的应用进展.指出了目前国产携带式X射线荧光仪处于第三代和第四代仪器水平之间,低功率微型X射线发生器和电制冷半导体探测器还依赖于进口,全数字X射线能谱采集器还有待商品化;现场多元素分析的准确度和方法检出限都有待进一步改善;便携式仪器的应用领域有待拓宽.     

粉末样品中主、次量元素的XRF法分析——理论α系数与内标校正法

本文继《岩石中多元素的X射线荧光光谱测定—经验系数法》的工作之后,又进行了理论。系数法用于粉末样品的分析研究。并对两者进行了比较。认为:理论α系数法优于经验α系数校正法,并具有一些突出的优点——较宽的分析范围和好的分析精度。本法对痕量元素的分析,采用散射内标校正法。     

原位微区X射线荧光光谱分析装置与技术研究进展

原位微区X射线荧光(Micro-XRF)光谱分析技术是X射线光谱学领域一重要分支。近年来X射线毛细管光学透镜聚焦技术不断进步,以实验室X光源为基础的原位微区X射线光谱分析装置与应用技术快速发展,已成功应用于多领域样品的原位、多维、动态和非破坏性微区分析。文章介绍了近年来X射线毛细管光学透镜技术发展和原位微区X射线光谱分析装置研制进展,对近年来micro-XRF光谱分析技术在大气气溶胶颗粒物分析与来源识别、考古样品产地和真伪鉴别、古气候古环境重建研究中沉积纹层样品元素分析,以及刑侦科学中指纹样品的鉴定等应用领域进行了系统介绍,阐述了micro-XRF光谱分析技术性能的影响因素(空间分辨率和强度增益)。micro-XRF光谱分析技术不仅可以获取样品表面的信息,还能够获取样品内部的信息,成为目前国际上一门迅速发展的竞争技术。我国在毛细管透镜制造技术与性能研究,以及micro-XRF应用领域取得了重要进展。由于X射线焦斑尺寸对能量的依赖性以及样品基质对X射线的吸收效应,在微区定量分析中易引入较大误差,利用X射线毛细管透镜获取更小光斑尺寸与高稳定性的X射线光束,提高micro-XRF分析技术的空间高分辨率性能和对基体效应进行校正实验将是今后一个重要的研究目标和分析研究难点。     

金的中子活化放射性照相实验

中子活化放射性照相的基本原理是:应用微型核反应堆对地质样品中的元素进行中子活化[核反应通式:~(197)Au(n,γ)—~(198)Au],然后用X射线胶片记录样品中放射性同位素衰变所发出的γ射线,在X射线胶片上能清楚地显示出样品中多种元素的分布状态。结合镜下观察,可以对样品中的多种金属元素(如Fe、Sb、As、Na等)在X射线胶片上的不同感光作用进行分辨。     

X射线能谱仪的发展及对矿物学的影响

在伦琴发现X射线的早些年代里,不同能量的X射线是根据它们的穿透物质的能力来区分的。布拉格利用晶体衍射把不同波长的X射线区分开。莫塞莱利用此种方法得到了许多X射线谱,此种方法至今仍用于X射线的测量及研究。无论使用何种方法对X射线进行测量,都需要一个合适的X射线探测器。最早的探测器为盖格计数管,后改用正比计数器及闭烁计数器。七十年代初期,固体探测器经过短时间的发展和完善,目前已广泛用于X射线测量。X射线能谱仪可应用于矿物学的研究。     

X射线荧光分析仪用靶自动控制系统的设计

X射线荧光分析仪用靶自动控制系统主要由步进电机及其控制电路、光电检测电路、靶盘和齿轮传动五部分组成。该系统采用了单片机控制步进电机,从而驱动靶盘按要求转动相应的角度,并通过光电检测电路进行闭环控制,最终实现能量色散X射线荧光分析中靶的自动更换,解决了长期以来依靠人工更换靶的问题,提高了工作效率和安全性。该控制系统的靶中心点定位偏差不大于1 mm,并能满足能量色散X射线荧光测量工作中的测量要求。