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一种改进的X荧光分析基体效应校正方法及软件实现 总被引:2,自引:2,他引:0
在能量色散 X 荧光谱分析中,使用罗兹方程法校正基体效应,存在一定的局限性。为了获得最佳校正效果,本文提出了一种改进的基体效应校正法。该法是以罗兹方程为基础,在校正模型中引入特散比,并加强待校正元素在模型中作用的一种经验系数法。为了能够快速地对地质样品进行批量分析,在 W indow s98 平台上,运用 V C+ + 5.0 工具编制了分析软件,由其完成全部校正分析过程。 相似文献
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在自然γ能谱全谱分析中,为了分离无用信息及提高解释精度,须进行γ全谱连续本底的自动扣除。介绍了γ能谱本底的来源及特征,探讨了SNIP算法扣除γ能谱本底的数学原理及过程,重点开展了SNIP方法在γ能谱本底扣除中的初步应用。通过对三个不同能量的全能峰的比较分析,指出应根据γ能谱中谱峰宽度的差异,选择合适的变换宽度,以便获得最佳的全谱本底扣除效果。实验证明,该技术可应用于自然γ能谱测井的软件处理平台中。 相似文献
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单矿物光谱分析中增强剂的选择及机理探讨 总被引:1,自引:0,他引:1
研究利用各元素的物理化学特征,选择合适的增强剂,用以提高单矿物分析的绝对灵敏度、消除组成影响、提高分析结果的再现性和准确度,对增强剂的机理进行了探讨。 相似文献
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利用X射线荧光光谱法测定铝土矿中主成分Al2O3、SiO2、Fe2O3、TiO2.采用四硼酸锂-偏硼酸锂作熔剂,溴化锂作脱模剂,国产高频熔样炉高温熔融制备玻璃圆片,以标准物质制作校准曲线进行测定,并与化学法进行对照,结果基本一致.方法操作简单、快速,准确度和精密度均达到国家标准方法规定的要求,已用于实际生产中. 相似文献
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X射线荧光光谱分析中不同价态硫对测定硫的影响及地质试样中全硫… 总被引:2,自引:3,他引:2
研究工作表明在粉末压片试样中,由于不同价态的硫所发射的X射线谱发生位移,Ka/kβ谱线强度比不一致;以及粉末压片-XPE测定硫的结果随保存时间的增长发生变化,导致了分析地质试样中全硫时的测定误差,提出采用熔融粉末压片法制样,试样中硫全面部转为在硫酸盐硫,克服了谱线位移和试样不稳定问题,提高了全硫分析结果的准确性。 相似文献
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对X射线荧光光谱分析检出限问题进行了探讨,通过实验指出行标DZ/T 130-2006有关检出限计算公式的不足在于对测量时间的过分依赖,使检出限这一重要参数失去实际意义,需要重新科学定义。 相似文献
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淤泥有机含量高,压缩性强,力学强度低,极易引发建(构)筑物的不均匀沉降或沉陷等工程地质灾害。其中,空架状结构是华南淤泥微观结构的显著特征,物质和孔隙的不均匀分布导致代表性微观结构剖面不易提取,制约了土体微宏观性质的深入研究。本文利用同步辐射显微CT技术对大亚湾淤泥进行微观结构分析,获取了无损样品的连续结构,避免单一结构剖面提取的盲目性。为了避免时间空间影响、无损样品的结构数据的三维空间离散性,研究基于波谱数据分析、样本数离散程度等定量指标,量化并探讨孔隙比、形状系数等基础结构数据。淤泥在主固结过程中,三维空间的孔隙比、形状系数等样本数据的离散程度先增大后减小;在次固结阶段,样本数据的离散程度再次呈现增大的趋势。由此定量分析离散程度,既量化了固结过程中微观结构的不均匀程度,又反映淤泥在固结作用中的变化规律。研究表明,在逐渐增加的固结压力下,淤泥呈现均质-非均质,继而又均质化的结构演化特征。 相似文献
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关于矩形基坑中突涌问题的分析与探讨 总被引:5,自引:0,他引:5
从分析基坑中发生突涌的机制出发,运用弹性薄板理论,探讨了在不满足压力平衡条件下进行施工时,基坑突涌的验算问题,推导出判别矩形基坑是否由于剪切破坏或挠曲破坏而发生突泽的判别式。 相似文献
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氢化物-无色散原子荧光光谱法在化探分析中的应用 总被引:4,自引:0,他引:4
本文对氢化物-无色散原子荧光光谱法在化探分析中的应用进行了全面的综述。与氢化物-无色散原子吸收光谱法比较,所提出的技术具有下列优点:仪器比较简单,惰性气体消耗量较少,气相干扰少,较适用于多元素同时测定。本文还讨论了氢化物-无色散原子荧光光谱法进一步发展所涉及的有关问题。 相似文献
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地面γ能谱资料研究中若干问题的探讨 总被引:4,自引:2,他引:4
本文根据铀钍元素性质的差异及其关系,论述了地壳中古铀及活性铀的研究方法。从铀的迁入、迁出特征,将富铀钍地质体分为铀源体、富铀体、含铀体,并给出了定义和在华北地台的划分标准;对三种地质体的存在与否及组合特征与铀成矿前景的关系进行了讨论,并举出了我国西北地区的一些具体实例。 相似文献
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作者在本文中介绍了基于PC和Windows 9X平台下用中断方式实现数据采集的方法;并对虚拟设备驱动程序(VxD)和VtoolsD工具箱进行了简要介绍,通过对源代码的分析,说明了实时硬件中断VxD的实现过程。 相似文献
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拟定了粉末样品压饼X射线荧光光谱进行硅酸盐分析的方法,并考查了粒度的影响,将样品研磨至φ0.06mm,可满足试验的要求。经地质标样分析及实际应用验证,方法可行。 相似文献
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采用玻璃熔片法制样,建立了重晶石中多元素X射线荧光光谱分析方法.准确称取待测样品0.5000 g,X射线荧光专用熔剂5.000 g;二者混合后,通过高频熔样机在1150℃进行熔片处理8 min;将最终得到的样片放入干燥器中冷却至室温,然后准确称取玻璃片质量;上机测试,所得到的数据为该元素在玻璃片中的含量;通过换算最终得到实际样品中的该元素含量.使用理论α系数法和经验系数法相结合来回归校正共存元素间的吸收增强效应.本方法对于重晶石中各元素的测试相对标准偏差处于0.2%~4.7%之间,方法检出限在3.3×10-6~170.6×10-6之间.测试数据通过与国家标准物质比对,结果合理. 相似文献