X射线荧光技术在胶东地区现场勘查金矿的研究

应用核物探X射线荧光技术，可以利用轻便型X射线荧光仪在野外原生产状条件下（在土壤中或原生露头上）直接测量，了解金矿的指示元素或指示元素总量（如砷、亲铜元素组和银组）的分布规律。由于金与其指示元素或其总量具有密切的相关关系，而且指示元素的分布范围宽广和深远，因     

新疆北山地区金矿的X射线荧光找矿标志

文章探讨了在新疆北山地区特殊地质环境下，采用现场Ｘ射线荧光测量找金的方法技术问题。提出适合于该区快速找金的Ｘ射线荧光找矿最佳指标元素为铁、铜、砷，铁和铜的Ｘ射线荧光异常出现在垂直于金矿（化）体走向的两侧，砷的Ｘ射线荧光在金矿（化）体上呈现异常。     

现场X射线荧光分析技术

本文从携带式X射线荧光仪器、现场分析技术和技术应用三方面论述了现场X射线荧光分析技术的进展.从X射线激发源、X射线探测器和电子线路单元等角度,将携带式X射线荧光仪划分为四代,即以放射性同位源为激发源、以NaI(Tl)闪烁计数器为X射线探测器为技术特征的第一代仪器;以放射性同位素源和正比计数器为技术特征的第二代仪器;以放射性同位素、电制冷半导体探测器和以嵌入式微处理器为控制核心的多道脉冲幅度分析器为技术特征的第三代仪器;以低功率微型X射线发生器为激发源、电制冷半导体探测器和全数字化X射线能谱采集器为技术特征的第四代仪器.在现场分析技术方法方面,论述了X射线仪器谱解析技术、基体效应校正技术和现场原位分析中不平度效应、湿度效应、荧光颗粒不均匀效应校正技术进展.介绍了现场X射线荧光分析技术在地质矿产普查、环境污染调查、文物现场鉴定和合金分析等领域的应用进展.指出了目前国产携带式X射线荧光仪处于第三代和第四代仪器水平之间,低功率微型X射线发生器和电制冷半导体探测器还依赖于进口,全数字X射线能谱采集器还有待商品化;现场多元素分析的准确度和方法检出限都有待进一步改善;便携式仪器的应用领域有待拓宽.     

管激发X射线荧光仪在金矿勘察中的应用

介绍了采用小型X射线管激发源、电制冷Si-PIN探测器及笔记本微机能谱分析等最新技术的高灵敏度野外X射线荧光分析系统。使用该系统在四川某金矿进行初步勘探应用研究。利用成矿组分中高品位元素As与Au的密切相关关系，采用X射线荧光测量在现场快速划定金矿靶区的范围，同时可以指导野外地质采样。     

X射线荧光技术在萨尔布拉克金矿区的综合应用

本文介绍了利用 X射线荧光技术在萨尔布拉克金矿区现场开展地质研究等方面综合应用的一些事例 ,说明将荧光技术和地质、物化探成果有机结合能扩大其在金矿区的应用范围     

X射线荧光光谱法直接测定地质样品中多种痕量元素

采用低压聚乙烯镶边垫底的粉末压饼法制样,Ｘ射线荧光光谱法直接测定了地质样品中痕量元素Ａｓ、Ｇａ、Ｓｃ、Ｌａ、Ｙ、Ｃｅ、Ｗ、Ｍｏ、Ｓｎ、Ｃｏ和Ｐｂ。讨论了背景校正、谱线重叠校正、基体效应校正和仪器漂移校正等问题。利用理论α系数代替经验系数,使方法具有较高的准确度和较低的检出限。所测１１个元素的检出限在（０．３０～２．０２）×１０－６水平,精度（ＲＳＤ,ｎ＝１１）在０．９５％～１３．０％。方法经国家一级标准物质分析验证,结果与标准值相符。     

X射线荧光技术及其在江西金山地质找矿上的应用效果

简介了应用HYX-1型X射线荧光仪及“金一号”平衡滤片对江西金山金矿的样品进行的室内含Au量分析。应用X荧光分析测量结果对该矿区矿体垂向上变化规律、含金的贫富分布变化进行分析,通过与化学分析、热发光方法分析的对照,说明了X射线荧光技术的实用意义。     

X射线荧光技术在野外勘查金矿中的应用

介绍了现场X射线荧光勘查技术的理论基础、仪器设备和运用X荧光分析仪测量伴生或共生元素含量找金的方法应用。应用X射线荧光法在野外现场直接测定多元素含量的变化,列出金与其指示元素之间密切相关关系,可在野外现场圈定金矿远景区和追索隐伏矿体,具有重要意义。     

海底X射线荧光探测技术及其应用研究

介绍一种新的海底X射线荧光探测系统,提出了天然沉积物水份对现场X射线荧光测量影响的散射校正模型.经水底砂介质模型和船上天然海底沉积物的试验表明,该探测系统在无液氮冷却条件下能够实现对水底沉积物的原位测量,且一次可同时完成5~10余种元素的定性、定量测定,其检出限可达(10~200)×10-6,这是一种快速、经济、准确和有效的现场原位分析技术.     

地质样品X射线荧光分析中的背景相关曲线及其应用

采用粉末压片-X射线荧光法,测量了水系沉积物、土壤、岩石等国家一级标准物质。对用LiF(200)晶体在20.70°～48.00°衍射角(2θ)得到的X射线背景数据进行了研究。以30.97°和25.70°(2θ)为参考背景角度,进行了背景曲线的幂函数拟合,背景相对强度的拟合回代值与实测值的相对误差小于2.6%,多数小于1%。利用该拟合函数,可以计算出20.70°～48.00°内任意两个角度下的背景比值(背景系数)。因此,实验中可以根据情况选取合适的公共背景角度,并用拟合函数计算各元素谱峰角度处的背景系数。可采用公共背景法的元素数为13个左右,适当延长公共背景点的测量时间,可以降低背景的统计涨落。     

原位微区X射线荧光光谱分析装置与技术研究进展

原位微区X射线荧光(Micro-XRF)光谱分析技术是X射线光谱学领域一重要分支。近年来X射线毛细管光学透镜聚焦技术不断进步,以实验室X光源为基础的原位微区X射线光谱分析装置与应用技术快速发展,已成功应用于多领域样品的原位、多维、动态和非破坏性微区分析。文章介绍了近年来X射线毛细管光学透镜技术发展和原位微区X射线光谱分析装置研制进展,对近年来micro-XRF光谱分析技术在大气气溶胶颗粒物分析与来源识别、考古样品产地和真伪鉴别、古气候古环境重建研究中沉积纹层样品元素分析,以及刑侦科学中指纹样品的鉴定等应用领域进行了系统介绍,阐述了micro-XRF光谱分析技术性能的影响因素(空间分辨率和强度增益)。micro-XRF光谱分析技术不仅可以获取样品表面的信息,还能够获取样品内部的信息,成为目前国际上一门迅速发展的竞争技术。我国在毛细管透镜制造技术与性能研究,以及micro-XRF应用领域取得了重要进展。由于X射线焦斑尺寸对能量的依赖性以及样品基质对X射线的吸收效应,在微区定量分析中易引入较大误差,利用X射线毛细管透镜获取更小光斑尺寸与高稳定性的X射线光束,提高micro-XRF分析技术的空间高分辨率性能和对基体效应进行校正实验将是今后一个重要的研究目标和分析研究难点。     

X射线荧光光谱分析技术在过程分析中的应用

X射线荧光光谱(XRF)分析作为过程分析化学中一门富有成效的分析技术,在现场分析、流程控制中发挥了积极的作用。文章评述了XRF分析在冶金、地质、采矿、选矿等方面的应用概况以及在国内此领域的发展。     

全反射X射线荧光光谱法同时测定天然水中多种元素

利用自行研制的有３个反射体的全反射Ｘ射线荧光分析仪,以Ｓｅ作内标,同时测定天然水中的痕量Ｎｉ、Ｃｕ、Ｚｎ、Ｐｂ、Ｒｂ和Ｓｒ。对纳克级元素,方法的检出限为１０－１０～１０－１１ｇ,水样分析结果与无火焰原子吸收法和ＩＣＰ ＭＳ法相符,精密度好,对纳克级痕量元素测定的ＲＳＤ（ｎ＝５）小于７２％。