扫描电子显微镜X射线能量色散谱仪在宝玉石鉴定中的应用

介绍了在低真空模式下扫描电子显微镜配装X射线能量色散谱仪检测宝玉石的原理与方法。对比与评估了宝玉石样品的X射线能量色散谱仪的无标样定量分析数据与其标准数据,讨论了扫描电子显微镜配装X射线能量色散谱仪在宝玉石检测分析中存在的问题。通过与其它宝玉石检测分析仪器如X射线荧光分析仪、X射线粉末衍射仪、傅里叶变换红外光谱仪及激光拉曼光谱仪比较后认为,扫描电子显微镜配装X射线能量色散谱仪对宝玉石无损分析鉴定是最方便、有效的手段之一。     

现场高灵敏度X射线荧光探矿技术的研究

介绍了一种新型便携式高灵敏度X射线荧光仪的研制及其在地质勘查中的初步应用.仪器基于电致冷Si-PIN半导体X射线探测器和微机多道(2048道)谱仪系统,整机重4.2 kg(探头重0.8 kg).以同位素源产生的X射线激发样品,对铜、锌、砷等元素的分析检出限为10×10-6 g/g,适用于野外现场的天然岩石、土壤和水系沉积物的多元素含量的定量测定,以及工业原料、半成品、产品快速分析.     

新一代便携式X射线荧光仪及其在铀分析中的初步应用

本文主要介绍了新一代便携式X射线荧光仪在铀分析中的应用研究.该仪器主要由电制冷Si-PIN半导体X射线探测器和内嵌工控微机多道谱仪系统组成,整机重约2 kg,利用同位素源产生的X(γ)射线激发待测样品.进行241Am源和109Cd源在对铀的激发效率、基体干扰方面的对比分析研究,选出了241Am源作为分析铀元素的同位素激发源,并测定了该仪器对铀元素的探测下限,为今后的铀矿勘查、开采提供了一种新型、轻便、现场快捷的分析技术和手段.     

CFX—Ⅰ型弯晶X射线光谱仪

X射线荧光光谱仪,作为快速定量测定多元素的大型精密分析仪器,在有关科研和生产部门已得到较广泛的应用。但是,过去这项仪器的制造技术,为少数国家所垄断。近年来,我国已有少数单位在技术上有所突破,完成了个别样机的研制,不过一时尚难满足全国的需要。我所本着自力更生的方针,在钢铁研究院和丹东仪器厂等兄弟单位的支援下,苦战三年多,现已制成CFX—Ⅰ型弯晶X射线荧光光谱仪(简称X光谱仪),解决了当前测定工作的急需。现将该仪器的原理、结构、性能、使用情况等简述如后。     

微束微区X荧光矿物探针分析仪的研制

一种新的矿物微区成分分析技术与矿物探针分析仪主要针对显晶或隐晶矿物的成分分析。该分析仪是以能量色散X射线荧光分析原理为物理基础,采用X光管和X聚焦透镜组成微束X射线激发源、以电致冷Si-PIN半导体探测器为X射线探测器和数字X射线谱采集器组成能量色散射线X荧光分析系统;采用40倍光学放大和CCD相机相合实现微区的显微放大,通过程控三轴微控台实现微区的定位。该探针分析仪能够实现对样品表面Φ35μm范围内多元素定性与定量分析,快速鉴定矿石的物质成分,精确度好于10%(RSD)。测定对象可以是天然岩石、矿石及其光片、薄片样品等;可应用于野外条件下的现场和驻地的岩矿石矿物的微区快速成分分析。     

GP-1型γ射线谱仪能谱漂移的手动补偿装置及其在铀镭平衡破坏样品分析中的应用

为解决GP-1型γ射线谱仪能谱漂移的问题,在前置放大器与主放大器之间加一个螺旋电位器,使之可手动连续调节信号幅度,确保谱仪在运行中系数不变。叙述了B-γ-γ能谱法测铀、镭、钍的原理及含量的计算公式,并用改进了的GP-1型γ射线谱仪测定了铀镭平衡破坏样品中的铀,镭、钍含量。本工作相化学方法分析的结果是符合的。     

电子探针分析技术进展及面临的挑战

电子探针是研究地球与行星物质组成最基础的微束分析技术。近年来,固体地球科学和行星科学的不断发展,促使电子探针分析技术取得了一系列进展:矿物微量元素分析、稀土矿物测试方法完善、副矿物定年、富Fe矿物/熔体Fe~(3+)含量测定、场发射电子探针及软X射线分析谱仪的开发及应用等。同时,电子探针分析技术也面临着诸多挑战:微量元素测试在降低检测限的同时,还需要提高分析的准确度和精确度;降低二次荧光效应的影响;场发射电子探针在低电压下需要建立全新的分析条件和校正方式。基于这些挑战,电子探针未来在微量元素监测标样开发、二次荧光效应校正、场发射电子探针及软X射线分析谱仪应用、波谱仪完善和微区多种分析技术集成等方面具有发展潜力,以便为地学样品的研究提供更丰富、更准确的微米尺度成分信息。     

山西晋城和阳泉地区石炭系太原组铵伊利石矿物特征及成因

铵伊利石是伊利石层间域的K+被NH+4替代而形成的类质同象.文中运用X射线衍射分析、傅里叶红外光谱分析以及热重—热流—红外光谱同步分析等手段,对山西晋城及阳泉地区的15号煤层夹矸及煤中矿物进行了研究,发现15号煤层夹矸和煤低温灰中黏土矿物以铵伊利石和高岭石为主,铵伊利石含量为21％～74％;X射线衍射图谱上d(001)...     

电子探针分析中一种新的背景测定法—背景计算法

在电子激发的X射线谱中,特征峰是重叠在背景谱上的。背景是射到靶上的电子减速而产生的初级连续X射线光谱。在电子探针定量分析中,测得的特征峰强度必须进行背景校正。波谱分析(WDA)中背景测量,以往是移动谱仪在特征峰的两侧,选取合适的测点进行测量得到,并用内插法求得峰下面的强度。这种办法测背景需时较长,而且     

碱性长石晶胞参数与结构状态的研究

碱性长石又名钾钠长石,是地壳上广泛分布的造岩矿物之一.近年来,用近代物理的方法(如X射线粉晶及单晶衍射、中子衍射、红外吸收谱及透射电镜等)进行深入的研究,已经揭示了该矿物的许多真实行为.在近期,长石的结构状态有序度、超结构状态(连生、出溶、晶畴、失步或反相,调制结构等)新概念的大量引入,为成岩成矿的研究提供新的信息.     

铬尖晶石类阳离子成分和位置分布的X射线粉末法研究

随着铬铁矿物质成分与成矿规律研究的不断深入,对铬尖晶石类质同象系列矿物的鉴定与研究也越来越深化了.本文通过简便的X射线粉晶分析方法,结合一定的理论计算(结构分析),对铬尖晶石系列矿物的阳离子成分及其位置分布进行研究,以便从矿物学的角度探讨尖晶石类阳离子的迁移与富集规律,为铬铁矿成矿理论研究提供一定的依据.     

原位微区X射线荧光光谱分析装置与技术研究进展

原位微区X射线荧光(Micro-XRF)光谱分析技术是X射线光谱学领域一重要分支。近年来X射线毛细管光学透镜聚焦技术不断进步,以实验室X光源为基础的原位微区X射线光谱分析装置与应用技术快速发展,已成功应用于多领域样品的原位、多维、动态和非破坏性微区分析。文章介绍了近年来X射线毛细管光学透镜技术发展和原位微区X射线光谱分析装置研制进展,对近年来micro-XRF光谱分析技术在大气气溶胶颗粒物分析与来源识别、考古样品产地和真伪鉴别、古气候古环境重建研究中沉积纹层样品元素分析,以及刑侦科学中指纹样品的鉴定等应用领域进行了系统介绍,阐述了micro-XRF光谱分析技术性能的影响因素(空间分辨率和强度增益)。micro-XRF光谱分析技术不仅可以获取样品表面的信息,还能够获取样品内部的信息,成为目前国际上一门迅速发展的竞争技术。我国在毛细管透镜制造技术与性能研究,以及micro-XRF应用领域取得了重要进展。由于X射线焦斑尺寸对能量的依赖性以及样品基质对X射线的吸收效应,在微区定量分析中易引入较大误差,利用X射线毛细管透镜获取更小光斑尺寸与高稳定性的X射线光束,提高micro-XRF分析技术的空间高分辨率性能和对基体效应进行校正实验将是今后一个重要的研究目标和分析研究难点。     

Ge(Li)γ谱仪测量~(235)U的丰度

~(235)Uα衰变时伴随着放出一系列γ射线,通过特定的γ射线强度测量可以定出铀中~(235)U的丰度。李坤等用称重总铀量——碘化钠γ谱仪测量了~(235)U的丰度。王德民等对这种方法作了改进。B.L.博耶(Boyer)等采用类似的原理制成了一种“奥克洛仪”,用来测定奥克洛(Oklo)反应堆样品的铀同位素组成。伦 奇巴(Ren Chiba)等指出用     

X射线能谱分析中谱线重叠问题

扫描电子显微镜上配接Si(Li)探测器X射线能谱仪,进行地质样品分析时,由于它的峰,背比值较低和谱线分辨率不如X射线波谱仪,尽管探测效率很高,仍然存在谱线的干扰或重叠现象。谱线的干扰或重叠现象主要划分为三个类型:相邻或相近元素同一线系(K、L、M)的谱线之间重叠;原子序数较低的K线系谱线与原子序数较高的L线系谱线之间的重叠;原子序数较低的K线系谱线与原子序数高的L线系谱线以及原子序数高的M线系谱线之间的重叠。为了保证X射线能谱分析中定性分析的准确性,本文介绍了辨认和处理干扰或重叠谱线的技巧。     

X射线荧光光谱在岩矿测试分析中的作用和地位

X射线荧光光谱是近代科学技术发展中建立起来的一门新的测试技术。从六十年代起,X射线荧光光谱得到了迅速发展,加上电算技术的应用,更加显示出了X射线荧光光谱的优越性,已经部分代替了一般的化学分析,解决了若干常量和微量元素的分析问题。现在,这种测试方法已被广泛运用到地质、冶金、煤炭、国防等科研和生产的许多部门。下面就X射线荧光光谱在岩矿测试分析中的几个问题简述于后,供同志们参考。     

活性二氧化硅的制备及其形态研究

将膨润土和酸作用,制备活性二氧化硅,并用 X 射线衍射、电镜对其物相组成和结构形态作了分析。简述了以蒙脱石,凹凸棒石为原料制备活性二氧化硅的原理及活性二氧化硅的结构和形态。     

GD—1型能量色散X射线荧光谱仪系统研制报告

一、概况 X射线荧光光谱仪分为波长色散和能量色散两大类。波长色散谱仪已有几十年的发展历史,业已高度自动化,并得到普遍应用。能量色散谱仪则是1966年硅(锂)半导体探测器问世以后才开始出现商品仪器的,自七十年以来受到分析家的重视。尽管其分辨率目前尚不如波长色散谱仪,但由于该谱仪具有简单、快速、体积小、造价低,可同时测定多种元素且不用分光晶体,没有高次谱线的干扰等突出的优点,近几年来又利用微型计算机将能量色散的     

四川铝土矿物质成分的扫描电镜研究

利用扫描电子显微镜和X射线能量色散谱仪对四川南川和乐山的碎(?)铝土矿,豆鲕状铝土矿以及土状,半土状铝土矿的物质成分及显微结构进行了研究。并与国内其他几个铝土矿床略作比较.为研究四川南川和乐山铝土矿床成因及矿石溶出性能提供了信息.     

粉晶X射线衍射法在岩石学和矿物学研究中的应用

X射线衍射是测定物质结构的主要分析手段,广泛应用于物理学、化学、医药学、金属学、材料学、工程技术学、地质学和矿物学。文章综述了粉晶X射线衍射法在造岩矿物、黏土矿物、岩组学、类质同象和结晶度的测定等领域发挥的重要作用。随着测量技术的发展,粉晶X射线衍射在矿物结晶过程中的研究、矿物表面研究、矿物定量相分析和矿物晶体结构测定方面均有新的应用。     

CE3玉兔号月球车APXS特征X射线能谱信息分析

通过对CE3玉兔号月球车粒子激发X射线谱仪（APXS）获取的数据进行处理,获得测点的累积特征X荧光计数率谱线,经小波滤波,消除放射性涨落对X荧光谱线的影响。由能量刻度获得了月球车着陆点月壤元素X射线特征能量峰,由此分析了着陆点月壤元素的成分,得知测量点月壤元素成分包括Si、Ca、Al、Mg、K、P、S、Fe、Ti、Ni、Cr、Mo、Sr、Y、Zr、Nb。研究结果为月陆地质演化提供了有利的参数制约。