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相似文献
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1.
全反射X射线荧光光谱法同时测定天然水中多种元素   总被引:4,自引:0,他引:4  
李国会  张天估 《岩矿测试》1998,17(2):123-126
利用自行研制的有3个反射体的全反射X射线荧光分析仪,以Se作内标,同时测定天然水中的痕量Ni、Cu、Zn、Pb、Rb和Sr。对纳克级元素,方法的检出限为10-10~10-11g,水样分析结果与无火焰原子吸收法和ICP MS法相符,精密度好,对纳克级痕量元素测定的RSD(n=5)小于72%。  相似文献   

2.
X射线荧光光谱法同时测定土壤样品中碳氮等多元素   总被引:14,自引:13,他引:14  
报道了采用粉末压片制样-X射线荧光光谱法测定土壤样品中C、N、S、Cl、Br、Hf、Mo、Sn、Se、Na、Mg、Al、Si、P、K、Ca、Ti、V、Cr、Mn、Fe、Co、Ni、Cu、Zn、Ga、As、Rb、Sr、Y、Zr、Nb、Ba、La、Ce、U、Th、Pb等38种元素的分析方法。着重研究了C和N的分析条件、存在问题和注意事项。所拟方法的检出限,精密度和准确度大多数满足覆盖区多目标地球化学调查样品分析质量的要求。  相似文献   

3.
X射线荧光光谱法测定海洋沉积物中35种元素   总被引:19,自引:1,他引:19  
李国会 《地质实验室》1997,13(4):225-229
采用混合熔剂熔融和粉末压片法制样,使用理论α系数和攻射线内标法校正元素间的吸收一增效应,用3080E2型X射线荧光光谱仪对试样中的35种元素进行测定,其分析结果的精密度和准确度可与化学法相媲美。  相似文献   

4.
X射线荧光光谱法测定硅酸盐岩石中25个元素   总被引:3,自引:0,他引:3  
  相似文献   

5.
X射线荧光光谱法测定钨矿中主次元素   总被引:2,自引:0,他引:2  
本文中笔者采用熔融玻璃片法制样,使用X射线荧光光谱法测定钨矿石中的钨、磷等主次元素,所用校准标样是用符合国家一级标准的物质由人工配制而成,并用理论α系数内标法及康普顿散射作内标校正基体效应,其分析结果与标准值相符.精密度统计结果显示,主、次量组分方法精密度(RSD,n=10)为0.371%~6.806%.该方法做到了简便、快捷、经济且减少环境污染.  相似文献   

6.
高灵敏度的全反射X射线荧光光谱仪的研制   总被引:8,自引:2,他引:6  
报道了由地矿部全反射X射线荧光光谱技术组研制的全反射X射线荧光(TXRF)分析仪。着重介绍了样机的全反射装置、分析特点、技术参数和应用验证,与国内外同类仪器主要技术指标进行对比表明,该样机主要技术指标基本上达到国际同类仪器水平。列出了23个元素的检出限范围(008~092ng),测定Sr的线性动态范围在3个数量级,对地气样品的分析结果与原子吸收光谱法相符。方法精密度好,水样测定中各元素的RSD(n=5)小于10%。  相似文献   

7.
王凯  金樱华  李晨  闵红  屠虹 《岩矿测试》2012,31(1):142-146
样品经硝酸微波消解,以镓为内标,采用全反射X射线荧光光谱法(TXRF)同时测定复混肥料中的钒、铬、锰、铁、镍、铜、锌、铅,方法检出限从铅的1.0μg/g到钒的7.0μg/g,精密度(RSD)铬为2.5%,铅为16%,除铅以外,其余元素的RSD均小于10%;方法回收率为80%~120%,Pb的回收率略低主要是由于化肥中As Kα谱线对Pb Lα谱线的干扰导致测定结果偏低。用TXRF和电感耦合等离子体发射光谱法(ICP-AES)测定不同复混肥料中各元素的含量,经统计检验,两种方法测定结果在95%置信区间内无显著性差异。对于金属元素含量较高的样品,TXRF法测定结果的相对标准偏差小于ICP-AES法。对于不同的复混肥料,在微量、痕量元素检测范围内,TXRF法具有较高的准确度和适用性,仪器使用和维护成本低,方法快速准确。  相似文献   

8.
采用粉末样品压片制样,水系沉积物及土壤国家一级标准物质作为标准,使用经验系数法和散射线内标法校正元素间的吸收增强效应,用X射线光谱仪对土壤样品中的Fe_2O_3、Cao、Cl、S、As、Ba、Br、Ce、Co、Cr、Ni、Cu、Zn等34种主次痕量元素进行测定,用国家一级标准物质GBW07452(GSS-23),GBW07405(GSS-5)和GBW07404(GSS-4)分析检验准确度和精密度,分析结果与标样标准值吻合,除Cl、S、As、Br、Ce、Co、Ni、Th、Sc、Hf、Nb、Nd的精密度小于10.00%以外,其他各元素精密度均在5.00%以内,各元素检出限均满足化探要求。  相似文献   

9.
X射线荧光光谱法直接测定地质样品中多种痕量元素   总被引:2,自引:0,他引:2  
邹海峰  苏克 《岩矿测试》1998,17(3):207-210
采用低压聚乙烯镶边垫底的粉末压饼法制样,X射线荧光光谱法直接测定了地质样品中痕量元素As、Ga、Sc、La、Y、Ce、W、Mo、Sn、Co和Pb。讨论了背景校正、谱线重叠校正、基体效应校正和仪器漂移校正等问题。利用理论α系数代替经验系数,使方法具有较高的准确度和较低的检出限。所测11个元素的检出限在(0.30~2.02)×10-6水平,精度(RSD,n=11)在0.95%~13.0%。方法经国家一级标准物质分析验证,结果与标准值相符。  相似文献   

10.
X射线荧光光谱法(XRF)是测定土壤和沉积物中锰的重要方法,具有制样简单、非破坏性测定、检测速度快等优点。目前用于建立工作曲线的土壤和沉积物标准物质的锰含量最高为2490mg/kg,采用XRF法测定受污染土壤和沉积物中的锰含量时易超出工作曲线测定范围。本文将锰标准溶液定量加入到土壤标准物质中,制备锰含量更高的校准样品,工作曲线的测定上限范围由2490mg/kg提高至3780mg/kg。该方法测定不同含量标准物质中锰含量的结果均在认定值范围内,实际样品的加标回收率为97.8%~108.3%,高含量锰的实际样品测定值与电感耦合等离子体发射光谱法测定值的相对偏差小于5.7%,相对标准偏差(RSD)小于0.4%(n=7)。实验结果表明该法测定锰含量高的土壤和沉积物的准确度和精密度良好。  相似文献   

11.
X射线荧光光谱法测定萤石中氟化钙   总被引:2,自引:1,他引:2  
袁家义 《岩矿测试》2007,26(5):419-420
采用偏磷酸钠作熔剂制备萤石熔融片,用波长色散X射线荧光光谱法测定萤石中的氟化钙。考察了偏磷酸钠作为熔剂和稀释剂对萤石的熔解能力。方法经萤石国家一级标准物质检验,测定结果与标准值相符,10次测定的相对标准偏差(RSD)为0.23%。  相似文献   

12.
13.
X射线荧光光谱法直接测定碳酸盐岩石中主次痕量元素   总被引:12,自引:10,他引:12  
采用粉末样品压片制样,碳酸盐岩石标样及人工合成标样为标准,使用理论α系数及散射线内标法校正元素的吸收_增强效应,用X射线光谱仪对碳酸盐岩石试样中的Na、Mg、Al、Si、P、S、Cl、K、Ca、Sc、Ti、V、Cr、Mn、Fe、Co、Ni、Cu、Zn、Ga、Rb、Sr、Y、Zr、Nb、Ba、Pb、La、Ce和Th等30种主次痕量元素进行测定,其分析结果与标样标准值(或化学法值)符合较好,方法的精密度(RSD,n=10)<10%(除含量在检出限附近的元素外),各元素检出限基本满足化探要求  相似文献   

14.
杜淑兰 《吉林地质》2010,29(4):106-107,119
使用粉末压片法制样,X射线荧光光谱法测定地质样品中氯,探讨了样片背衬、样片接受X光照射时间对测量结果的影响。Cl的精密度(RSD,n=12)小于10%。Cl的方法检出限为12μg/g,采用国家一级标准物质分析验证方法,其结果与标准值相符。  相似文献   

15.
叶片、水果等农作物样品经高温灰化后与石英混合,采用粉末压片制样-X射线荧光光谱法同时测定样品中的钙钾钠铁等九种元素。该分析方法检出限,精密度和准确度能够满足农林业的生产和科研需要。  相似文献   

16.
随着超细标准物质的研制,超细样品在地质分析中得到了进一步的应用。本文利用超高速行星式碎样机粉碎铬铁矿标准物质制成超细样品,采用粉末直接压片制样波长色散X射线荧光光谱测定铬铁矿中的多种元素(Cr、Si、Al、Fet、Mg、Ca、S、Co、Ni、V)。采用多种铬铁矿标准物质和人工配制标准物质制作工作曲线,经验系数和散射线内标法校正元素间的吸收-增强效应,方法精密度(RSD,n=10)为0.24%~2.95%。本方法有效地克服了样品的粒度效应,分析结果的精密度和准确度不低于化学法。  相似文献   

17.
X射线荧光光谱法测定土壤样品中碳氮硫氯等31种组分   总被引:3,自引:3,他引:3  
利用新型的ZSX Primus Ⅱ型X射线荧光光谱仪采用粉末压片法直接测定土壤样品中的C、N、S、Cl等31种元素。各元素分析晶体为N采用RX45,C采用RX61,Na、Mg采用RX25,C1、S、P采用Ge,Si、Al采用PET,其余元素均采用LiF200。结果表明,方法的检出限、精密度和准确度对绝大多数元素而言,均可满足多目标地球化学调查样品分析的质量要求:  相似文献   

18.
采用粉末压片法制样,使用经验系数和散射线内标法校正元素间的吸收-增强效应,用3080E2X射线荧光光谱仪对试样中的Cl,Br,S三元素进行直接测定,其分析结果的精密度和准确度能满足区域化探样品的分析质量要求.  相似文献   

19.
李大勇  贾双琳  陈菊 《贵州地质》2015,32(4):293-297
采用高频熔样机熔片分解试样、灼烧减量校正,X射线荧光光谱法测定锰矿中的TFe、Si O2、Al2O3、P、Ca O、Mg O、Mn、Na2O、K2O、Ba、Ti O2。方法精密度为0.003%0.133%(RSD,n=12)。准确度也满足地质实验管理规范要求,测试结果准确、可靠。  相似文献   

20.
为提高矿产勘查效率, 缩短异常查证周期, 野外现场快速测定地质样品具有现实意义. 本文采用能量色散X射线荧光光谱技术, 开展地质样品中Cu、Pb、Zn等20种元素的现场测定方法研究, 并对方法的不确定度进行了评估. 通过方法性能验证, 地质样品中各元素的质控指标均符合《地质矿产实验室测试质量管理规范》(DZ/T 0130-2006)的要求. 方法的不确定度评估对比结果进一步验证了方法的可靠性. 实际样品的现场测试结果与实验室内的测试结果相符, 证明了该方法对于异常查证、提高地球化学勘查效率的适用性, 能够满足野外现场快速批量测定地质样品中Cu、Pb、Zn等20种元素的要求.  相似文献   

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