X射线荧光光谱在岩矿测试分析中的作用和地位

X射线荧光光谱是近代科学技术发展中建立起来的一门新的测试技术。从六十年代起,X射线荧光光谱得到了迅速发展,加上电算技术的应用,更加显示出了X射线荧光光谱的优越性,已经部分代替了一般的化学分析,解决了若干常量和微量元素的分析问题。现在,这种测试方法已被广泛运用到地质、冶金、煤炭、国防等科研和生产的许多部门。下面就X射线荧光光谱在岩矿测试分析中的几个问题简述于后,供同志们参考。     

高能偏振能量色散X射线荧光光谱仪应用现状和进展

对高能偏振能量色散X射线荧光光谱仪基本特点及其用于环境、生物、地质样品中痕量元素的分析和RoSH检测等领域的应用现状予以介绍,并对二次靶与滤光片在痕量元素分析中的应用作了探讨。     

低熟煤中的孢粉与常量元素和微量元素的相关性初探

运用电离耦合等离子体原子发射光谱(ICP-AES)和X射线荧光光谱分析(XRF),对新疆八道湾煤矿中侏罗统西山窑组煤中的孢粉角质层进行了分析,测定了煤中的常量和微量元素。并对煤中孢粉和共伴生元素进行了回归分析,探讨了微量和常量元素的煤岩学及孢粉学属性,在微量元素与孢粉的煤相学应用方面作了初步尝试。结果表明,成煤的蕨类植物孢子和裸子植物花粉与某些常量元素和微量元素有着很高的相关性;蕨类植物孢子和裸子植物花粉的相对含量在煤中具有互补性,决定了它们与微量元素的关系也具有一定的互补性。      

X荧光光谱分析仪简介

X荧光光谱分析仪X—ray Fluorescence Spectrometry（XRF）是西安地质调查中心实验测试中心于2005年引进的。X荧光光谱分析仪分辨率高,对轻、重元素测定的适应性广,对高低含量的元素测定灵敏度均能满足要求。     

金、银矿物及含银的硫化物的电子探针定量分析

金、银矿物在岩石中通常量微,颗粒小,产出形式也比较复杂,用电子探针分析,不仅可以快速准确定出矿物名称,而且配合电子探针的附件背散射电子图象装置、X射线面分布图象装置等可以进一步查清金、银元素的赋存状态。本文主要对该类矿物的定量方法作一介绍。     

X射线荧光光谱仪及其在地质学方面的应用研究

X射线荧光光谱分析方法作为一门较为成熟的成分分析技术,因具有多元素同时测定、含量范围宽、精密度高、分析速度快等特点,已广泛地应用于冶金、地质、化工、生物、环境和半导体电子工业等领域以及各类分析化学研究实验室[1].     

X射线荧光光谱分析中簿样法的进展

薄样法的特点是基体效应可以忽略不计,检出限很低,试样用量少,手续简便,因而引起了X射线荧光光谱分析者的兴趣.这种方法开始主要用于水、空气、医药中微量元素的分析,后来日益扩展用于地质、冶金、机械等样品的分析.本文主要对薄样法的原理和应用,制薄样的新方法,薄样法在我国的进展,今后的展望等问题加以比较系统的论述.     

能量色散X射线荧光分析的应用——内标法分析硅酸盐中Sr、Rb

波长色散X射线荧光光谱分析在国内一些较大的无机分析研究所和实验室比较常见亦较为成熟。而能量色散X射线荧光光谱分析(以下简称X荧光能谱分析)的应用在国内还不多见。有几个单位开展了以放射源作激发源的X荧光能谱分析,由于受放射源强度的限制,所以分析灵敏度低。我们利用中子活化分析用的美国SCORPIO—3000系统程序控制多道能谱仪和Si(Li)探测器,以及一台苏制YPC—50M型X光机并自制试样架,组成一台X荧光能谱仪(图1),开展X荧光能谱分析,实现了能谱仪多功能利用。     

电子探针分析在地学中的应用

电子探针分析在矿物、岩石、地球化学和矿床研究中已成为一种不可缺少的成分分析测试与表面形貌观察手段,它把矿物光性观察结果同微观化学成分变化联系起来,使地质研究工作更加深入。电子探针分折的主要特点是可在光片或薄片上直接测定几立方微米区域内的化学组成,可探测元素范围从B～U;能进行点、线、面分析,以了解组成的变化;可观察二次电子、背散射电子、吸收电子,X射线和Y调制等多种图像,放大倍数从几十到十万倍;分析速度快,且一般不损伤试样。分析的灵敏度除了仪器性能外,还与实验条件、试样组成和所要测的元素有关。微区分     

冶金地质和化探找矿测试工作与国外概况的对比及发展对策浅议

当前,世界各国地质工作的大量任务集中于寻找矿产资源.伴随而来的,国内外地质、化探分析工作者均面临着大量、痕迹、多元素找矿试样的分析任务.它要求测试工作向痕区、超痕区开拓,提高分析速度,进行痕区质量监控.这是当前国内外地质、化探找矿测试工作一致的趋向. 一、冶金地质和化探找矿测试工作与国外对比的概况为适应近代地质和化探找矿工作,西方发达国家对大量、痕迹、多元素及岩石全分析,普遍采用的是:室内分析以多道或单道快速扫描、计算机控制的大型等离子光谱和X荧光光谱为主;野外分析     

金、银矿物及含银的硫化物的电子探针定量分析

金、银矿物在岩石中通常量微,颗粒小,产出形式也比较复杂,用电子探针分析,不仅可以快速准确定出矿物名称,而且配合电子探针的附件背散射电子图象装置、X射线面分布图象装置等可以进一步查清金、银元素的赋存状态。本文主要对该类矿物的定量方法作一介绍。 一、用电子探针分析金、银矿物,其定量方法如下:     

铀M系X射线的分析应用

本文采用薄膜法制样,然后进行铀的X射线荧光分析。使用铀的M系线比用L系线有以下优点:分辨率较高,灵敏度较高,本底低很多,蜂背比高,检测限(Cr靶,PE晶体,100秒计数)可达0.01ppm。     

管激发X射线荧光仪在金矿勘察中的应用

介绍了采用小型X射线管激发源、电制冷Si-PIN探测器及笔记本微机能谱分析等最新技术的高灵敏度野外X射线荧光分析系统。使用该系统在四川某金矿进行初步勘探应用研究。利用成矿组分中高品位元素As与Au的密切相关关系，采用X射线荧光测量在现场快速划定金矿靶区的范围，同时可以指导野外地质采样。     

X射线荧光光谱分析技术在过程分析中的应用

X射线荧光光谱(XRF)分析作为过程分析化学中一门富有成效的分析技术,在现场分析、流程控制中发挥了积极的作用。文章评述了XRF分析在冶金、地质、采矿、选矿等方面的应用概况以及在国内此领域的发展。     

元素的赋存状态、样品粒度、取样量对试样代表性的影响

影响试样的代表性,必然影响测定的准确度。这是一个客观存在的,具有普遍性的问题。在岩矿成分的测试中,当测定常量元素或较低含量元素时,元素的赋存状态、样品粒度及取样量对分析试样代表性的影响,似乎不那么重要;但当测定岩矿中的微量、痕量、超痕量元素时,由于岩矿试样固有的特点,这种影响就显得相当重要了。现在提     

现场高灵敏度X射线荧光探矿技术的研究

介绍了一种新型便携式高灵敏度X射线荧光仪的研制及其在地质勘查中的初步应用.仪器基于电致冷Si-PIN半导体X射线探测器和微机多道(2048道)谱仪系统,整机重4.2 kg(探头重0.8 kg).以同位素源产生的X射线激发样品,对铜、锌、砷等元素的分析检出限为10×10-6 g/g,适用于野外现场的天然岩石、土壤和水系沉积物的多元素含量的定量测定,以及工业原料、半成品、产品快速分析.     

现场X射线荧光分析技术

本文从携带式X射线荧光仪器、现场分析技术和技术应用三方面论述了现场X射线荧光分析技术的进展.从X射线激发源、X射线探测器和电子线路单元等角度,将携带式X射线荧光仪划分为四代,即以放射性同位源为激发源、以NaI(Tl)闪烁计数器为X射线探测器为技术特征的第一代仪器;以放射性同位素源和正比计数器为技术特征的第二代仪器;以放射性同位素、电制冷半导体探测器和以嵌入式微处理器为控制核心的多道脉冲幅度分析器为技术特征的第三代仪器;以低功率微型X射线发生器为激发源、电制冷半导体探测器和全数字化X射线能谱采集器为技术特征的第四代仪器.在现场分析技术方法方面,论述了X射线仪器谱解析技术、基体效应校正技术和现场原位分析中不平度效应、湿度效应、荧光颗粒不均匀效应校正技术进展.介绍了现场X射线荧光分析技术在地质矿产普查、环境污染调查、文物现场鉴定和合金分析等领域的应用进展.指出了目前国产携带式X射线荧光仪处于第三代和第四代仪器水平之间,低功率微型X射线发生器和电制冷半导体探测器还依赖于进口,全数字X射线能谱采集器还有待商品化;现场多元素分析的准确度和方法检出限都有待进一步改善;便携式仪器的应用领域有待拓宽.     

晶体结构和表面性质对石英浮选行为影响研究

采用阳离子捕收剂HAY和脂肪酸类捕收剂GJBW对采自贵州织金硅钙质磷矿床的石英试样进行可浮性试验。结果表明,HAY比GJBW更易吸附于石英表面,2个试样可浮性存在差异。采用X射线衍射、扫描电镜及X射线能谱、Zeta-电位对石英晶体结构及表面特性进行分析。X射线衍射分析结果表明,2份试样物相组成单一,纯度高,结晶粒度较大。晶胞参数分析计算结果与理论值接近,偏大,晶胞参数偏差是影响石英可浮性的主要因素。扫描电镜及能谱分析表明:石英表面存在凹坑和明显棱角,晶体表面存在微量的Al、Mg和K等元素对石英进行活化,其相对密度越大,石英可浮性越好。Zeta-电位分析结果表明,石英零电点较低,石英表面金属离子使石英Zeta电位负移,石英表面电负性强,在弱酸条件下使用阳离子捕收剂HAY对其浮选效果较好。推测石英表面杂质元素可能是以类质同象进入石英晶体结构,对石英表面特性及可浮性影响较大。     

Scanning Nuclear Microprobe Techniquein Modern Geoanalysis

作者列举了利用扫描核探针对深海锰结核、单个微化石、锰矿、恐龙蛋化石和恐龙骨骼化石等地质试样的微区定量分析和元素空间分布分析结果，说明该技术特别是质子诱导Ｘ射线发射技术在地学领域的作用并指出其广泛的应用前景。关键词扫描核探针元素空间分布分析     

MagiX PRO X射线荧光光谱仪在多目标地球化学调查中的应用

X射线荧光光谱分析从20世纪80年代起就成为我国化探扫面分析最有效的手段之一[1]。进入21世纪后，新一轮目标地球化学调查工作全面展开，对分析准确度和检出限提出了更高的要求[2]，使用PHILIPS公司生产的新型MagiX PRO X射线荧光光谱仪进行多目标地球化学调查样品的多元素分析。经对5000多试样分析结果表明，该仪器可分析39个元素，其中内检合格率在96％以上的有23个元素，并首次给出Cl、Br、TI等元素的结果。