X射线荧光光谱法测定海洋沉积物中35种元素

采用混合熔剂熔融和粉末压片法制样，使用理论α系数和攻射线内标法校正元素间的吸收一增效应，用３０８０Ｅ２型Ｘ射线荧光光谱仪对试样中的３５种元素进行测定，其分析结果的精密度和准确度可与化学法相媲美。     

X射线荧光光谱法测定高锶高钡的硅酸盐样品中主量元素

用百分总和检查硅酸盐岩石全分析数据的质量是分析工作者的传统做法,但对于微量元素含量较高的样品,采用X射线荧光光谱法(XRF)进行测定,如果不考虑微量元素的含量及其对主量元素基体效应的影响,往往会使主量元素含量更加偏离真实值。本文针对Sr、Ba含量较高的硅酸盐样品,通过人工配制标准样品,扩大了Sr、Ba校准曲线的定量范围,主量元素校准中加入Sr、Ba的基体校正系数,达到了主量元素定量更加准确可靠的实际效果。采用此方法分析国家标准物质,各主量元素的精密度(RSD)均小于2%;分析不参加回归的标准物质和人工配制的标准样品,主量元素的测量值与标准值(或参考值)基本一致。该方法可以满足硅酸盐的测定要求,主量元素各项结果的加和能够达到《地质矿产实验室测试质量管理规范》的一级标准(99.3%～100.7%)。     

X射线荧光光谱法直接测定碳酸盐岩石中主次痕量元素

采用粉末样品压片制样,碳酸盐岩石标样及人工合成标样为标准,使用理论α系数及散射线内标法校正元素的吸收＿增强效应,用Ｘ射线光谱仪对碳酸盐岩石试样中的Ｎａ、Ｍｇ、Ａｌ、Ｓｉ、Ｐ、Ｓ、Ｃｌ、Ｋ、Ｃａ、Ｓｃ、Ｔｉ、Ｖ、Ｃｒ、Ｍｎ、Ｆｅ、Ｃｏ、Ｎｉ、Ｃｕ、Ｚｎ、Ｇａ、Ｒｂ、Ｓｒ、Ｙ、Ｚｒ、Ｎｂ、Ｂａ、Ｐｂ、Ｌａ、Ｃｅ和Ｔｈ等３０种主次痕量元素进行测定,其分析结果与标样标准值（或化学法值）符合较好,方法的精密度（ＲＳＤ,ｎ＝１０）＜１０％（除含量在检出限附近的元素外）,各元素检出限基本满足化探要求     

同步辐射X射线荧光微探针测定岩石中的元素分布

同步辐射X射线(白光)荧光微探针在大气环境下,光斑尺寸为(50×50)μm~2,位移为1mm/步,计数时间30s,扫描测量了含石榴石紫苏花岗岩中多元素(K、Ca、Ti、Cr、Mn、Fe、Cu、Zn、Rb和Sr)的分布并绘制成图。检测限达x×10ppm,绝对量为10~(-10)—10~(-11)g范围。     

X射线荧光光谱法测定钨矿中主次元素

本文中笔者采用熔融玻璃片法制样,使用X射线荧光光谱法测定钨矿石中的钨、磷等主次元素,所用校准标样是用符合国家一级标准的物质由人工配制而成,并用理论α系数内标法及康普顿散射作内标校正基体效应,其分析结果与标准值相符.精密度统计结果显示,主、次量组分方法精密度(RSD,n=10)为0.371%~6.806%.该方法做到了简便、快捷、经济且减少环境污染.     

X射线荧光光谱法直接测定地质样品中多种痕量元素

采用低压聚乙烯镶边垫底的粉末压饼法制样,Ｘ射线荧光光谱法直接测定了地质样品中痕量元素Ａｓ、Ｇａ、Ｓｃ、Ｌａ、Ｙ、Ｃｅ、Ｗ、Ｍｏ、Ｓｎ、Ｃｏ和Ｐｂ。讨论了背景校正、谱线重叠校正、基体效应校正和仪器漂移校正等问题。利用理论α系数代替经验系数,使方法具有较高的准确度和较低的检出限。所测１１个元素的检出限在（０．３０～２．０２）×１０－６水平,精度（ＲＳＤ,ｎ＝１１）在０．９５％～１３．０％。方法经国家一级标准物质分析验证,结果与标准值相符。     

X射线荧光光谱法测定多种铁矿和硅酸盐中主次量组分

采用熔融玻璃法,用Axios型X射线荧光光谱仪测定铁矿和硅酸盐中Fe2O3、SiO2、A l2O3、TiO2、CaO、MgO、SO3、MnO、V2O5、K2O、P2O5、Na2O、Co和N i等组分含量。使用理论α系数和经验系数法校正基体效应,经标准物质检验,分析结果与标准值基本吻合。用钒钛磁铁矿GBW 07225国家一级标准物质进行精密度试验,统计结果除K2O、P2O5、N i的RSD<15%,其余大多数组分的RSD<4.0%(n=12)。     

X射线荧光光谱法测定萤石中氟化钙

采用偏磷酸钠作熔剂制备萤石熔融片,用波长色散X射线荧光光谱法测定萤石中的氟化钙。考察了偏磷酸钠作为熔剂和稀释剂对萤石的熔解能力。方法经萤石国家一级标准物质检验,测定结果与标准值相符,10次测定的相对标准偏差（RSD）为0．23％。     

高稀释比熔融-X射线荧光光谱法分析硅酸盐岩石样品中18种组分

选取土壤、水系沉积物、岩石、超基性岩、黏土等标准物质,应用混合溶剂与样品质量比为14：1的高稀释比方法熔融制备测试样品,拟合校准曲线,建立X射线荧光光谱（XRF）同时测定硅酸盐岩石样品中18种组分（SiO2、Al2O3、TFe2O3、MgO、CaO、K2O、Na2O、TiO2、BaO、MnO、P2O5、Cr2O3、V2O5、Rb、Sr、Zr、Cu、Ni）的快速分析方法.应用帕纳科Eagon2全自动高频电感熔样机,称取7.0000 g（45Li2B4O7+10LiBO2+5LiF）混合溶剂与0.5000 g样品混合均匀,分别加入氧化剂饱和硝酸铵溶液2滴,脱模剂饱和溴化锂溶液4滴,于700℃先预氧化4 min,再1 120℃熔融9 min制备样片,自然冷却至室温.此熔样方法能保证样品中待测组分熔化完全,并制得表面光滑平整的样片.用国家标准物质验证,测试结果的准确度和精密度均符合《地质矿产实验室测试质量管理规范》（DZ/T 0130-2006）要求.     

X射线荧光光谱法测定农作物样品中钙钾铁等九元素

叶片、水果等农作物样品经高温灰化后与石英混合,采用粉末压片制样-X射线荧光光谱法同时测定样品中的钙钾钠铁等九种元素。该分析方法检出限,精密度和准确度能够满足农林业的生产和科研需要。     

X射线荧光光谱法同时测定土壤样品中碳氮等多元素

报道了采用粉末压片制样-X射线荧光光谱法测定土壤样品中C、N、S、Cl、Br、Hf、Mo、Sn、Se、Na、Mg、Al、Si、P、K、Ca、Ti、V、Cr、Mn、Fe、Co、Ni、Cu、Zn、Ga、As、Rb、Sr、Y、Zr、Nb、Ba、La、Ce、U、Th、Pb等38种元素的分析方法。着重研究了C和N的分析条件、存在问题和注意事项。所拟方法的检出限，精密度和准确度大多数满足覆盖区多目标地球化学调查样品分析质量的要求。     

全反射X射线荧光光谱法同时测定天然水中多种元素

利用自行研制的有３个反射体的全反射Ｘ射线荧光分析仪,以Ｓｅ作内标,同时测定天然水中的痕量Ｎｉ、Ｃｕ、Ｚｎ、Ｐｂ、Ｒｂ和Ｓｒ。对纳克级元素,方法的检出限为１０－１０～１０－１１ｇ,水样分析结果与无火焰原子吸收法和ＩＣＰ ＭＳ法相符,精密度好,对纳克级痕量元素测定的ＲＳＤ（ｎ＝５）小于７２％。     

X射线荧光光谱法测定地质样品中的氯和硫

使用粉末压片-X射线荧光光谱法测定地质样品中的Cl和S，探讨了样品放置时间、环境以及建立真空的时间对测量结果的影响。Cl的精密度(RSD，n=6)小于10％，S的精密度(RSD，n=6)小于5％。Cl和S的方法检出限分别为14和11μg／g，采用国家标准物质分析验证方法，其结果与标准值相符。     

波长色散X射线荧光光谱法测定古陶瓷胎釉中37 个主次痕量元素

采用压片制样波长色散X射线荧光光谱法对古陶瓷胎釉样品的Na2O、MgO、Al2O3、SiO2、P2O5、K2O、CaO、Sc、TiO2、V2O5、Cr2O3、MnO、Fe2O3、CoO、NiO、CuO、ZnO、Ga、As、Br、Rb、Sr、Y、Zr、Nb、Sn、Sb、Cs、BaO、La、Ce、Nd、Sm、Hf、PbO、Bi和Th等37个主、次、痕量组分进行测定。使用经验系数法和康普顿散射、背景作内标校正基体效应。方法经土壤和水系沉积物国家标准物质验证,测定值与标准值吻合;除个别组分,大多数元素11次测定的相对标准偏差(RSD)小于10%。方法的检出限、精密度和准确度能满足古陶瓷样品的分析要求,应用于7个古陶瓷样品的分析检测,分析结果与其他分析方法对比具有很好的一致性。     

X射线荧光光谱法测定土壤中34种主、次痕量元素

采用粉末样品压片制样,水系沉积物及土壤国家一级标准物质作为标准,使用经验系数法和散射线内标法校正元素间的吸收增强效应,用X射线光谱仪对土壤样品中的Fe_2O_3、Cao、Cl、S、As、Ba、Br、Ce、Co、Cr、Ni、Cu、Zn等34种主次痕量元素进行测定,用国家一级标准物质GBW07452(GSS-23),GBW07405(GSS-5)和GBW07404(GSS-4)分析检验准确度和精密度,分析结果与标样标准值吻合,除Cl、S、As、Br、Ce、Co、Ni、Th、Sc、Hf、Nb、Nd的精密度小于10.00%以外,其他各元素精密度均在5.00%以内,各元素检出限均满足化探要求。     

滤纸制样X射线荧光光谱法测定矿石中的多元素

建立了滤纸制样,以钴作内标,X射线荧光光谱测定矿石中铁、铜、铅、锌的方法。将淀粉压制成环,作为滤纸的底托,取一定量的分析溶液滴加到淀粉底托的滤纸上,将底托和滤纸放入烘箱,在50℃低温烘干,将淀粉底托和滤纸压制成形,待X射线荧光光谱仪测量。铁、铜、铅、锌的相对标准偏差(RSD,n=11)均小于5%。用国家一级标准物质验证,测量值与标准值吻合。方法操作简单、方便、快速。     

熔融制片-X射线荧光光谱法测定锰矿样品中主次量元素

采用混合熔剂熔融制备样片,加入碘化铵粉末,有效地驱赶了锰矿熔融制样时产生的大量气泡,用Axios型X射线荧光光谱仪测定锰矿样品中的Mn、Fe、Si、Al、Ti、Ca、Mg、Na、K、P、Ba、Cu、Zn、Ni等元素的氧化物含量,用理论a系数校正基体效应,方法简便快捷。用国家一级锰矿石标准物质GBW 07266验证,结果与标准值相符;以锰矿石考察方法的精澈（RSD,n=12）,除CuO为10．05％,其余各组分均≤8％。     

X射线荧光光谱法测定锰矿中主次成分技术应用研究

采用高频熔样机熔片分解试样、灼烧减量校正,X射线荧光光谱法测定锰矿中的TFe、Si O2、Al2O3、P、Ca O、Mg O、Mn、Na2O、K2O、Ba、Ti O2。方法精密度为0.003%0.133%(RSD,n=12)。准确度也满足地质实验管理规范要求,测试结果准确、可靠。