应用遗传算法对镭氡平衡曲线的研究

本文通过分析常规计算镭氡平衡系数的误差因素及钻孔中镭氡平衡的动力学过程,建立了求解镭氡平衡系数的数学模型.应用遗传算法来设计、求解相应模型的待定参数,编写相关程序段,进行迭代求解.计算出了单矿段及铀矿床总镭氡平衡系数.     

镭同位素在海洋学研究中的应用及进展

镭同位素具有不同的半衰期,可以用来研究不同时空尺度的海洋学过程,在海洋学研究中得以广泛应用。镭同位素在海洋学中的应用主要包括溶解态物质输运,水体停留时间的估算,海洋地下水排放,沉积物的地球化学和放射年代学以及海洋水团分析5个方面的内容。从海洋中镭同位素的地球化学行为、测量方法及其在以上5个方面的研究综述了镭同位素海洋学研究进展,比较了海洋中镭同位素测量方法,阐释了各应用领域的示踪原理,给出各种应用的方法模式及公式,总结了镭同位素海洋学的发展变化,并指出我国镭同位素海洋学的发展前景和方向。     

3112矿床深部矿体偏镭的放射性同位素研究

应用铀、钍、锕铀系中~(228)Ra、~(230)Th、~(231)Pa、~(232)Th等同位素与~(38)U、~(226)Ra之间存在量关系探索了3112矿床深部矿体偏镭的原因。结果表明该矿床深部偏镭是外来镭后期叠加所致。分析数据显示,严重的偏镭现象难以用局部偏铀地段的镭流失予以补偿。这就提示有隐伏镭源体铀存在的可能性。本文所述方法也适用于地表放射性异常性质的判别研究。     

粉末样品中镭量分析法及其在铀矿勘查中的应用研究

用普通的铜片,收集密封于玻璃瓶中粉末(土壤)样品释放的氡的衰变子体,通过α仪测量α粒子数来测定样品中的镭,以达到找矿的目的,简称为镭法。此法具有灵敏度高(检出限每克样品中含镭2.7×10~(-15)克),工效高,成本低和便于推广使用等优点。根据8个矿区的20条剖面上的700多个样品的测量结果表明,镭法发现异常的能力比γ测量强,与~(210)Po法相当。文中总结了深部盲矿,地表矿化和非矿异常地段上的镭法、~(210)Po法和γ测量的异常强度及其剖面曲线形态,以及镭与~(210)Po比值等特征的变化规律。根据这些规律可以区分深、浅部矿化。综合应用镭法、~(210)Po法和γ测量可作为异常评价的重要手段之一。根据100km~2面积上771个水系底沉积样品的测镭试验,表明镭法亦可用于铀矿区调、普查阶段。     

高频红外碳硫分析仪测定地质样品中不同含量的硫

采用铁粉为助燃剂,三氧化钼为基体改进剂,分段建立工作曲线,高频红外碳硫分析仪测定硫,实验基体改进剂的效果,探讨干燥剂及工作曲线的影响.其方法硫的检出限为0.000 47％,实验方法在低硫和高硫的精密度和准确度,并进行不同方法的对比实验.实验结果表明,该方法性能参数良好,能满足地质样品中不同含量硫的分析测试工作的要求.     

关于油气勘查与开采中氡和镭测量的应用问题

本文介绍了放射性同位素氡和镭测量在油气勘查与开采中的某些应用和相应的机理。     

连续流动分析仪在地表水硫化物测定中的应用

应用德国水尔公司连续流动分析仪,对环境水样和标准物质中硫化物分别进行回收率、准确性和精确性试验,试验结果显示:硫化物的回收率在95%～105%之间,标准物质测试结果都合格,有良好的准确性和精确性。能够满足水质监测要求具有精度高,时效强等特点。     

应用元素分析仪测定铅锌矿中的高含量硫

目前对铅锌矿中高含量硫的测定主要采用传统的重量法和容量法,但由于铅锌矿基体复杂,干扰较多,造成操作步骤繁琐;而采用湿法仪器分析又受制于样品的前处理等问题使得测定结果的准确度较差。本文建立了应用元素分析仪测定铅锌矿中的高含量硫(1.0%~32.0%)的分析方法。将样品磨制成粒度小于0.075 mm的粉末,样品制备时加入高纯二氧化硅作为稀释剂以降低铅锌矿的含硫量,仪器测量时加入线状氧化铜作为添加剂以提高硫的氧化效果,优先选用与实际测定样品相同性质的铅锌矿国家标准物质GBW07287(硫的标准值为10.76%)建立标准曲线以减小基体效应。方法精密度(RSD,n=12)小于1%,实际样品分析的测定值与重量法的相对误差小于1%。本方法比化学分析方法的操作简单,几乎没有干扰;比湿法仪器分析方法的样品前处理步骤少,待测元素硫的损失少,测定结果可靠度高。     

高频红外碳硫分析仪测定石墨样品中固定碳研究

为满足石墨样品中固定碳快速、准确的测试要求,建立了硝酸预处理－ 高频红外碳硫分析仪测定固定碳的方法,探讨称样量、预处理温度、助熔剂选择等对测试结果的影响,并对测试参数进行了优化试验,确定了适宜工作条件。该方法检出限为0. 15%,精密度( RSD%,n = 12) 为0. 24% ～ 4. 07%,以国家一级标准物质验证,相对误差为0. 1% ～ 0. 69%,适用于含碳量≤30%的石墨样品。     

应用国际标样对伊利石结晶度测定值的校正及其意义

伊利石的结晶度(IC),又称Kbler指数(K.I.),是指粘土矿物伊利石10×10-8cmXRD峰的半高宽。作为一个变质程度的指标,结晶度广泛用于研究高级成岩—极低级变质—低级变质作用的演变过程,随着变质程度的提高,伊利石结晶度逐渐增大。根据Kbler的建议,近变质带(极低级变质带)上、下边界的伊利石结晶度分别为0.42(°Δ2θ)和0.25(°Δ2θ)。然而,测定伊利石结晶度时,由于缺少国际标样,且各实验室间的样品制备、仪器条件、测试方法也不相同,因而导致获得的数据有较大差别,缺少可比性;因此,使用国际标样对数据进行校正,使各实验室获得的数据都能直接地进行对比,是非常必要的。利用X射线衍射方法测定了由L.N.Warr提供的5个伊利石结晶度的国际标样(其中,4个为岩石碎屑样品,采自英格兰西南部的极低级变质带;1个为单矿物样品,采自印度的花岗岩),获得了校正方程,ICCIS=0.977IC测定值+0.0336(°Δ2θ),R2=0.9835。在实验室内对213件采自国内的样品进行测定,测试条件与国际标样的测试条件相同,利用此方程对测得的伊利石结晶度数值进行校正,证实本实验室对伊利石结晶度的测定具有较高的可信度和国际可比性。     

酸溶分解-电感耦合等离子体质谱内标法测定地质样品中的痕量银

应用电感耦合等离子体质谱法(ICP-MS)测定地质样品中的痕量银时,Zr、Nb、Mo的氧化物以及氢氧化物对银的两个质量数107 Ag和109 Ag造成严重的质谱重叠干扰,导致结果有明显的偏差.针对此问题,本文基于107 Ag的质谱干扰相对单一,只有90 Zr16 OH+和91 Zr16 O+对107 Ag产生干扰,在I...     

汞分析仪直接测定矿石中的痕量汞

使用汞分析仪直接对不同矿石中的痕量汞进行快速准确测定。矿样直接称样后,无需复杂的湿法消解或样品前处理,6 min内即可完成汞的测定。建立的方法不受样品性质影响,无基体干扰,方法回收率为90.0％~109.0％,检出限为0.60 ng/g,相对标准偏差(RSD,n＝8)为0.95％~4.74%。使用该法分析了6大类矿石标准参考物质和实际样品,并与常规方法进行比较,分析结果与证书值和其他方法测定值一致。与现行国家标准分析方法相比,该方法大大缩短了分析周期,适合大批量试样的分析。     

X射线荧光光谱－点滴麦勒膜制片法测定金标准样品中金银铜锌

酸分解试样，点滴麦勒膜制片，Ｎｉ元素作内标，使用Ｘ射线荧光光谱法同时测定金银标准样品中Ａｕ、Ａｇ、Ｃｕ和Ｚｎ，分析范围为０．２％～１００％。对于Ａｕ、Ａｇ、Ｃｕ和Ｚｎ含量为８３％、８．Ｏ％、６．２％、３．０％的试样，其Ｒ８Ｄ（ｎ＝６）分别为０．１％、１．１％、０．９％和１．１％。     

石墨炉原子吸收光谱法测定地质样品中微量银

样品经盐酸-硝酸分解处理,以硫酸铵为基体改进剂,石墨炉原子吸收光谱法测定地质样品中微量的银.结果表明该方法简便、快速、准确,相对标准偏差（RSD,n=6）为1.89％～6.70％,加标回收率为94％～106％.     

多目标地球化学调查土壤样品中氮和碳的快速测定

详细研究了元素分析仪的工作条件，建立了直接固体进样同时测定多目标地球化学调查土壤样苎支氮、碳的方法。方法简便、快速，检出限为氮14．5μg／g、碳0．013％。经土壤国家一级标准物质分析验证，测定值与标准值相符，精密度（RSD，n=12）为氮1．49％-3．27％、碳0.64％～3.63％。     

离子质谱计测定地质样品中镁同位素组成方法学研究

应用信通公司研制的离子质谱计（ＳＴ－ＩＭＳ），建立了地质样品镁同位素分析的实验流程和误差分析方法，为进一步分析微量地质样品中镁同位素组成和分布奠定了基础。     

碱性体系-蒸汽发生-原子荧光光谱法测定地质样品中的锌

样品经硝酸-氢氟酸混合酸溶解后,用标准加入-原子吸收光谱法测定钢渣中的铁。实验探讨了钢渣的均匀性等干扰因素对结果的影响,并提出基体高、浓度高的样品稀释倍数过高误差越大,建议采用如旋转燃烧头、选择次灵敏线等降低仪器灵敏度的方法或采用标准加入法。并将标准加入法与X射线荧光光谱、电感耦合等离子体发射光谱、原子吸收光谱直接测定法进行比较,铁的实验结果分别为51.6%、54.2%、46.2%、16.6%,相对标准偏差分别为2.8%、5.3%、2.0%、2.3%。标准加入-原子吸收光谱法用于测定基体高、浓度高的样品是准确可靠的。方法可用于环境类实验室用水剂标准溶液进行钢渣类样品中元素的分析。     

氢化物发生-火焰分子发射光谱法测定地质样品中的砷

本文研究了氢化物发生-火焰分子发射光谱测定地质样品中As的方法,提出并采用了一种新型分子发射炉(腔)——长缝式石英炉。该方法具有设备简单、操作方便、干扰少、线性动态范围宽等特点。方法检出限为0.02μg/ml,对0.5μg/ml As的样品测定,其RSD(n=10)为1.5％。用GSS及MGD系列部分标样验证了方法的可靠性。     

X射线荧光光谱法直接测定地质样品中多种痕量元素

采用低压聚乙烯镶边垫底的粉末压饼法制样,Ｘ射线荧光光谱法直接测定了地质样品中痕量元素Ａｓ、Ｇａ、Ｓｃ、Ｌａ、Ｙ、Ｃｅ、Ｗ、Ｍｏ、Ｓｎ、Ｃｏ和Ｐｂ。讨论了背景校正、谱线重叠校正、基体效应校正和仪器漂移校正等问题。利用理论α系数代替经验系数,使方法具有较高的准确度和较低的检出限。所测１１个元素的检出限在（０．３０～２．０２）×１０－６水平,精度（ＲＳＤ,ｎ＝１１）在０．９５％～１３．０％。方法经国家一级标准物质分析验证,结果与标准值相符。     

原子荧光光谱法测定地质样品中的痕量锗

分析了溶矿过程中HNO3、H2SO4、HClO4、H3PO4等对Ge的影响,采用AgNO3滤气装置消除气相干扰,测定了地质样品中的痕量锗,方法检出限为0．06μg／g,用土壤国家一级标准物质GBW 07401～GBW 07408验证方法,结果与标准值相符,其相对标准偏差(RSD,n=12)为3．66％～6．11％。