岩石中低量稀土和其他痕量元素的X-荧光光谱测定

用X-荧光光谱测定岩石中低量稀土元素的仪器参数和测定条件,文[1]已作过讨论。本文介绍样品分析所采用的基本校正,谱线重叠校正和背景处理方法,并将这些方法应用于其他少量和痕量元素的测定。基体的吸收校正岩石样品中最重的主元素是铁,镧系元素La～Er的La线和Ti,Sc,Cr,Mn,Fe,     

X荧光测定岩石中痕量元素的基体校正方法

地质样品痕量元素分析中的基体校正,前人作过大量工作。但是对于主元素(主要指铁)吸收限长波侧的基体校正还未很好解决。本文利用相对吸收的概念,计算了主     

X荧光测定岩石中痕量元素的基体校正方法

地质样品痕量元素分析中的基体校正,前人作过大量工作。但是对于主元素(主要指铁)吸收限长波侧的基体校正还未很好解决。本文利用相对吸收的概念,计算了主元素吸收限对样品总吸收的影响,并与Reynolds法相结合,导出了计算主元素吸收限长波侧吸收校正系数的方程。     

多种类型地质样品中主要和次要元素的X-射线荧光光谱测定

X射线荧光光谱法(XRF)是地质样品中主要,次要组分分析的有力手段。地质样品种类很多,来源不同,各元素含量范围变化大,为了充分发挥仪器的效能,提高方法的适应性,有必要制定一个能适应于多种类型样品分析的方法。     

X射线荧光光谱法直接测定碳酸盐岩石中主次痕量元素

采用粉末样品压片制样,碳酸盐岩石标样及人工合成标样为标准,使用理论α系数及散射线内标法校正元素的吸收＿增强效应,用Ｘ射线光谱仪对碳酸盐岩石试样中的Ｎａ、Ｍｇ、Ａｌ、Ｓｉ、Ｐ、Ｓ、Ｃｌ、Ｋ、Ｃａ、Ｓｃ、Ｔｉ、Ｖ、Ｃｒ、Ｍｎ、Ｆｅ、Ｃｏ、Ｎｉ、Ｃｕ、Ｚｎ、Ｇａ、Ｒｂ、Ｓｒ、Ｙ、Ｚｒ、Ｎｂ、Ｂａ、Ｐｂ、Ｌａ、Ｃｅ和Ｔｈ等３０种主次痕量元素进行测定,其分析结果与标样标准值（或化学法值）符合较好,方法的精密度（ＲＳＤ,ｎ＝１０）＜１０％（除含量在检出限附近的元素外）,各元素检出限基本满足化探要求     

X-射线荧光光谱分析地质化探样中主要和痕量元素

岩石化探样中主要和痕量元素的测定,目前多半以ICP或XRF法为主,二种测试手段各有优势。本文应用8680X-射线光谱仪测定氧化镁,氧化铝,氧化硅,磷,氧化钾,氧化钙,氧化铁,氧化钠,钛,锰,锌,钒,铬,铷,铌,钇,锶,锆等元素。8680型系顺序/多道复合式X-射线光谱仪。试验证明,本方法简易、快速,结果满意。方法的变动系数最大为14.24％(Nb=15ppm),最小为0.01％(SiO2=77.27％)。     

岩石中多元素的X射线荧光光谱测定——经验系数法

采用经验和数法校正基体效应,X荧光光谱测定样品中的主、次痕量元素是一种简便而快速的方法,但由于经验系数的求取很大程度上取决于标准样品的类型、含量范围和计算方法,往往使用范围有一定的局限性,本文提出的标准分类法计算经验系数,在一定程度上克服了上述的局限性,具有较宽的分析范围。     

岩石中多元素的X射线荧光光谱测定——经验系数法

采用经验和数法校正基体效应,X荧光光谱测定样品中的主、次痕量元素是一种简便而快速的方法,但由于经验系数的求取很大程度上取决于标准样品的类型、含量范围和计算方法,往往使用范围有一定的局限性,本文提出的标准分类法计算经验系数,     

岩石土壤中痕量金泡塑富集光谱测定

关于泡塑对金的捕集特性研究,1976年国内已用于金的测定,而泡塑富集光谱测定微量金的方法,作者已有报导。分析实践表明:从0.01—65.0克/吨的范围内方法是可靠的。几年来,由于方法的不断完善,1克/吨金样的测定相对标准偏差由最初的18.5％下降至11.8％。 化探的发展,使ppb级痕量金分析成为紧迫需要。文献为解决上述课题取得了关键性的突破。资料号称具有了纳克检出限,但方法繁琐。作者设计了一个简便的     

岩石土壤中痕量金泡塑富集光谱测定

关于泡塑对金的捕集特性研究,1976年国内已用于金的测定,而泡塑富集光谱测定微量金的方法,作者已有报导。分析实践表明:从0.01—65.0克/吨的范围内方法是可靠的。几年来,由于方法的不断完善,1克/吨金样的测定相对标准偏差由最初的18.5％下降至11.8％。     

离子交换纸富集、X—荧光光谱测定岩石中痕量稀土元素及钪

X—射线荧光光谱中,直接压饼或四硼酸锂熔饼法,具有简便、快速的优点,但测定～10ppm以下含量的稀土元素是相当困难的。用离子交换纸制样,X—射线荧光光谱测定稀土元素及钪,可降低检测限至0.xppm,甚至更低。与中子活化法,同位素稀释质谱法相比,本法价廉、方便、快速。与国内同类方法相     

离子交换纸富集、X—荧光光谱测定岩石中痕量稀土元素及钪

X—射线荧光光谱中,直接压饼或四硼酸锂熔饼法,具有简便、快速的优点,但测定～10ppm以下含量的稀土元素是相当困难的。 用离子交换纸制样,X—射线荧光光谱测定稀土元素及钪,可降低检测限至0.xppm,甚至更低。 与中子活化法,同位素稀释质谱法相比,本法价廉、方便、快速。与国内同类方法相比,本法取样少,分析周期短,易掌握。     

X荧光光谱法测定岩石、土壤、水系沉积物中的主次量元素

本文主要是在原有的X荧光光谱法测定岩石、土壤、水系沉积物样品中的主次量元素方法基础上加以改进,缩短了样品测定时间,提高了样品测定速度。方法的精密度及准确度上都控制在允许范围内,测定样品速度快,重现性好结果令人满意。     

岩石和矿石中微量稀土分量X射线荧光光谱测定法的研究

一、引言 X射线荧光光谱法测定稀土元素分量,是一个行之有效的方法。为了降低检出限,提高分析准确度和工效,近年来国内外不断有人研究。由于电子计算机技术的广泛应用,对基体效应,谱线干扰以及背景扣除等繁琐的计算都可由计算机完成,使稀土元素的X射线荧光光谱分析更为简便快速。     

化学光谱法测定碳酸盐岩石中的14种痕量元素

研究了测定碳酸盐岩石中Ａｇ、Ｂ、Ｂｅ、Ｃｏ、Ｃｒ、Ｃｕ、Ｇａ、Ｎｉ、Ｐｂ、Ｓｃ、Ｓｎ、Ｖ、Ｚｎ、Ｚｒ等１４种痕量及超痕量元素的化学光谱法。采用２ｍｏｌ／Ｌ ＨＣｌ浸取试样，除去大量碳酸直本，调整ＰＨ８左右，加Ｎａ２Ｓ共沉淀富集各种痕量元素，并以优化过的缓冲剂及水平电极激发、分组进行光谱测定，保证了分析质量，提高了分析灵敏度，使各元素的检出限、精密度和准确度的水平有显著提高，完全满足１：２０万化探碳     

熔融玻璃片制样-X射线荧光光谱测定页岩中主量元素

熔融片法制样,用X射线荧光光谱法测定页岩样品中硅、铝、铁、钙、钾、镁、钠7个主量元素,以页岩、岩石、水系沉积物、土壤国家一级标准物质作为校准样品,使用理论α系数和经验系数相结合的方法校正基体效应。方法精密度(RSD,n=12)≤1.50%。分析结果与化学法进行对照基本一致。     

X射线荧光光谱测定稀土铁氧体的方法研究

采用X射线荧光光谱分析方法,直接粉末压片测定磁铅石型稀土铁氧体中Fe、Ba、La等元素的浓度,实验结果表明：在最佳仪器工作条件下,测试结果的相对标准偏差均〈1.71%（n=8）;分析结果与理论值相比,镧测定相对误差〈10.58%,其他元素测定误差均〈2.23%。本方法具有制样方法简便、准确可靠和成本低等特点。     

超细粉末压片法-X射线荧光光谱测定水系沉积物和土壤中的主量元素

X射线荧光光谱分析中,粉末压片法是一种理想的绿色环保制样技术,操作简单、制样效率高,但由于受到粒度效应和矿物效应的影响,其测定误差在5%左右,因而限制了这种技术在常量元素检测方面的应用,目前主要应用于痕量元素的测定以及对分析精度要求不高的分析领域。本文运用行星式粉碎制样机,将水系沉积物和土壤标准物质在几分钟内粉碎至平均粒径4~5μm左右,建立了超细粉末压片制样X射线荧光光谱测定SiO2、Al2O3、Fe2O3、CaO、MgO等主量元素的方法。该方法绝大多数主量元素的测量精密度(RSD)小于2%;检出限为0.003%~0.021%,优于熔融法的检出限(0.006%~0.081%),特别是原子序数小的钠元素,检出限改善4倍。本文针对水系沉积物和土壤研制的超细粉末压片法,由于样品粉碎至几微米,最大限度地减小了粒度效应的影响;X射线衍射分析表明制备样品的矿物成分以石英为主,矿物组成简单,矿物效应可以忽略不计。同时对测量数据加入烧失量进行归一化处理,各元素归一化的测量结果与标准值基本一致,方法准确度比常规压片法获得显著提高。     

熔融法X射线荧光光谱测定硅酸岩中30个主、痕量元素

X射线荧光光谱法(XRF)是进行地质样品多元素分析的有效手段。有人已用XRF法对六个BCS和五个PRE标样定值;也有用它分析硅酸盐类样品中主要成份。