X射线荧光技术在锑矿上的应用

应用轻便X射线荧光仪和X射线荧光测井仪,在我国某锑矿上进行了试验.对锑矿粉末样品、锑的化探样品、原始产状锑矿X射线取样、块状岩心及充满泥浆的锑矿钻孔进行了分析测量,并与化学分析比较,结果十分一致.特别是在消除基体效应方面取得了良好的效果. 放射性同位素X射线荧光技术在地质勘探工作中应用的特点是:仪器轻便,射线防护简单,操作容易,便于现场使用,测量速度快,对样品中元素含量能进行定量或半定量测定.在普查找矿阶段,可用来对某些地质远景地段进行及时检查,从而加速岩体评价.在化探工作中,可对中等强度以上的化探分散晕异常地段和水系底部沉积物的淘洗重矿物进行半定量或定量测量,     

便携式X射线荧光元素分析仪的应用

利用NITON XL3t 500型便携式X射线荧光光谱仪,选择云南会泽县金牛厂铅锌矿区进行样品分析条件试验.试验中分别对实验室分析与X射线荧光光谱仪分析结果,以及不同湿度条件下分析结果进行了对比研究,确定了最佳的应用条件.结果表明,实验室分析与X射线荧光光谱仪分析结果相近,但湿度因素会降低元素含量.所以应用便携式X荧光光谱仪进行试验不失为一种方便快捷和行之有效的方法.     

X射线荧光光谱测定矿样中主元素及微量元素

X射线荧光光谱是一种多元素分析的有效方法。通常对粉末样品(180目以上),可以直接压片成型进行分析测量。为提高地球化学样品中主元素的准确度,更有效地消除矿样的颗粒效应,在制样前用理学盘式振动磨研磨二分钟,然后压片成型。各元素的基体影响可采用经验系数法,利用理学DATAFLEX-151B计算机软件进行元素间的基体效应校正,选择最佳测试条件,在日本理学3080E3型全自动X射线荧光仪上测定SiO_2、Al_2O_3、Fe_2O_3、CaOMgO、K_2O、Na_2O、V、Cu、Cr、Ni、Sr等24元素。方法具有简单、快速、成本低和效率高等优点,并有较好的准确度和精密度。     

X射线荧光分析中基体效应的数学校正一例

一、概述 X射线荧光技术的定量分析数学方法早在五十年代就提出来了。六十年代随着半导体探测器的出现,多元素分析技术已经得到很大发展。利用数学方法对样品测量的结果进行基体效应的校正,这在室内用计算机处理是很容易实现的。但对野外使用的便携式仪器则比较困难。近年来,微型计算机技术的发展使X射线荧光技术在方法上得到完善,     

能量色散X射线荧光光谱分析大气颗粒中多种元素

采用基本参数法，利用较少的几个标样，建立能量色散X射线荧光光谱对大气颗粒物中多种元素的定量分析方法，在不破坏样品的情况下，可测定探测下限为xng/cm^2的大气颗粒物的无机元素，测量的RSD（n=10)为0.5%-18.1%，测定空气滤膜标准的结果与标准值符合较好。     

斯里兰卡曼泰遗址出土青花瓷的化学成分分析及产地初探

利用X射线荧光光谱、同步辐射X射线荧光光谱、中子活化、电感耦合等离子体原子发射光谱等多种技术手段分析了斯里兰卡曼泰遗址出土的7枚青花瓷残片的结构和成分。通过遗址出土部分青花瓷样品和中国各地瓷器样品的瓷胎元素含量聚类分析,初步判断其中的4枚青花瓷残片产自中国景德镇,而其余3枚样品的出处尚不能确定,需作进一步研究。     

原位微区X射线荧光光谱分析装置与技术研究进展

原位微区X射线荧光(Micro-XRF)光谱分析技术是X射线光谱学领域一重要分支。近年来X射线毛细管光学透镜聚焦技术不断进步,以实验室X光源为基础的原位微区X射线光谱分析装置与应用技术快速发展,已成功应用于多领域样品的原位、多维、动态和非破坏性微区分析。文章介绍了近年来X射线毛细管光学透镜技术发展和原位微区X射线光谱分析装置研制进展,对近年来micro-XRF光谱分析技术在大气气溶胶颗粒物分析与来源识别、考古样品产地和真伪鉴别、古气候古环境重建研究中沉积纹层样品元素分析,以及刑侦科学中指纹样品的鉴定等应用领域进行了系统介绍,阐述了micro-XRF光谱分析技术性能的影响因素(空间分辨率和强度增益)。micro-XRF光谱分析技术不仅可以获取样品表面的信息,还能够获取样品内部的信息,成为目前国际上一门迅速发展的竞争技术。我国在毛细管透镜制造技术与性能研究,以及micro-XRF应用领域取得了重要进展。由于X射线焦斑尺寸对能量的依赖性以及样品基质对X射线的吸收效应,在微区定量分析中易引入较大误差,利用X射线毛细管透镜获取更小光斑尺寸与高稳定性的X射线光束,提高micro-XRF分析技术的空间高分辨率性能和对基体效应进行校正实验将是今后一个重要的研究目标和分析研究难点。     

手持式X射线荧光光谱分析仪在斑岩铜矿快速勘查中的应用

现场X射线荧光光谱(XRF)测量因样品的不平度效应、不均匀效应和湿度效应等面临的技术难题,使得手持式XRF现场原位分析结果与实验室分析结果存在一定偏差.本文现场手持式X射线荧光光谱分析仪的测试时间、样品含量、测试距离、样品干湿度和样品粒度等测试条件对测试结果的影响进行了定量研究.结果表明:在最佳测试时间90s条件下,得...     

便携式X射线荧光光谱仪现场测定高含量钡地质样品中的钒

便携式X射线荧光光谱仪应用于野外现场样品的检测[1-2],具有成本低、检测速度快的优点.但由于地质样品的复杂性,测定时存在严重的干扰,有时会导致数据严重失实,使便携式X射线荧光光谱仪的野外应用受到挑战.如使用XL3t-500型便携式X射线荧光光谱仪测试重晶石矿物的过程中,大部分元素的测试数据与实验室内检测数据符合较好,但发现钒被大量检出,而实际上该类样品的钒含量相对较低,可能是样品中存在的其他高含量元素使钒的结果受到了干扰.本文应用便携式X射线荧光光谱仪现场快速测定高含量钡(＞0.x％)地质样品中的钒,讨论了样品中钡对钒测定的影响,并提出数学校正模型,经校正后的测试数据可作为半定量甚至是定量结果,大大减少送回实验室的样品数量,节约了大量成本及时间.     

X射线荧光技术及其在江西金山地质找矿上的应用效果

简介了应用HYX-1型X射线荧光仪及“金一号”平衡滤片对江西金山金矿的样品进行的室内含Au量分析。应用X荧光分析测量结果对该矿区矿体垂向上变化规律、含金的贫富分布变化进行分析,通过与化学分析、热发光方法分析的对照,说明了X射线荧光技术的实用意义。     

X射线荧光痕量分析中的背景问题

X射线荧光分析中最基本的测量是X荧光辐射的强度。在元素分析线角度处测得的强度并不都是样品中该元素的贡献,除元素分析线的强度(净强度)之外的计数统称为     

铅玻璃充填碧玺初探

利用常规宝石学测试、X射线荧光光谱仪（XRF）、激光诱导离解光谱仪（LIBS）、电子探针（EPMA）对近来在珠宝市场上的铅玻璃充填碧玺样品进行测试与分析,旨在探讨其鉴定特征。结果表明,该铅玻璃充填样品的充填特征不明显,与传统的有机物充填处理方法不同;X射线荧光光谱和激光诱导离解光谱的测试结果显示,该铅玻璃充填碧玺样品具有明显的Pb峰。铅玻璃充填碧玺样品中充填物的电子探针二次电子像及背散射电子像特征,可作为碧玺样品是否经过了铅玻璃充填的诊断性依据,其充填物的化学成分主要为Si和Pb,呈不规则斑块状分布于裂隙中。     

多种类型地质样品中主要和次要元素的X-射线荧光光谱测定

X射线荧光光谱法(XRF)是地质样品中主要,次要组分分析的有力手段。地质样品种类很多,来源不同,各元素含量范围变化大,为了充分发挥仪器的效能,提高方法的适应性,有必要制定一个能适应于多种类型样品分析的方法。     

能量色散X射线荧光分析的应用——内标法分析硅酸盐中Sr、Rb

波长色散X射线荧光光谱分析在国内一些较大的无机分析研究所和实验室比较常见亦较为成熟。而能量色散X射线荧光光谱分析(以下简称X荧光能谱分析)的应用在国内还不多见。有几个单位开展了以放射源作激发源的X荧光能谱分析,由于受放射源强度的限制,所以分析灵敏度低。我们利用中子活化分析用的美国SCORPIO—3000系统程序控制多道能谱仪和Si(Li)探测器,以及一台苏制YPC—50M型X光机并自制试样架,组成一台X荧光能谱仪(图1),开展X荧光能谱分析,实现了能谱仪多功能利用。     

计算机在区域化探分析方法中的应用

一、前言计算机、微型计算机应用于1:20万区域化探工作中可确保质量,缩短工程周期。下面重点介绍用等离子光量计和X射线荧光光谱仪从分析测试到利用微机整理、处理以及成图的过程,进而说明计算机在区域化探工作中的作用。在区域化探工作中等离子光量计和X射线荧光光谱仪应用于地质样品主量元素及痕量元     

X射线荧光光谱法测定碳酸盐岩样品中的主量元素

目前,国内外广泛使用X射线荧光光谱法来测定火成岩、沉积岩等地质样品的主微量元素.用熔融制片,使用X射线荧光光谱法分析地质样品具有快速、简便、成本低的优点,同时合理的测量方法还能得到准确的分析结果.     

粉末压片——X射线荧光光谱分析中区域地球化学样品制备和标准曲线建立的几点认识

本文针对粉末压片——X射线荧光光谱法在区域地球化学样品测试中样品制备和标准工作曲线建立两个方面容易出现的技术问题进行了讨论,分析了样片制备方法、样片厚度、表面状况以及试样均匀性与粒度效应对测试结果的影响,并对标准曲线建立中标准样品的选择原则、仪器工作条件的优化及科学合理进行曲线拟合等做了较为详细的介绍,提出了消除测量误差的方法与手段,对X射线荧光光谱分析人员有一定的参考价值。     

《岩矿测试》2004年(第23卷)总目次

研究报告与简报燃煤过程中氯氟烃的产生和释放李家熙 ,王军芝 ,饶竹 ,李红 ,李奇 ,罗松光 ,徐新 ,王迎红 (1)………………………………近红外反射光谱学在岩石矿物研究中的应用Ⅱ .快速测定地质样品中有机质龙梅 ,裴世桥 (6 )………………………………利用选择性特效树脂富集分离岩石样品中的锶钐和钕韦刚健 ,刘颖 ,涂湘林 ,梁细荣 ,李献华 (11)…………………………能量色散X射线荧光光谱法测定卤水中痕量溴铷砷樊兴涛 ,詹秀春 ,巩爱华 (15 )……………………………………………X射线荧光光谱法测定多目标地球化学调查样品中主次痕量组分…     

手持式X射线荧光光谱仪在富钴结壳资源勘查中的应用

便携式X射线荧光光谱仪具有快速、无损分析的特点,本文重点研究了手持式X射线荧光光谱仪在富钴结壳碎块和浅钻岩心野外现场原位分析中的应用能力。采用压片法制样,以富钴结壳国家标准物质(GBW 07337~GBW 07339)和多金属结核国家标准物质(GBW 07249、GBW 07295和GBW 07296)作为校准样品,建立了手持式X射线荧光光谱仪测定富钴结壳样品的校准曲线。方法经国家标准物质GBW 07339验证,元素Mn、Fe、Co、Ni和Cu的精密度(RSD)在0.3%~3.0%之间,满足富钴结壳样品现场分析的要求。在海上资源勘查现场,应用手持式X射线荧光光谱仪对富钴结壳碎块和浅钻岩心原样进行了现场原位分析。富钴结壳碎块原样烘干后直接测试分析数据与实验室压片制样XRF分析数据对比表明,Mn、Fe、Co、Ni和Cu元素的测定值一致性良好;浅钻岩心的原位分析数据与实验室人工分层分析数据对比表明,各层位Mn、Fe、Co、Ni和Cu元素直接测试数据与实验室压片制样XRF分析数据分布趋势基本一致。实际应用研究表明,手持式X射线荧光光谱仪适合于现场原位分析,满足野外富钴结壳资源快速评价的要求,同时原位分析能更真实地反映原始富钴结壳岩心不同层位中各元素的变化特征,为进一步研究富钴结壳成矿机制提供更丰富的数据资料。     

熔融制样-波长色散和能量色散X射线荧光光谱仪应用于硅酸盐类矿物及疑难样品分析

目前硅酸盐类样品中主量元素一般采用熔融制样X射线荧光光谱法（XRF）测定,不仅单元素测定结果不能超差,而且百分数加和也要满足要求。但对于矿化样品,由于微量元素较高,往往造成不能满足加和质量要求。充分利用波长色散（WD）和能量色散（ED）复合式X射线荧光光谱仪同时波谱、能谱测定的优势,可使分析人员快速掌握样品组成信息,对评估矿化样品数据质量具有重要意义。本文利用波长-能量色散X射线荧光光谱仪,可在测定主量元素的同时加入更多的微量元素进行测定,而分析时间不延长。主量元素采用波长色散定量,次量元素主要采用能量色散测定,在保证主量元素准确度的情况下,合理设置测量条件,延长能谱测量时间,实现在波长色散12min左右测定主量元素的同时,能够提供14个微量元素如Rb、Sr、Y、Zr、Ba、Cu、Zn的测定结果和10个线性范围较窄或含量较低元素如Co、Ge、Pr、Ta的参考结果,24个微量元素最大检出限为16.76μg/g。通过准确度考核,主量元素测定结果与认定值基本一致,高含量微量元素测定结果亦满足定量分析要求。该方法可使分析人员快速掌握样品组成信息,为提供更加准确、可靠的数据奠定基础,有效地解决矿化疑难样品主量元素测定问题。