X射线分析在岩矿工作中的应用

X射线是當高速度的電子流作用於物質上的時候而發生的。本質上它与可見光一样是電磁波的一種,不過其波長比起可見光來說是短得多,与晶格中原子之間的距離同為一數量級的大小,所以不是肉眼所可能见到的。它的最大的特點是具有穿透物質的本領,因此醫学家們首先用於生物機體的透視檢查。但很快就擴展到工業上用以對成品或金屬器材的檢查等方面。在結晶学上射綫晶體結構分析,早巳為人們所公認是研究晶體物質最有力的一種方法了。 X射綫是1895年物理學家倫琴所發現的。1910年俄國物理學家列别捷夫最先發表了關於利用晶體作為X射线衍射的主張。1912年為勞埃所證實。隨     

X射线荧光光谱集成分析系统

选用了兼容性能好的３８６微机,在ＤＯＳ操作系统和Ｗｉｎｄｏｗｓ３．１环境下,研究开发了Ｘ射线荧光光谱集成分析系统（ＸＲＦＩＡＳ）,全面更新了理学公司３０８０系列仪器的计算机硬件和软件。采用了当前最流行的多窗口,全屏幕友好界面,在西文ＤＯＳ操作系统下,显示汉字信息。有常规的（背景扣除,内标校正,谱重叠校正,基体校正）数据处理功能（多种校正模式）扩充了分析元素,内标元素、干扰元素的数量,新开发了共用背     

高铝岩矿样品的X射线荧光光谱分析

1.概述高铝岩矿样品的成分分析在地质科研、找矿勘探、建筑陶瓷、耐火材料和磨料磨具等工业部门具有重要的意义。目前多沿用传统的化学方法,速度慢,成本高。X射线荧光光谱分析快速、简便、低成本,近十年发展较快。而对高铝岩矿样品的分析却少见报道。刁桂年等(1983),杨玉华等(1987)文章中虽也涉及到了铝土矿的分析,但还不能满足像矾土这类高铝岩矿样品分析的需要。本法可分析Al_2O_3含量高达85％的高铝岩矿样品和铝含量较低     

X射线荧光光谱三十年

X射线荧光光谱分析在20世纪80年代初已是一种成熟的分析方法,是实验室、现场分析主、次量和痕量元素的首选方法之一,在无损分析和原位分析中具有不可替代的地位。文章评述了三十年来X射线荧光光谱分析的进展历程、波长色散X射线荧光光谱仪(WDXRF)、能量色散X射线荧光光谱仪(EDXRF)和现场与原位分析用X射线荧光光谱仪发展过程及显示的特色。介绍了在X射线的全反射和偏振性质基础上相继推出的偏振、微束、全反射等全新的X射线荧光光谱仪及其在众多领域的应用。回顾了基体校正发展历程和以Sherman方程为基础的基本参数法和理论影系数法在定量分析中的应用,并对学术界有关基体校正的物理意义的争论、Sherman方程的局限性以及如何提高基本参数法在常规定量分析和半定量分析结果的准确度的途径进行了探讨。总结了化学计量学与数据处理方法在XRF中的应用研究及进展,指出人工神经网络方法与基本参数法相结合的算法,对于改善基体校正的准确度和稳定性开创了一条新的途径。     

《岩矿测试》在国内外科技期刊中的地位

《岩矿测试》1982年创刊至今共出刊11卷43期。在众多的专家、读者、作者的关心和支持下,经历届编委、编辑和出版社同仁的努力工作,《岩矿测试》载文水平、印刷出版质量、经济和社会效益不断提高。 以1991年第10卷为例,全卷4期载文97篇,据不完全统计,原始论文(成果)77篇中(不包括正在办理评奖的论文)获部、省级(9篇)、市局级(12篇)和其他各级(8篇)奖励的共29篇,占原始论文的36％。全卷原始论文涉及课题中:国家自然科学基金8篇,国家教委科研基金(包括青年基金)4篇,部、省、局级行业基金16篇,国家攻关项目2篇。     

X射线衍射-X射线荧光光谱-电子探针等分析测试技术在玄武岩矿物鉴定中的应用

玄武岩的鉴定通常采用显微镜镜下判定,鉴定结果容易受到鉴定人员的专业水平和主观因素、切片方位的影响,光性特征有差异,再者颗粒细小的矿物还受到光学显微镜本身放大倍数的限制也很难准确鉴定。当前的鉴定方法已由传统的显微镜向现代分析仪器(X射线衍射仪、电子探针、X射线荧光光谱仪等)综合研究方向发展。本文采用X射线粉晶衍射(XRD)和显微镜镜下观测相结合的方法,对安徽女山玄武岩(未经蚀变)和团山玄武岩(经过蚀变)进行鉴定,并采用X射线荧光光谱仪(XRF)和电子探针对鉴定结果进行验证。结果表明:女山玄武岩用显微镜鉴定主要由基质(74%,斜长石44%+辉石30%)和斑晶(13%)组成,还含有少量金属矿物(8%)及较大颗粒石英捕掳晶(5%);其中,基质部分的斜长石经XRD分析可进一步确定为拉长石,辉石主要为普通辉石(单斜辉石),少量金属矿物为钛铁矿。团山玄武岩用显微镜鉴定主要由基质(75%,斜长石50%+辉石25%)和斑晶(9%)组成,还含有少量绿泥石充填的杏仁体;其中,基质部分的斜长石经XRD分析可进一步确定为微斜长石,蚀变矿物为蒙脱石而非薄片鉴定中的绿泥石。综合XRD和相关技术鉴定结果可确定,女山玄武岩主要矿物为拉长石、辉石、钛铁矿;团山玄武岩主要矿物为微斜长石、辉石、蒙脱石。研究显示,单独的显微鉴定技术在含蚀变矿物的玄武岩鉴定中会产生较大偏差,而结合XRD等多种分析测定技术可以快速鉴定出矿物种类,尤其对颗粒较小的矿物鉴定的准确度更高。     

同步辐射X射线荧光光谱及应用

由于常规X射线源(如:X-光管;放射性同位素)的强度低,散射背景高,使得X射线荧光光谱(XRF)法的检测限不如其他一些方法低。借助于化学预富集(如:共沉淀,萃取,离子交换…),检测限虽下降1～2个数量级,却牺牲了其他方面的优点。     

X射线荧光光谱法测试重晶石中的多元素

采用玻璃熔片法制样,建立了重晶石中多元素X射线荧光光谱分析方法.准确称取待测样品0.5000 g,X射线荧光专用熔剂5.000 g;二者混合后,通过高频熔样机在1150℃进行熔片处理8 min;将最终得到的样片放入干燥器中冷却至室温,然后准确称取玻璃片质量;上机测试,所得到的数据为该元素在玻璃片中的含量;通过换算最终得到实际样品中的该元素含量.使用理论α系数法和经验系数法相结合来回归校正共存元素间的吸收增强效应.本方法对于重晶石中各元素的测试相对标准偏差处于0.2%~4.7%之间,方法检出限在3.3×10-6~170.6×10-6之间.测试数据通过与国家标准物质比对,结果合理.     

手持式X射线荧光光谱多点测试技术在地质岩心和岩石标本预研究中的应用

目前国内外比较先进的岩心无损测试,主要采用高光谱技术及XRF扫描技术,这两种扫描范围较大的快速分析方法,均存在着精度要求越高测试时间越长、完整岩心数据精度较高、不完整岩心及岩石标本数据精度较差的问题,难以满足馆藏地质标本取样范围小、快速、准确的要求。本文应用手持式X射线荧光光谱分析技术,以多点测试加权平均的计算方法,改善复杂的样品岩性、矿物种类等因素的影响,提高了分析结果的准确性。结果表明:本方法与定量分析结果比较,具有指示半定量范围作用的测试结果超过82%,加权平均值比算术平均值的指示效果提高了近22%,多点测试的准确度得到了明显提高。并且,该方法具有测试元素较多、粗糙标本经微处理后便可随时测试等优点,较好地解决了馆藏地质标本取样的应用问题。通过这次预研究,新发现了部分铅锌矿标本银元素含量较高、Zk0901钻孔(黄沙坪矿区)168.46~171.24 m的Mo元素平均值为0.3%等具有实际意义的研究数据,为馆藏地质标本再利用提供了重要的找矿信息。     

X射线荧光光谱快速分析铝土矿的方法研究

使用日本理学3070型X射线荧光光谱仪,采用粉末直接压片和经验系数校正基体效应的方法,在矿山实验室实现了铝土矿样品中Al     

粉末压样法X射线荧光光谱硅酸盐分析

拟定了粉末样品压饼Ｘ射线荧光光谱进行硅酸盐分析的方法，并考查了粒度的影响，将样品研磨至φ０．０６ｍｍ，可满足试验的要求。经地质标样分析及实际应用验证，方法可行。     

X射线荧光分析在岩屑录井中的应用

通过典型岩石化学的理论计算分析了部分沉积岩的成分特征和差别,为X射线荧光(XRF)录井分析鉴别岩性奠定了理论基础.地层在岩性组合与厚度上的差别是XRF录井技术鉴定地层的基本前提.根据沉积岩薄层岩层的厚度,提出以分米作为XRF录井取样的最低分辨率的标准.并以实例论述了在石油钻井的随钻过程中,采用XRF录井新技术进行岩性分析和地层对比的步骤;评价和展望了XRF录井新技术的特点与应用远景;指出建立不同岩性主要元素理论数据库和地区性地层岩性变化元素理论剖面的重要性;提出进一步改进XRF录井技术的方向.     

第九届全国X射线光谱学术报告会暨《岩矿测试》作者培训班通知

为促进我国X射线光谱分析学术交流,展示国内在该领域研究和应用的最新进展,推动现代分析测试技术的发展。中国地质学会岩矿测试技术专业委员会定于2011年11月28—12月2日在广西南宁市举办第九届全国X射线光谱学术报告会。会议由中国地质学会、中国硅酸盐学会和中国光谱学会主办,岩矿测试技术专业委员会组织承办。     

X射线荧光光谱-电子探针在中酸性火山岩鉴定中的应用

中酸性火山岩多具斑状结构,基质可见微晶状结构、隐晶状结构、玻璃质结构等,由于基质矿物颗粒多细小,常用的偏光显微镜受放大倍数的限制,很难准确鉴定矿物种属及含量,这类岩石仅依靠偏光显微镜分类命名会存在误差。本文采用X射线荧光光谱(XRF)、电子探针(EMPA)和偏光显微镜下观察相结合的方法,对中酸性火山岩进行鉴定。结果表明:对于基质呈隐晶质、显微晶质的中酸性火山岩,基质特征相似,偏光显微镜下无法确定长石、石英的含量,因此无法对岩石准确命名;再通过XRF进行主量元素分析,并对分析结果进行标准矿物QAPF双三角图解分类、TAS图解分类及李氏火山岩定量分类,对比结果显示三种分类命名方法存在差异;通过电子探针对矿物进行校验显示,QAPF及李氏火山岩定量分类图解与显微镜下鉴定相符,TAS图解与其他分析结果存在一定偏差。因此,对于中酸性火山岩准确命名,应采用多种分析方法相结合的方式,避免测试单一引起的误差。     

X射线荧光光谱分析技术在过程分析中的应用

X射线荧光光谱(XRF)分析作为过程分析化学中一门富有成效的分析技术,在现场分析、流程控制中发挥了积极的作用。文章评述了XRF分析在冶金、地质、采矿、选矿等方面的应用概况以及在国内此领域的发展。     

X射线荧光光谱法在耐火材料成分分析中的应用

采用熔融法制样,用X射线荧光光谱法对耐火材料中的Na2O、MgO、Al2O3、SiO2、K2O、CaO、TiO2、Cr2O3、MnO、Fe2O3、ZrO2、HfO2组分进行测定,使用康普顿散射线作内标和经验系数法校正基体效应,经标准物质检验与标准值吻合,大部分组分的RSD<5%(n=10)。     

X射线荧光光谱分析在我国铁矿石分析中的应用

系统介绍了20世纪90年代以来X射线荧光光谱分析（XRF）在我国铁矿石分析中的应用,包括粉末压片法和熔片法两种最基本的分析手段,主要内容集中在熔片—波长色散X射线荧光光谱分析法在我国铁矿石分析方面的测试技术,重点介绍了熔剂的类型、配比、熔片方法、熔融温度以及钴内标的使用,同时介绍了基体效应校正、谱线重叠校正等方面的内容。