对X射线荧光光谱分析检出限公式的认识

对X射线荧光光谱分析检出限问题进行了探讨,通过实验指出行标DZ/T 130-2006有关检出限计算公式的不足在于对测量时间的过分依赖,使检出限这一重要参数失去实际意义,需要重新科学定义。     

X射线荧光光谱-X射线粉晶衍射-偏光显微镜分析12种产地铜精矿矿物学特征

我国是世界上最大的铜精矿进口国,研究不同产地铜精矿的矿物学特征,能支撑铜精矿原产地分析及相关固体废物属性鉴定.本文研究对象为来自8个国家12个矿区的进口铜精矿样品,采用X射线荧光光谱(XRF)、X射线粉晶衍射(XRD)以及偏光显微镜进行综合分析,探寻这些矿区铜精矿的元素组成、矿物组合特征,探讨不同成因类型铜精矿的矿物学...     

X射线荧光光谱分析检出限问题的探讨与建议

对有关X射线荧光光谱分析低含量元素的检出限问题进行了多方面的探讨。从检出限的定义及其定义下的相对标准偏差到各种不同测量、校准与校正方法的检出限及其相对应的相对标准偏差进行计算。提出了以定义检出限的相对标准偏差为基准,对各种测量方法计算出的检出限进行重新界定,从而确认一个具有可比性的、精度一致的检出限。同时还讨论了仪器与X光管固有杂质元素谱线对该元素检出限的影响;测量仪器、测量条件与测量时间对检出限的影响;不同岩性试样对检出限的影响;检出限与测定限等问题。     

X射线荧光光谱分析中重迭谱的解析方法

本文介绍了X射线荧光光谱领域内谱图解析的几种主要方法。在阐述曲线拟合解谱基本原理的基础上,对其中特殊的基于泊松分尔(Poisson Distribution)的解谱方法的原理和特点进行了较详尽的描述。重点讨论了网格法最优化方法和统计试验最优化方法。这二种求全局极值的最优化方法。     

波长色散X射线荧光光谱法测定铜精矿中铜铅锌硫镁砷

采用偏硼酸锂和四硼酸锂混合熔剂熔融法制样,波长色散X射线荧光光谱法测定铜精矿中铜、铅、锌、硫、镁、砷,考察了熔剂、玻璃化试剂和预氧化条件对制样的影响。采用理论α系数和经验系数相结合的方法校正元素间的效应。测定铜精矿试样各组分的相对标准偏差(RSD,n=12)均小于3%,结果与化学分析法吻合。     

铸造铝合金样品的X射线荧光光谱分析

以西南铝业公司研制的E223系列ZL205A铝合金作为光谱标样，用干扰曲线法结合理论α系数对谱线重叠干扰及基体效应进行校正，建立了X射线荧光光谱测定铸造铝合金ZL205A中除B外的Mg、Si、Ti、V、Mn、Fe、Cu、Zn、Zr和Cd 10种元素的方法。该方法用于实际样品分析，结果与化学法、原子吸收法相吻合。10次制样测量，各元素RSD在0．42％～2．23％。     

辉钼矿中钼,硫,铜,钛,硅等元素的X—射线荧光分析

本文继续研究了用XRFA法测定辉钼矿中钼、硫、铁、钛、硅等元素的分析方法。通过用粉末压片法,薄样法与基本参数法相结合,克服了样品粒度和基体效应,有效地控制了硫化物变异性的影响。与已研究的XRFA测定铼的方法相配合,形成辉铜矿中主、次与痕量元素的测定方法。该方法分析结果与化学分析,火花源质谱分析的结果相符。     

X射线荧光光谱分析技术在过程分析中的应用

X射线荧光光谱(XRF)分析作为过程分析化学中一门富有成效的分析技术,在现场分析、流程控制中发挥了积极的作用。文章评述了XRF分析在冶金、地质、采矿、选矿等方面的应用概况以及在国内此领域的发展。     

化学计量学与X射线荧光光谱分析

简要回顾了Ｘ＿射线荧光分析中数学校正模型的发展进程;阐述了基体校正方程与化学计量学之间的关系;介绍了偏最小二乘回归、神经网络、专家系统和模式识别等近期研究成果;以及轻元素测定、微束和薄层分析等数据处理技术。并对化学计量学方法在Ｘ＿射线荧光分析中的应用与发展前景作了评述     

硅灰石的X射线荧光光谱分析

将X射线荧光光谱法应用于硅灰石中SiO2、CaO、Al2O3、Fe2O3、P2O5、MgO、K2O、TiO2、MnO的同时快速测定。试样和混合熔剂的质量比为1：10,在此稀释比时试样在熔剂中的分散度（浓度）适当,可适应各个组分的测定。熔融法分解试样有效地消除了试样的粒度效应和矿物效应。采用理论α系数校正法克服了基体吸收及增强效应。用国家标准物质和样品验证了方法的精密度和准确度,其结果与化学分析值相符。     

X射线荧光光谱法测定矿物中的铌钽钍锆

采用人工合成标准样品,粉末压片制样,用ZSX Primus II型X射线荧光光谱仪直接测定矿物中稀有元素Nb、Ta、Th、Zr的质量分数。使用干扰元素数校正谱线重迭干扰,内标和经验系数法校正元素间的吸收-增强效应。方法用于实际样品测定,结果与化学法相符,10次测定的相对标准偏差(RSD)分别为:Nb2O5为1.19%,Ta2O5为7.31%,ThO2为4.23%,ZrO2为0.35%。     

公共背景法在X射线荧光光谱分析化探样品中的应用

在X射线荧光光谱分析化探样品时 ,对Co、Ni、Cu、Zn、Rb、Sr、Y、Zr、Nb、Pb和Th选择一个公共背景点 ( 2 9.60°) ,1 1种元素的检出限≤ 3× 1 0 - 6,能满足化探分析的要求。对国家一级水系沉积物标准物质进行测定 ,结果与标准值相符 ,8次测定的相对标准偏差RSD <7%。