| 高科技电子工业厂房微振动实测分析 |
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| 引用本文： | 高广运, 孟园, 陈娟. 2018: 高科技电子工业厂房微振动实测分析. 工程地质学报, 26(s1): 295-300. DOI: 10.13544/j.cnki.jeg.2018102 |
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| 作者姓名： | 高广运 孟园 陈娟 |
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| 作者单位： | 1.同济大学地下建筑与工程系 上海 200092;;2.同济大学岩土及地下工程教育部重点实验室 上海 200092 |
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| 基金项目： | 高铁运行引起的三相路基振动和屏障隔振研究（41772288）资助 |
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| 摘 要： | 本文采用高灵敏度加速度传感器,对合肥某显示驱动芯片工业生产厂区场地进行24h环境振动测试,得到了各测点加速度时程数据。采用国际上通用的1/3倍频程分析法对测试数据进行处理,分析了不同时段各测点的振动变化规律,并研究了路面交通荷载引起的环境振动随距离的衰减特性。结果表明：场地微振动值在24 h内差异较小,白天振动峰值略高于夜间;测点水平、竖向振动幅值范围界于10-5gal~10-2gal之间;低频段内（2~8Hz）,振动加速度最大值约为0.015 gal;中高频段内（8~250Hz）,测点水平向速度最大值为0.6636m s-1,竖向速度最大值为0.5013m s-1,测试结果均满足VC-C标准要求;路面交通荷载引起的地面环境振动随距离在15~60Hz频段内衰减明显,这表明场地土层对行车荷载引起的振动的衰减起到一定作用。
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| 关 键 词： | 高科技电子工业厂房 微振动测试 1/3倍频程 |
| 收稿时间： | 2018-05-25 |
| 修稿时间： | 2018-08-03 |
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