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| X光摄影测量解析法 | |
| 引用本文： | S.A.Veress,F.G.Lippert,T.Takamoto,吴土金.X光摄影测量解析法[J].测绘信息与工程,1980(3). |
| 作者姓名： | S.A.Veress F.G.Lippert T.Takamoto 吴土金 |
| 摘 要： | X 光影象的量测性能已经评论过了.对最重要的系统误差及其影响作了讨论和评价.检定方法已建立起来,也为检定用的控制场作了描述及图解说明.检定所用的数学模型是共线方程式.由于焦点的有限大小,这种数学模型实质上是用近似法求得的.叙述了实验室方法,其目的是为了将 X 光摄影测量解析法所能达到的精度与坐标仪和改装经纬仪直接量测的数据相比较,得到距离残余误差为±0.4mm,旋角为±0.09度.基于这些结果,一种常规操作方法已用于生物——医学方面. |
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