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| X射线荧光测井井液的影响与校正 | |
| 引用本文： | 葛良全,周四春,谢庭周,章晔,程业勋,侯胜利.X射线荧光测井井液的影响与校正[J].物探化探计算技术,1996(S5). |
| 作者姓名： | 葛良全 周四春 谢庭周 章晔 程业勋 侯胜利 |
| 作者单位： | 成都理工学院(葛良全，周四春，谢庭周)，中国地质大学(章晔，程业勋，侯胜利) |
| 摘 要： | X射线荧光测井中 ,井液位于井下探管与井壁之间 ,它的影响不但表现在对特征X射线的吸收 ,而且表现在对源初级射线和特征 X射线的散射。井液的校正采用硬件与软件相结合的方法 ,在硬件上 ,使含有探测器的部分制成单独的短臂 ,有效地保证了探测窗与井壁的良好接触 ;在软件上 ,提出的双散射峰法和散射峰 -逃逸峰法 ,能够校正 0 - 10 mm厚的井液对 X射线荧光测井结果的影响 |
| 关 键 词： | X射线荧光测井 井液的影响 |
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