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| X射线荧光分析中的准绝对测量方法 | |
| 引用本文： | 曹利国,丁益民.X射线荧光分析中的准绝对测量方法[J].物探化探计算技术,1996(S5). |
| 作者姓名： | 曹利国 丁益民 |
| 作者单位： | 成都理工学院 |
| 基金项目： | 国家重点攻关项目 (新疆 30 5项目 )下属二级课题 ( 75 -5 6 -0 3-1 4 )的部份研究成果 |
| 摘 要： | 基体效应校正是 X射线荧光分析方法中关键的一环 ,在很大程度上决定了测量数据的准确度。本文提出了一种新的基体效应校正方法—准绝对测量方法。它兼有相对测量和绝对测量方法的特点 ,并具有较广泛的适用性 |
| 关 键 词： | X射线荧光方法 基体效应 准绝对测量 综合灵敏度因子 多元素分析 |
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