MPV-Ⅰ型显微光度计测定金属矿物的几个问题 |
| |
引用本文: | 郭天福.MPV-Ⅰ型显微光度计测定金属矿物的几个问题[J].地质与勘探,1984(2). |
| |
作者姓名: | 郭天福 |
| |
作者单位: | 中南冶金地质研究所 |
| |
摘 要: | 本文主要就用MP V-1型显微光度计,对非均质金属矿物反射率的测定、反射率色散曲线的解释及颜色指数的应用问题,谈谈我们的体会. 反射率的测试按国际矿相学委员会(COM)规定,金属矿物需要测出470、546、589及650nm波长的反射率值.均质性矿物反射率的测定比较简单,在此从略.非均质性矿物反射率测定有一轴晶与二轴晶之分,现分述如下:
|
本文献已被 CNKI 等数据库收录! |
| 点击此处可从《地质与勘探》浏览原始摘要信息 |
| 点击此处可从《地质与勘探》下载免费的PDF全文 |
|