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| DC/AES分析数据的PC—1500微机处理系统 | |
| 引用本文： | 杨捷.DC/AES分析数据的PC—1500微机处理系统[J].矿产与地质,1989(4). |
| 作者姓名： | 杨捷 |
| 作者单位： | 中国有色金属工业总公司矿产地质研究院 |
| 摘 要： | 我院自1980年引进美国的J—A 750Ⅱ型光量计投产以来,用直流电弧的方法分析了近30万件地质和化探样品,300多万个分析数据。用直读光谱直流电弧法(DC AES)分析样品,由于分析样品种类繁多、批量大,分析仪器连续工作时间长和仪器操作人员更换频繁以及实验条件的某些变化,如温度、湿度、电压等,就不可避免地引起仪器的慢性漂移,反映在工作曲线的改变。改变严重的会导致同一批样品前后不能衔接。为解决这一问题,我们在 |
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