化探模式样品中微痕量元素分析方法的研究——光电直读光谱法 |
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引用本文: | 蒋惠钟,李克栋,杨捷,庄丽亨.化探模式样品中微痕量元素分析方法的研究——光电直读光谱法[J].矿产与地质,1987(2). |
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作者姓名: | 蒋惠钟 李克栋 杨捷 庄丽亨 |
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作者单位: | 中国有色金属工业总公司矿产地质研究院
(蒋惠钟,李克栋,杨捷),中国有色金属工业总公司矿产地质研究院(庄丽亨) |
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摘 要: | 本文针对地化模式样品的特点,进行了大量的探索性试验,拟定了以纯碳粉为缓冲剂,用Pd、Yb、LVT作内标,定量地分析了地化模式样品中的Cu、Pb、Zn、Ag、Bi、Co、Ni、V、Mn、Ga、In、Cd、B、Be、Cr、Sr、Ba等十七个元素。 本方法可以分析硅酸岩、中性岩(指CaO、SiO_2含量在硅酸岩和灰岩之间的样品)、灰岩及常见的几种有色金属矿石样品,它对各种岩石、矿石、矿物样品的适应范围很广,分析精度比较高,分析误差达到部颁的要求,分析合格率均在85%以上(多在95%以上);分析速度快,每天可分析400件矿样,已做到每月分析扫面样8.000件或模式样品4000件。 该法经过2年的生产考验,现已分析化探扫面样,化探模式样共10万件,分析质量可靠。
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