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| 用比值法指标化X光粉晶衍射低级晶系d(A)值 | |
| 引用本文： | 郭宗山.用比值法指标化X光粉晶衍射低级晶系d(A)值[J].岩石矿物学杂志,1983,2(2):104-117. |
| 作者姓名： | 郭宗山 |
| 作者单位： | 中国地质科学院矿床地质研究所 |
| 摘 要： | 一、前言自从德拜(Debye),谢尔(Scherrer)于1916年首先发明粉晶照相以来,一直被广泛应用于科学研究、生产实践,对于矿物研究与鉴定起了极其重要的作用。粉晶照相法虽有其局限性,如:线条的重合,低级晶系图谱复杂等,但却有其优点,如:操作简单,强度可靠,不受单晶的限制等,则是别的方法 |
TO INDEX X-RAY POWDER DIFFRAETION LINES OF LOWER SYMMETRICAL SYSTEMS (ORTHORHOMBIC.MONOCLINIC) BY MEANS OF THE RATIO METHOD |
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