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| 偏、反光显微镜上必须配备的新附件—MM-1型显微刻样器 | |
| 引用本文： | 周剑雄,方业龙.偏、反光显微镜上必须配备的新附件—MM-1型显微刻样器[J].岩矿测试,1983(2):124-124. |
| 作者姓名： | 周剑雄 方业龙 |
| 作者单位： | 中国地质科学院矿床地质研究所 (周剑雄)，中国地质科学院矿床地质研究所(方业龙) |
| 摘 要： | MM-1型显微刻样器是国内首次试制的新产品,是偏反光显微镜上的一种新附件。 该刻样器主要用于在显微镜下对矿物岩石光薄片表面刻划标记,以指示所需的目的物,解决在电子探针、扫描电镜、离子探针等微区分析时找样难的问题,节省送样和分析人员的工作时间,增加有效机时。同时,可以提高找样的正确率,减少返工,避免仪器和样品的污染,提高定量分析精度。克服了过去钢笔画圈法、硬度仪压痕法的许多缺点。由此可见,刻样器本身虽然只值几十元,但它所提供的非经济效益和经济效益却远远超过此数。如按一台电子探针每个工作日可节省一个机时来计算,一 |
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