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| 在厚靶分析中外标法的表面形状校正 | |
| 引用本文： | 梁宝鎏,孙大泽.在厚靶分析中外标法的表面形状校正[J].岩矿测试,2003,22(1):10-14. |
| 作者姓名： | 梁宝鎏 孙大泽 |
| 作者单位： | 1. 香港城市大学,香港 2. 香港城市大学,香港天津市技术物理研究所,天津,300192 |
| 基金项目： | 香港城市大学Strategic研究基金(7000867) |
| 摘 要： | 在厚靶的非破坏性x射线荧光分析中，以钇做外标元素，研究了不同样品形状及与源、探测器距离不同时，引起接收到元素荧光强度差异的校正方法。给出了对不同形状瓷片中元素特征峰计数校正前后的比较。探讨了此种方法带入的测量误差。 |
| 关 键 词： | 厚靶分析 外标法 荧光强度 X射线荧光分析 钇 外标元素 探测器 |
| 文章编号： | 0254-5357(2003)01-0010-05 |
| 修稿时间： | 2002年9月25日 |
Surface Shape Correction in Thick Sample Measurement Using an Outer Mark Membrane |
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| Abstract: | |
| Keywords: | X-ray fluorescence thick target outer mark membrane characteristic peak correction coefficient |
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