742树脂粉静态吸附X-射线荧光光谱法测定矿石及选冶样品中的铀

为寻找有效且简单的克服基体效应的方法,我们研究了树脂吸附铀的行为:742阴离子树脂具有孔径大,吸附洗脱快等优点,本文择其吸附快之长处,对少量粉末状742树脂(280目以上)吸附铀的可能性进行了探索试验,富集分离效果良好。最终拟定在硫酸介质中以742阴离子树脂静态吸附分离铀,X-射线测量的方法,操作简单易行,方法灵敏度高、稳定。适应于地质、选冶样品中0.00X～X％铀的测定。0.138％的样品测定15次,计算其标准偏差为0.0027,变动系数为1.98％。