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| 合成偏移--一种新的倾角测井解释方法 | |
| 引用本文： | 合成偏移.合成偏移--一种新的倾角测井解释方法[J].物探与化探,2000,24(1):16-68. |
| 作者姓名： | 合成偏移 |
| 作者单位： | |
| 摘 要： | 合成偏移（ＳＹＮＤＥＶ）是由井孔的倾斜方位角和井斜倾角来计算的，其算法很简单，大多应用正切函数方法来计算井斜。它用一种简单的办法来将ＳＹＮＤＥＶ设想成总是与层面垂直的井孔。这种设想使合成井孔总是与层面法线一致。这是在作图和计算过程中代表倾角的一种方法。作成的ＳＹＮＤＥＶ图包括水平位移图、平面图、剖面图、总方位角和方位角差图，是处理井斜资料所作出的图件。把这些图件组合成较大的相关分析图后，可以从图中识别出隐含的地质特征，如小断层、不整合面以及层序边界等，而这些特征在常规的倾角矢量图或累积倾角图上是… |
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