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| 滤纸薄样片—X射线荧光光谱法测定钨和锡 | |
| 引用本文： | 荆照政, 张博仪. 滤纸薄样片—X射线荧光光谱法测定钨和锡[J]. 岩矿测试, 1990, (4): 272-273. |
| 作者姓名： | 荆照政 张博仪 |
| 作者单位： | 湖南省矿产测试利用研究所 长沙410007(荆照政，张博仪)，湖南省矿产测试利用研究所 长沙410007(刘雪珍) |
| 摘 要： | 本文用蜡环成形滤纸定量吸附由微量进样器分取的50μl试液,制成薄样进行X射线荧光光谱分析,实现了对样品中高含量WO_3、SnO_2的定量测定。被测组份的荧光强度与浓度在0—500μg/50μl范围内有良好线性关系。方法操作简单、制样速度快、成本低、稳定性好。 |
| 关 键 词： | 滤纸 X射线 荧光光谱法 钨 |
Determination of W and Sn by Paper Substrate-XRFA |
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| Determination of W and Sn by Paper Substrate-XRFA[J]. Rock and Mineral Analysis, 1990, (4): 272-273. | |
| Authors: | Jing Zhaozheng Zhang Boyi Liu Xuezhen |
| Abstract: | |
| Keywords: | XRF SnO_2 and WO_3 determination wax circle technique |
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