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| 直线拟合边缘检测法在光电自准直仪中的应用 | |
| 作者姓名： | 杨博雄 胡新和 傅辉清 陈志高 欧同庚 刘海波 郑勇 |
| 作者单位： | 中国地震局地震研究所,武汉,430071;地壳运动与地球观测实验室,武汉,430071;湖北咸宁职业技术学院,咸宁,437100 |
| 摘 要： | CCD的分辨率是影响新型光电自准直仪测量精度的关键因素,而边缘检测法是CCD位移测量的主要方法。对数字图像处理中直线拟合边缘检测法进行了详细介绍,并将其应用于高精度一维光电自准直仪的研制。 |
| 关 键 词： | CCD细分 亚像素定位 边缘检测 直线拟合 光电自准直仪 |
| 文章编号： | 1671-5942(2005)01-0127-04 |
| 修稿时间： | 2004-06-07 |
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