摘 要: | 理论研究表明:(1)瞬变电磁(TEM)测深能探测在一个扩散深度复盖层下面的隐伏不均匀体;(2)测量感应电压的常规近区TEM测深,其探测深度与场源量(I·A)和大地电阻率ρ(1/σ)的1/5次幂成正比,与噪声水平(ηv)的1/5次幂成反比。根据上述结论表达式,计算了LC型微机电法勘探系统(以下简称为LCPS)的16个采样时间的探测深度(ρ_效变化),归纳了LCPS的最小探测深度随ρ_效的变化情况;计算了正方形回线大小不同,发射电流不同、ρ_效不同以及ηv不同的最大探测深度,具体分析了影响最大探测深度的因素,从而对LCPS的探测能力进行了探讨,并通过实例计算说明。
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