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测定低牌号斜长石有序度的一种新的X射线法
引用本文:
С·С·Кумеев ,杨光明.测定低牌号斜长石有序度的一种新的X射线法[J].地质科技情报,1983(4).
作者姓名:
С·С·Кумеев
杨光明
摘 要:
在矿物学实践中,人们应用许多有效的方法来鉴定斜长石的结构状态,诸如根据某些衍射角度的相关特点,或是根据在110]和110]方向的格子周期(Kroll,1973,1978)来测定斜长石的结构状态。
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